便(bian)攜式(shi)文物數字(zi)X射線照(zhao)相(xiang)系統由(you)便(bian)攜式(shi)中(zhong)頻X射線透照(zhao)機(ji)和進口CR系統組成(cheng)。X射線透照(zhao)機(ji)是(shi)利用X射線的(de)穿透能力(li)，將透射影像記(ji)錄(lu)在(zai)膠片(pian)上。通(tong)過(guo)X射線透照(zhao)，我(wo)們(men)可以觀察裹(guo)著文物下(xia)肉(rou)眼(yan)無(wu)法觀察到的(de)鑲(xiang)嵌(qian)工藝(yi)、文字等，從(cong)而進壹(yi)步的(de)保(bao)護(hu)處(chu)理提供(gong)堅實(shi)的(de)科(ke)學(xue)依(yi)據；更(geng)能(neng)分辨修復(fu)痕跡(ji)而發現(xian)作(zuo)為(wei)拼接偽造手(shou)段(duan)，如(ru)圖(tu)三中(zhong)青銅(tong)馬探傷結(jie)果(guo)，我們(men)不難(nan)判(pan)定該青(qing)銅(tong)馬是(shi)由許多(duo)大小(xiao)不壹(yi)的(de)青(qing)銅(tong)碎片拼(pin)湊(cou)而成(cheng)。

便(bian)攜式(shi)文物數字(zi)X射線照(zhao)相(xiang)系統

    便(bian)攜式(shi)文物數字(zi)X射線照(zhao)相(xiang)系統由(you)便(bian)攜式(shi)中(zhong)頻X射線透照(zhao)機(ji)和進口CR系統組成(cheng)。X射線透照(zhao)機(ji)是(shi)利用X射線的(de)穿透能力(li)，將透射影像記(ji)錄(lu)在(zai)膠片(pian)上。使用通(tong)過(guo)X射線透照(zhao)，我(wo)們(men)可以觀察裹(guo)著文物下(xia)肉(rou)眼(yan)無(wu)法觀察到的(de)鑲(xiang)嵌(qian)工藝(yi)、文字等（如(ru)下(xia)圖(tu)壹(yi)、圖(tu)二(er)成(cheng)像），從(cong)而進壹(yi)步的(de)保(bao)護(hu)處(chu)理提供(gong)堅實(shi)的(de)科(ke)學(xue)依(yi)據；更(geng)能(neng)分辨修復(fu)痕跡(ji)而發現(xian)作(zuo)為(wei)拼接偽造手(shou)段(duan)，如(ru)圖(tu)三中(zhong)青銅(tong)馬探傷結(jie)果(guo)，我們(men)不難(nan)判(pan)定該青(qing)銅(tong)馬是(shi)由許多(duo)大小(xiao)不壹(yi)的(de)青(qing)銅(tong)碎片拼(pin)湊(cou)而成(cheng)。

    成(cheng)像結(jie)果(guo)可以實時(shi)呈(cheng)現在(zai)顯示(shi)器上，研究人員可(ke)以直(zhi)觀清楚(chu)的(de)看到(dao)高(gao)清晰(xi)度的(de)X光(guang)圖(tu)片(pian)，並根(gen)據(ju)研究內容(rong)對圖像進行分析處(chu)理。是壹(yi)種更(geng)加(jia)便(bian)捷(jie)的(de)檢(jian)測(ce)手段(duan)，全(quan)電(dian)池(chi)供(gong)電(dian)，及外部(bu)供(gong)電(dian)兩種選(xuan)擇方(fang)式(shi)，無線(xian)通(tong)訊(xun)，適用於(yu)野外檢(jian)測(ce)，成(cheng)像分辨率(lv)高(gao)，質(zhi)量輕(qing)，便(bian)於攜(xie)帶(dai)，使(shi)用簡單(dan)。

圖壹(yi)青(qing)銅文盤及其(qi)X射線探傷和銘(ming)文局(ju)部(bu)放大

圖二(er)銹(xiu)蝕(shi)包裹(guo)的(de)鐵(tie)帶(dai)飾品(pin)、及其(qi)X射線探傷片(pian)和除銹(xiu)保(bao)護(hu)後的(de)效果

圖三青(qing)銅(tong)馬及其(qi)X射線探傷檢(jian)測(ce)結果(guo)