文物CT檢(jian)測掃描(miao)分析(xi)系(xi)統(tong)主要分(fen)為高能量(liang)CT和微(wei)焦點CT。CT是基(ji)於(yu)計(ji)算(suan)機(ji)斷層(ceng)掃(sao)描(miao)技(ji)術，對文物進行2D，3D檢(jian)測。
其(qi)應(ying)用主要有(you)六(liu)個方(fang)面：
●對文物內部結構(gou)及形(xing)貌(mao)進行無損掃(sao)描(miao)並分(fen)析(xi)；
●對文物的起(qi)源，制作工(gong)藝(yi)、產(chan)地和(he)用途提(ti)供(gong)重要信(xin)息；
●對文物的內部結構(gou)及尺寸(cun)進行二維、三維的(de)測量(liang)；
●對文物的穿(chuan)孔內壁，鑲嵌(qian)加(jia)工(gong)痕(hen)跡數據分析(xi)，及數據(ju)庫的建(jian)立；
●高精度(du)獲(huo)取(qu)與解(jie)讀文物的三(san)維信息，並(bing)可實(shi)現(xian)逆向(xiang)工(gong)程(cheng)

文物CT檢(jian)測掃描(miao)分析(xi)系(xi)統(tong)

    文物CT檢(jian)測掃描(miao)分析(xi)系(xi)統(tong)主要分(fen)為高能量(liang)CT和微(wei)焦點CT。CT是基(ji)於(yu)計(ji)算(suan)機(ji)斷層(ceng)掃(sao)描(miao)技(ji)術，對文物進行2D，3D檢(jian)測。

應(ying)用主要有(you)六(liu)個方(fang)面：

●對文物內部結構(gou)及形(xing)貌(mao)進行無損掃(sao)描(miao)並分(fen)析(xi)；

●對文物的起(qi)源，制作工(gong)藝(yi)、產(chan)地和(he)用途提(ti)供(gong)重要信(xin)息；

●對文物的內部結構(gou)及尺寸(cun)進行二維、三維的(de)測量(liang)；

●對文物的穿(chuan)孔內壁，鑲嵌(qian)加(jia)工(gong)痕(hen)跡數據分析(xi)，及數據(ju)庫的建(jian)立；

●高精度(du)獲(huo)取(qu)與解(jie)讀文物的三(san)維信息，並(bing)可實(shi)現(xian)逆向(xiang)工(gong)程(cheng)；

●相(xiang)位成(cheng)像(xiang)功能。

相(xiang)對優勢(shi)：

●開(kai)放(fang)式微焦點射線管(guan)，分(fen)辨(bian)率高，檢(jian)測更精確。

●設(she)備設計(ji)緊湊，配置(zhi)靈活(huo)，可滿足(zu)客戶(hu)多種要求(qiu)。

●運(yun)行穩定(ding)，安(an)全可靠(kao)。

●掃(sao)描(miao)速(su)度(du)快(kuai)，圖(tu)像(xiang)重建(jian)速(su)度(du)快(kuai)。

    結構(gou)設計(ji)簡(jian)約(yue)緊湊，是(shi)壹套(tao)配置(zhi)靈活(huo)、可滿足(zu)多(duo)種(zhong)檢(jian)測需求的高分(fen)辨(bian)率 X 射線工(gong)業 CT 系(xi)統(tong)，具有(you)成(cheng)像(xiang)分辨(bian)率高、掃(sao)描(miao)速(su)度(du)快(kuai)、功(gong)能豐富(fu)、操作方便、運(yun)行穩定(ding)、使用及維(wei)護(hu)成(cheng)本(ben)低(di)等(deng)特(te)點(dian)。

    該系(xi)統(tong)可以配備(bei)160kV以上(shang)微(wei)米級(ji)分辨(bian)率X射線源，也可(ke)配置(zhi)高能量(liang)開(kai)放(fang)式微焦點射線源，zui高能量(liang)達到(dao)300KV，JIMA分(fen)辨(bian)率zui小(xiao)可達到(dao)0.5微(wei)米。