X射(she)線(xian)無(wu)損探(tan)傷是壹(yi)種(zhong)利用X射(she)線(xian)穿(chuan)透(tou)物(wu)體並(bing)通(tong)過(guo)檢(jian)測和(he)分析(xi)所產生的X射(she)線(xian)圖(tu)像(xiang)來評(ping)估物(wu)體內部結構(gou)和(he)缺陷(xian)的技術(shu)。它可以用於檢(jian)測材料中的裂紋(wen)、氣(qi)孔、夾(jia)雜物(wu)等(deng)缺(que)陷，以及評(ping)估物(wu)體的(de)完(wan)整性(xing)和(he)質量(liang)。