產品(pin)展(zhan)示(shi)
當(dang)前位(wei)置:首(shou)頁(ye)
產(chan)品展示(shi)
工業(ye)CT
臺式(shi)CT(μCT)
產(chan)品分類(lei)
相關(guan)文章
臺式(shi)CT μCT基(ji)於計(ji)算(suan)機(ji)斷層掃(sao)描(miao)技(ji)術(shu)可(ke)生(sheng)成(cheng)三維體(ti)積數(shu)據,可(ke)進(jin)行2D、3D檢(jian)測,具(ju)有自(zi)動缺(que)陷(xian)檢(jian)測、無損測量(liang)、材(cai)料(liao)分析(xi)、逆(ni)向工程(cheng)等(deng)功(gong)能(neng)。該(gai)系(xi)統(tong)理想(xiang)的(de)用(yong)於檢測金(jin)屬(shu)、陶瓷、巖(yan)心(xin)、復(fu)雜鑄(zhu)件、塑(su)料(liao)件、汽(qi)車(che)配(pei)件、珠(zhu)寶、新材(cai)料(liao)和半(ban)導(dao)體(ti)等(deng)檢(jian)測。 該(gai)產(chan)品(pin)技(ji)術(shu)已獲(huo)得國(guo)家(jia)發明。
該(gai)系(xi)統(tong)基(ji)於計(ji)算(suan)機(ji)斷層掃(sao)描(miao)技(ji)術(shu)可(ke)生(sheng)成(cheng)三維體(ti)積數(shu)據,可(ke)進(jin)行2D、3D檢(jian)測,具(ju)有自(zi)動缺(que)陷(xian)檢(jian)測、無損測量(liang)、材(cai)料(liao)分析(xi)、逆(ni)向工程(cheng)等(deng)功(gong)能(neng)。該(gai)系(xi)統(tong)理想(xiang)的(de)用(yong)於檢測金(jin)屬(shu)、陶瓷、巖(yan)心(xin)、復(fu)雜鑄(zhu)件、塑(su)料(liao)件、汽(qi)車(che)配(pei)件、珠(zhu)寶、新材(cai)料(liao)和半(ban)導(dao)體(ti)等(deng)檢(jian)測。
掃(sao)碼(ma)加(jia)微(wei)信