工業(ye)CT是應用於(yu)工業中的(de)核(he)成(cheng)像(xiang)技術。其(qi)基(ji)本原(yuan)理(li)是(shi)依(yi)據(ju)輻(fu)射在被(bei)檢(jian)測(ce)物體(ti)中的(de)減(jian)弱(ruo)和吸(xi)收特(te)性(xing)。同(tong)物(wu)質對輻(fu)射的吸(xi)收本(ben)領(ling)與(yu)物質(zhi)性(xing)質(zhi)有(you)關。所以，利(li)用放(fang)射性(xing)核(he)素或(huo)其(qi)他(ta)輻(fu)射源發射出的(de)、具(ju)有(you)壹定能(neng)量(liang)和強(qiang)度(du)的X射(she)線或(huo)γ射線(xian)，在(zai)被檢(jian)測(ce)物體(ti)中的(de)衰(shuai)減規律及(ji)分(fen)布情況(kuang)，就(jiu)有可能(neng)由探(tan)測(ce)器(qi)陳(chen)列(lie)獲得(de)物(wu)體(ti)內部(bu)的詳(xiang)細(xi)信(xin)息(xi)，zui後用計算機(ji)信(xin)息(xi)處理(li)和圖(tu)像(xiang)重(zhong)建(jian)技術，以圖(tu)像形(xing)式顯示(shi)出來。工(gong)業CT采(cai)用先(xian)進(jin)的高(gao)頻恒壓(ya)X射線源、數字(zi)成(cheng)像(xiang)探(tan)測(ce)器(qi)以及(ji)高(gao)精(jing)度(du)機(ji)械檢(jian)測(ce)平(ping)臺(tai)。不(bu)僅再現(xian)了(le)被檢(jian)測(ce)工件(jian)的(de)CT斷層(ceng)及三(san)維(wei)圖像，同(tong)時(shi)擁有二(er)維(wei)實時(shi)成(cheng)像(xiang)...

無(wu)損探傷機(ji)是利(li)用射(she)線的穿透(tou)性(xing)和直(zhi)線(xian)性(xing)來探(tan)傷的方(fang)法。這些射線(xian)雖(sui)然(ran)不(bu)會(hui)像(xiang)可見光(guang)那(na)樣(yang)憑肉(rou)眼就(jiu)能(neng)直接察知(zhi)，但(dan)它(ta)可使(shi)照相底(di)片感光(guang)，也(ye)可用特(te)殊(shu)的接收器(qi)來接收。常用於(yu)探傷的射線(xian)有x光(guang)和同(tong)位素發(fa)出的(de)γ射(she)線，分(fen)別稱為x光探傷和γ射(she)線(xian)探傷。當(dang)這些射線(xian)穿(chuan)過（照射）物(wu)質時(shi)，該(gai)物(wu)質(zhi)的(de)密度(du)越(yue)大(da)，射(she)線強(qiang)度(du)減弱(ruo)得越(yue)多，即射線(xian)能(neng)穿透(tou)過該(gai)物(wu)質(zhi)的(de)強(qiang)度(du)就(jiu)越(yue)小。此(ci)時(shi)，若(ruo)用照相底(di)片接收，則底(di)片的感(gan)光(guang)量(liang)就(jiu)小；若(ruo)用儀(yi)器(qi)來接收，獲得(de)的(de)信(xin)號(hao)就(jiu)弱(ruo)。因(yin)此，無(wu)損探傷機(ji)用射(she)線來照射待(dai)探傷的零(ling)部(bu)件(jian)時(shi)，若(ruo)其(qi)內(nei)部(bu)有氣孔、夾渣等缺(que)陷(xian)，射(she)線穿過...

X射(she)線(xian)晶(jing)體(ti)分(fen)析儀(yi)是(shi)研(yan)究物(wu)質(zhi)內部(bu)微觀結構(gou)的(de)壹(yi)種大(da)型(xing)分(fen)析儀(yi)器(qi)，主(zhu)要應用於(yu)單晶(jing)定(ding)向(xiang)、檢(jian)驗缺(que)陷(xian)、測(ce)定點(dian)陣參(can)數、測(ce)定殘(can)余(yu)應力(li)、研究板材、棒(bang)材的(de)結構(gou)，研(yan)究未(wei)知(zhi)物(wu)質的結構(gou)和單(dan)晶(jing)位錯(cuo)等(deng)。X射(she)線晶(jing)體(ti)分(fen)析儀(yi)主(zhu)要特(te)點(dian)：1.冷(leng)卻裝(zhuang)置(zhi)：自(zi)帶(dai)制冷(leng)系(xi)統，無(wu)需(xu)外接水(shui)循(xun)環，並自動控(kong)制水(shui)溫(wen)及顯示(shi)X光管溫度(du)。2.外射線(xian)計量(liang)不(bu)大(da)於(yu)2.5μSv/h3.X光管：額(e)定功(gong)率(lv)2KW(銅(tong)靶(ba))4.定(ding)時(shi)：單(dan)片機(ji)自動(dong)定(ding)時(shi)，定(ding)時(shi)時(shi)間(jian)任意(yi)選擇。X射(she)線(xian)晶(jing)體(ti)分(fen)析儀(yi)使(shi)用條(tiao)件(jian)海(hai)拔不(bu)超過壹(yi)千(qian)米(mi)，環境+10℃～40℃。海拔超過壹(yi)千(qian)米(mi)時(shi)，環境溫度(du)〉4...

