高能(neng)工業CT采(cai)用(yong)優(you)良的(de)高頻(pin)恒(heng)壓(ya)X射(she)線(xian)源(yuan)、數(shu)字成(cheng)像(xiang)探測(ce)器(qi)以及(ji)高(gao)精(jing)度(du)機(ji)械(xie)檢(jian)測(ce)平臺(tai)。不僅精(jing)準再(zai)現(xian)了(le)被檢(jian)測(ce)工件(jian)的(de)CT斷層(ceng)及(ji)三(san)維(wei)圖像，同(tong)時擁有(you)二維(wei)實時成(cheng)像(xiang)功能。產(chan)品具有(you)體積小、檢(jian)測(ce)速度(du)快、圖像(xiang)清(qing)晰(xi)、檢(jian)測(ce)精(jing)準、性價比(bi)高等(deng)諸多*性。產(chan)品廣泛應用(yong)於(yu)航天(tian)、航空(kong)、機(ji)械(xie)、鑄(zhu)造(zao)、IT、汽車等行(xing)業(ye)的(de)無(wu)損檢(jian)測(ce)和無(wu)損測(ce)量(liang)。

該產(chan)品技術(shu)已獲(huo)得(de)國家(jia)發明。

高能工業CT采用優(you)良的(de)高頻(pin)恒(heng)壓(ya)X射(she)線(xian)源(yuan)、數(shu)字成(cheng)像(xiang)探測(ce)器(qi)以及(ji)高(gao)精(jing)度(du)機(ji)械(xie)檢(jian)測(ce)平臺(tai)。不僅精(jing)準再(zai)現(xian)了(le)被檢(jian)測(ce)工件(jian)的(de)CT斷層(ceng)及(ji)三(san)維(wei)圖像，同(tong)時擁有(you)二維(wei)實時成(cheng)像(xiang)功能。產(chan)品具有(you)體積小、檢(jian)測(ce)速度(du)快、圖像(xiang)清(qing)晰(xi)、檢(jian)測(ce)精(jing)準、性價比(bi)高等(deng)諸多*性。產(chan)品廣泛應用(yong)於(yu)航天(tian)、航空(kong)、機(ji)械(xie)、鑄(zhu)造(zao)、IT、汽車等行(xing)業(ye)的(de)無(wu)損檢(jian)測(ce)和無(wu)損測(ce)量(liang)。

該產(chan)品技術(shu)已獲(huo)得(de)國家(jia)發明。

主(zhu)要(yao)功能

●采用錐束(shu)CT掃(sao)描和DR實(shi)時成(cheng)像(xiang)多種檢(jian)測(ce)方(fang)式(shi)，根據檢(jian)測(ce)工件(jian)大(da)小(xiao)，壹次掃(sao)描得(de)到從幾(ji)十(shi)層到幾(ji)千層的(de)斷層(ceng)圖(tu)像(xiang)。

●系(xi)統(tong)配(pei)置的(de)射(she)線(xian)源(yuan)和(he)成(cheng)像(xiang)器(qi)，可靈活(huo)選(xuan)擇(ze)。

●具有缺陷(xian)、孔隙分析和被檢(jian)測(ce)工件(jian)制(zhi)定(ding)區(qu)域(yu)功能。

●用不同顏色(se)標(biao)識(shi)檢(jian)測(ce)缺陷(xian)體積、位置尺寸。

●分析壁厚(hou)：用(yong)不同顏色(se)標(biao)識(shi)分析結果(guo)。

●測量(liang)工具：測(ce)量(liang)工件(jian)位置、距離(li)、半(ban)徑(jing)、角度(du)等參(can)數(shu)。

●逆向工程：CAD設(she)計(ji)和(he)實(shi)物(wu)比(bi)較(jiao)。

●分割(ge)工具：數(shu)據(ju)集中(zhong)，根據材料和(he)幾(ji)何結構(gou)進行(xing)分割(ge)。

●可實(shi)現(xian)被檢(jian)測(ce)工件(jian)內(nei)部尺寸的(de)精(jing)確測(ce)量(liang)。

高能工業CT主(zhu)要(yao)技術(shu)參(can)數(shu)

●管電(dian)壓(ya)：20kV~450kV（也(ye)可選(xuan)配(pei)600kV射(she)線(xian)源(yuan)）

●焦點尺寸：0.4mm~1mm

●密度(du)分辨率(lv)：0.5%

●掃(sao)描方(fang)式(shi)：錐(zhui)束掃(sao)描

●探測(ce)器(qi)：數字平板(ban)探測(ce)器(qi)，線(xian)陣探測(ce)器(qi)或圖(tu)像(xiang)增強(qiang)器(qi)