x射(she)線的波(bo)長(chang)和晶(jing)體內(nei)部(bu)原(yuan)子面(mian)之間的(de)間(jian)距相近(jin)，晶(jing)體可(ke)以作(zuo)為X射(she)線的空(kong)間衍(yan)射(she)光(guang)柵，即壹束X射(she)線照射(she)到物體上時(shi)，受(shou)到物體中(zhong)原子的(de)散射(she)，每(mei)個原(yuan)子都(dou)產生(sheng)散射(she)波(bo)，這(zhe)些(xie)波(bo)互相幹涉(she)，結果就(jiu)產生(sheng)衍(yan)射(she)。衍(yan)射(she)X射(she)線是壹(yi)種(zhong)波(bo)長(chang)很短(duan)的電磁波(bo)，能(neng)穿透(tou)壹定厚(hou)度的物質(zhi)，並能(neng)使(shi)熒光(guang)物質(zhi)發(fa)光(guang)、照(zhao)相機乳(ru)膠感光(guang)、氣(qi)體電離。

未(wei)知樣品(pin)定性(xing)分析

簡(jian) 介：

x射(she)線的波(bo)長(chang)和晶(jing)體內(nei)部(bu)原(yuan)子面(mian)之間的(de)間(jian)距相近(jin)，晶(jing)體可(ke)以作(zuo)為X射(she)線的空(kong)間衍(yan)射(she)光(guang)柵，即壹束X射(she)線照射(she)到物體上時(shi)，受(shou)到物體中(zhong)原子的(de)散射(she)，每(mei)個原(yuan)子都(dou)產生(sheng)散射(she)波(bo)，這(zhe)些(xie)波(bo)互相幹涉(she)，結果就(jiu)產生(sheng)衍(yan)射(she)。衍(yan)射(she)X射(she)線是壹(yi)種(zhong)波(bo)長(chang)很短(duan)的電磁波(bo)，能(neng)穿透(tou)壹定厚(hou)度的物質(zhi)，並能(neng)使(shi)熒光(guang)物質(zhi)發(fa)光(guang)、照(zhao)相機乳(ru)膠感光(guang)、氣(qi)體電離。

目(mu) 的(de)：

為了(le)材料(liao)研(yan)究、工(gong)業產品(pin)分析設(she)計、揭示(shi)材料(liao)晶(jing)體結(jie)構和化(hua)學信息。

應(ying)用(yong)範圍：

可(ke)以分析天(tian)然或(huo)是人工(gong)合(he)成的無機和有(you)機材料(liao)，應(ying)用(yong)在粘土(tu)礦(kuang)物、水(shui)泥(ni)建(jian)材、環境粉(fen)塵(chen)、化工制(zhi)品(pin)、藥品(pin)、石(shi)棉、巖礦(kuang)、聚合(he)物等研(yan)究領(ling)域(yu)。

測(ce)試(shi)步(bu)驟：

制(zhi)樣→放(fang)入檢(jian)測(ce)設(she)備→選擇(ze)條(tiao)件(jian)進行測(ce)試(shi)→自動(dong)形成數據報(bao)告→解譜分析。

檢(jian)測效(xiao)果(guo)圖(tu)：

1、進行未(wei)知(zhi)樣品(pin)中(zhong)壹種(zhong)和多(duo)種(zhong)物相鑒定，混(hun)合(he)樣品(pin)中(zhong)已知相定量(liang)分析，晶(jing)體結(jie)構解析，非(fei)常規(gui)條件(jian)下(xia)晶(jing)體結(jie)構變化(hua)（高(gao)溫、低(di)溫條(tiao)件(jian)下(xia)），材料(liao)表(biao)面膜分析，金(jin)屬材料(liao)織(zhi)構、應力分析。