恒(heng)頻(pin)X射(she)線(xian)探傷機(ji)采用(yong)了新(xin)結構(gou)、新(xin)材(cai)料(liao)和恒(heng)頻(pin)技(ji)術(shu)，實現(xian)管電流(liu)、管電壓(ya)按(an)產(chan)品(pin)檢(jian)測需要(yao)分別調(tiao)整，擴大(da)了檢測範圍，達(da)到(dao)了壹機(ji)多(duo)用(yong)的(de)效果。

硬度(du)測試(shi)是檢(jian)測材(cai)料(liao)性能的(de)重(zhong)要(yao)指(zhi)標之壹，也是Z快(kuai)速(su)Z經濟的(de)試(shi)驗方(fang)法(fa)之壹。之所以(yi)能成(cheng)為(wei)力學(xue)性能試(shi)驗的(de)常(chang)用(yong)方(fang)法(fa)， 是因為(wei)硬(ying)度(du)測試(shi)能反(fan)映(ying)出(chu)材(cai)料(liao)在(zai)化學(xue)成(cheng)分、組織(zhi)結構(gou)和(he)處(chu)理(li)工藝上(shang)的(de)差異。常(chang)被(bei)作為(wei)監(jian)督(du)手(shou)段應(ying)用(yong)於各行各業。例(li)如在(zai)鋼(gang)鐵材(cai)料(liao)中，當(dang)馬(ma)氏(shi)體形(xing)成(cheng)時，由(you)於(yu)溶(rong)入(ru)過飽和的(de)碳(tan)原(yuan)子而增(zeng)大(da)了晶格(ge)畸變，增(zeng)加了錯位(wei)密(mi)度(du)，從(cong)而顯著(zhu)降低(di)了塑性變形能力，這(zhe)就是馬(ma)氏(shi)體高(gao)硬度(du)的(de)原因。顯然(ran)含(han)碳(tan)量(liang)越高(gao)這(zhe)種(zhong)畸變程(cheng)度就越大(da)，則硬(ying)度(du)也越高(gao)，不

X射線(xian)無損(sun)探傷應(ying)用(yong)在(zai)造船、汽(qi)車、鐵(tie)路(lu)、航天、軍工、化工、電力、壓力容器、機(ji)械制造等產(chan)業(ye)領(ling)域。可(ke)對(dui)鑄件(jian)、非(fei)金(jin)屬材(cai)料(liao)及合件(jian)的(de)縮松、氣(qi)孔(kong)、夾(jia)渣、裂(lie)紋等(deng)進(jin)行(xing)無(wu)損(sun)射線檢(jian)測（RT）、超聲(sheng)檢測（UT）、磁(ci)粉檢測（MT）和液(ye)體滲(shen)透(tou)檢(jian)測（PT） 。

x射(she)線的(de)波長和(he)晶體內(nei)部(bu)原(yuan)子面(mian)之間的(de)間距相(xiang)近，晶體可(ke)以(yi)作(zuo)為(wei)X射(she)線(xian)的(de)空(kong)間衍射(she)光(guang)柵(zha)，即壹束(shu)X射線(xian)照射(she)到(dao)物體上(shang)時，受(shou)到(dao)物體中(zhong)原(yuan)子的(de)散(san)射(she)，每個(ge)原(yuan)子都(dou)產(chan)生散(san)射(she)波，這(zhe)些(xie)波(bo)互(hu)相(xiang)幹(gan)涉(she)，結(jie)果就產(chan)生衍射(she)。衍射(she)X射(she)線是壹(yi)種(zhong)波長(chang)很短(duan)的(de)電磁(ci)波，能穿(chuan)透壹(yi)定厚(hou)度(du)的(de)物質(zhi)，並能使熒光(guang)物質(zhi)發光(guang)、照相(xiang)機(ji)乳膠(jiao)感光(guang)、氣(qi)體電離。

X-ray數字實(shi)時成(cheng)像焊接質(zhi)量檢(jian)測主要(yao)是由(you)高(gao)頻移(yi)動式（固定式）X射線探傷機(ji)、高(gao)分辨(bian)率工業電視(shi)系統、計算(suan)機圖(tu)像處理(li)系統(tong)、機械(xie)電氣(qi)系統、射線(xian)防(fang)護(hu)系(xi)統五(wu)部分組成(cheng)的(de)高(gao)科技(ji)產(chan)品(pin)。它(ta)主要(yao)是依(yi)靠(kao)X射線可以(yi)穿(chuan)透物體，並可以(yi)儲(chu)存影像的(de)特性，進(jin)而對(dui)物體內(nei)部(bu)進(jin)行(xing)無(wu)損(sun)評價。

X射(she)線無損(sun)探傷是壹(yi)種(zhong)利用(yong)X射線(xian)穿(chuan)透物體並通過(guo)檢測和分析所(suo)產(chan)生的(de)X射線圖(tu)像來(lai)評估(gu)物體內(nei)部(bu)結(jie)構和缺(que)陷(xian)的(de)技術。它(ta)可以(yi)用(yong)於檢(jian)測材(cai)料(liao)中的(de)裂紋、氣(qi)孔(kong)、夾(jia)雜物等(deng)缺(que)陷(xian)，以(yi)及(ji)評(ping)估(gu)物體的(de)完整性和質量(liang)。