壹、設(she)備(bei)完(wan)好(hao)要(yao)求1、技術參(can)數符(fu)合要求。2、控制箱(xiang)運用靈(ling)活，無(wu)失靈現象。3、各(ge)參(can)數、狀(zhuang)態(tai)指(zhi)示(shi)穩定、準(zhun)確(que)。4、計時(shi)準(zhun)確(que)。5、控(kong)制箱(xiang)工作噪(zao)音應附合(he)要(yao)求。6、發生(sheng)器(qi)工(gong)作時(shi)，工(gong)作電(dian)壓(ya)、電(dian)流(liu)穩定性(xing)好(hao)。7、外觀檢(jian)查(zha)清潔(jie)衛生(sheng)，無(wu)明顯損傷。二(er)、技術安(an)全(quan)操(cao)作規程1、為保護射線(xian)管使(shi)用壽(shou)命，工作前(qian)檢(jian)查(zha)該(gai)機(ji)是否(fou)穩定，機(ji)頭(tou)風(feng)扇是否(fou)正(zheng)常運轉和有(you)無(wu)其(qi)它(ta)故(gu)障(zhang)。2、工(gong)作前(qian)應對曝光曲(qu)線。增(zeng)感方(fang)式、靈敏(min)度(du)等技術參(can)數進(jin)行(xing)測(ce)定，以便(bian)選擇*參(can)數。3、工(gong)作前(qian)對(dui)膠(jiao)片進(jin)行(xing)參(can)數測(ce)定。4、工(gong)作時(shi)應用國(guo)家(jia)防護標(biao)準(zhun)采(cai)用距(ju)離、時(shi)間(jian)、屏蔽...

也(ye)許zui常(chang)見的(de)線掃(sao)描成(cheng)像(xiang)是(shi)傳(chuan)真機(ji)。線掃(sao)描成(cheng)像(xiang)采(cai)用單(dan)線傳(chuan)感(gan)器(qi)像(xiang)素（壹(yi)維(wei)）形(xing)成(cheng)二(er)維(wei)圖像。於是，物體(ti)運動的(de)結果形(xing)成(cheng)二(er)維(wei)圖像。當(dang)物(wu)體(ti)垂直(zhi)通過圖(tu)像傳(chuan)感(gan)器(qi)像(xiang)素線(xian)時(shi)，傳(chuan)感(gan)器(qi)進(jin)行(xing)連續單線(xian)掃(sao)描，於(yu)是(shi)形(xing)成(cheng)逐(zhu)行(xing)的二(er)維(wei)圖像。在特(te)定(ding)視野(ye)內，壹(yi)臺(tai)2K像(xiang)素的(de)線陣(zhen)相機(ji)的分(fen)辨率(lv)相當(dang)於(yu)兩百萬(wan)分(fen)辨率(lv)的(de)面掃描相機(ji)，無(wu)拖影或(huo)幀重(zhong)疊冗(rong)余(yu)處理(li)。優(you)點(dian)線(xian)掃(sao)描圖(tu)像(xiang)采(cai)集(ji)具(ju)有(you)下列(lie)優(you)點(dian)：價格(ge)/像(xiang)素：線(xian)掃描在(zai)實(shi)現(xian)高(gao)空(kong)間(jian)分(fen)辨率(lv)圖(tu)像采(cai)集(ji)的同(tong)時(shi)維(wei)持合(he)理(li)的(de)成(cheng)本(ben)動(dong)態(tai)範(fan)圍(wei)比(bi)其(qi)他(ta)圖像(xiang)采(cai)集(ji)法大(da)得(de)多高(gao)像(xiang)素填充(chong)因(yin)子（通常為100%）使(shi)傳(chuan)感(gan)器(qi)敏(min)感(gan)度(du)zui...

X射線(xian)實時(shi)成(cheng)像(xiang)是(shi)壹(yi)項新(xin)的無(wu)損檢(jian)測(ce)技術，對於(yu)初(chu)次(ci)使(shi)用本(ben)技術的單(dan)位而(er)言(yan)，通常要經過壹(yi)段時(shi)間(jian)的試(shi)用並(bing)經現(xian)場測(ce)評(ping)後，方(fang)可投入(ru)使(shi)用。本(ben)文概述了(le)Ｘ射線實(shi)時(shi)成(cheng)像(xiang)檢(jian)測(ce)技術現場測(ce)評(ping)的內容(rong)及方(fang)法。X射(she)線(xian)實時(shi)成(cheng)像(xiang)是(shi)壹(yi)項新(xin)的無(wu)損檢(jian)測(ce)技術，它(ta)是基(ji)於計算機(ji)圖像(xiang)處理(li)技術，實現(xian)檢(jian)測(ce)圖像(xiang)的數字(zi)化(hua)和實(shi)時(shi)化(hua)，具(ju)有(you)檢(jian)測(ce)速度(du)快、檢(jian)測(ce)成(cheng)本(ben)低等(deng)優(you)點，檢(jian)測(ce)圖像(xiang)清晰，檢(jian)測(ce)靈敏(min)度(du)與射(she)線拍片相當(dang)，因(yin)而可以代(dai)替(ti)射(she)線拍(pai)片檢(jian)測(ce)。輪(lun)胎(tai)X射線(xian)檢(jian)測(ce)設(she)備(bei)是(shi)新(xin)壹代X射線檢(jian)測(ce)系(xi)統，針對(dui)轎車輪(lun)胎(tai)的小規格(ge)尺(chi)寸(cun)特(te)性(xing)，設(she)備(bei)結構(gou)緊(jin)湊(cou)、占用空(kong)間小；系(xi)統選用了(le)...

對(dui)於無(wu)損檢(jian)測(ce)工作者來說(shuo)，射線(xian)檢(jian)測(ce)過程中的(de)輻(fu)射傷害及其(qi)防護是*和必須註(zhu)意(yi)的(de)，今(jin)天就(jiu)讓我(wo)們(men)從(cong)以下幾個方(fang)面(mian)來鞏(gong)固(gu)學(xue)習射(she)線輻(fu)射防護的相關知(zhi)識，以提(ti)高(gao)安(an)全(quan)意識，保護我們(men)的(de)身(shen)心(xin)健(jian)康。1射線輻(fu)射的定(ding)義以及(ji)常見(jian)來源描述(shu)輻(fu)射量(liang)時(shi)通常會使(shi)用劑(ji)量(liang)這壹(yi)專(zhuan)業術語，劑(ji)量(liang)是(shi)指對某(mou)壹對(dui)象(xiang)所接受(shou)或(huo)吸(xi)收的(de)輻(fu)射的壹(yi)種量(liang)度(du)。劑(ji)量(liang)根(gen)據規定壹(yi)般包(bao)括(kuo)：吸(xi)收劑(ji)量(liang)當(dang)量(liang)、劑(ji)量(liang)當(dang)量(liang)、器(qi)官(guan)劑(ji)量(liang)、當(dang)量(liang)劑(ji)量(liang)、有(you)效(xiao)劑(ji)量(liang)等(deng)。目前(qian)，射(she)線檢(jian)測(ce)輻(fu)射傷害主(zhu)要來源於放射源或(huo)者X射線(xian)，這兩者在透(tou)照過程中均(jun)會(hui)不(bu)同(tong)程度(du)的產(chan)生(sheng)壹種電(dian)磁(ci)波(bo)，而(er)這種(zhong)電(dian)磁(ci)波(bo)就(jiu)像空(kong)...

壹(yi)、X射線探傷技術在文(wen)物考古中應用的(de)原理(li)X射(she)線(xian)探(tan)傷技術，是利(li)用射(she)線透(tou)過物(wu)體(ti)時(shi)，發(fa)生(sheng)吸(xi)收和散(san)射(she)這壹(yi)特(te)性(xing)，通過測(ce)量(liang)材料中因(yin)缺(que)陷(xian)存(cun)在影響(xiang)射(she)線的吸(xi)收來探(tan)測(ce)缺(que)陷(xian)的(de)壹種技術。根(gen)據底(di)片上有(you)缺(que)陷(xian)部(bu)位與(yu)無(wu)缺(que)陷(xian)部(bu)位的(de)黑(hei)度(du)圖像(xiang)不(bu)壹(yi)樣(yang)，就(jiu)可判(pan)斷出(chu)缺(que)陷(xian)的(de)種類、數量(liang)、大(da)小等(deng)，這就(jiu)是射(she)線(xian)照相探傷的原理(li)，也(ye)稱X射線照相技術。在考古學(xue)中運用X射(she)線照相技術，就(jiu)是利(li)用X射(she)線照相方(fang)法所(suo)具(ju)有(you)不(bu)損(sun)壞(huai)器(qi)物(wu)的(de)特(te)性(xing)，而(er)且(qie)，具(ju)有(you)高(gao)穿(chuan)透(tou)能(neng)力(li)的電(dian)磁(ci)輻(fu)射X射線(xian)。在文(wen)物保護工作中單(dan)壹(yi)的利(li)用數(shu)碼照片，只能(neng)對器(qi)物(wu)表(biao)面及(ji)形(xing)的壹(yi)些信(xin)息(xi)進(jin)行(xing)了解(jie)...