恒頻(pin)X射(she)線(xian)探(tan)傷機(ji)采用了(le)新結構(gou)、新材(cai)料和(he)恒頻(pin)技(ji)術，實現(xian)管(guan)電(dian)流(liu)、管(guan)電(dian)壓(ya)按(an)產(chan)品檢(jian)測(ce)需要分別(bie)調整(zheng)，擴大(da)了(le)檢測(ce)範(fan)圍(wei)，達(da)到(dao)了(le)壹機(ji)多(duo)用的(de)效果。

硬(ying)度測(ce)試是(shi)檢測(ce)材料性(xing)能的重(zhong)要指標(biao)之(zhi)壹，也(ye)是Z快速(su)Z經(jing)濟(ji)的(de)試驗方法(fa)之(zhi)壹。之所(suo)以能成為力學性(xing)能(neng)試驗的(de)常(chang)用方法(fa)， 是(shi)因為硬(ying)度測(ce)試能(neng)反映出(chu)材(cai)料(liao)在(zai)化(hua)學成(cheng)分(fen)、組織(zhi)結構和(he)處理(li)工藝上(shang)的(de)差異。常被(bei)作(zuo)為監督手段(duan)應用於(yu)各行各業(ye)。例(li)如(ru)在鋼鐵材料中(zhong)，當馬(ma)氏體形(xing)成(cheng)時(shi)，由(you)於(yu)溶(rong)入(ru)過飽(bao)和(he)的碳(tan)原(yuan)子而增(zeng)大(da)了(le)晶格(ge)畸變(bian)，增(zeng)加(jia)了(le)錯位密度，從(cong)而顯(xian)著(zhu)降低了(le)塑(su)性變形(xing)能(neng)力，這就是(shi)馬(ma)氏體高(gao)硬(ying)度的(de)原(yuan)因。顯然含(han)碳量(liang)越(yue)高(gao)這種(zhong)畸變(bian)程度就越(yue)大(da)，則硬(ying)度也(ye)越(yue)高(gao)，不

X射(she)線(xian)無(wu)損(sun)探傷應用在(zai)造(zao)船、汽(qi)車、鐵路、航(hang)天、軍(jun)工、化(hua)工、電(dian)力、壓(ya)力容器、機(ji)械(xie)制(zhi)造等產(chan)業(ye)領域。可(ke)對(dui)鑄件、非(fei)金屬材料(liao)及(ji)合件的(de)縮(suo)松(song)、氣孔(kong)、夾(jia)渣、裂紋(wen)等進(jin)行無(wu)損(sun)射(she)線(xian)檢(jian)測(ce)（RT）、超聲檢(jian)測(ce)（UT）、磁粉(fen)檢(jian)測(ce)（MT）和(he)液體滲透(tou)檢測(ce)（PT） 。

x射(she)線(xian)的(de)波長(chang)和(he)晶體(ti)內部原(yuan)子面之間的(de)間距(ju)相(xiang)近(jin)，晶體可(ke)以作為X射(she)線(xian)的(de)空(kong)間衍射(she)光柵，即壹束X射(she)線(xian)照射(she)到(dao)物(wu)體(ti)上(shang)時，受到物(wu)體中原(yuan)子的散(san)射(she)，每(mei)個原(yuan)子都(dou)產(chan)生散(san)射(she)波，這些(xie)波互(hu)相(xiang)幹(gan)涉(she)，結(jie)果就產(chan)生衍射(she)。衍(yan)射(she)X射(she)線(xian)是(shi)壹種波長(chang)很短(duan)的(de)電(dian)磁波，能穿(chuan)透(tou)壹定厚(hou)度(du)的(de)物(wu)質，並能(neng)使熒(ying)光物質發(fa)光、照相(xiang)機(ji)乳膠感(gan)光、氣體(ti)電(dian)離(li)。

X-ray數字(zi)實時(shi)成像焊接(jie)質量(liang)檢測(ce)主(zhu)要是由(you)高(gao)頻(pin)移動(dong)式（固(gu)定(ding)式）X射(she)線(xian)探(tan)傷機(ji)、高(gao)分辨率工業(ye)電(dian)視(shi)系(xi)統、計算機(ji)圖像(xiang)處(chu)理(li)系(xi)統、機(ji)械(xie)電(dian)氣系(xi)統、射(she)線(xian)防(fang)護系(xi)統五部(bu)分(fen)組成的高(gao)科技(ji)產(chan)品。它(ta)主(zhu)要是依(yi)靠(kao)X射(she)線(xian)可(ke)以穿透(tou)物體(ti)，並可(ke)以儲存影(ying)像(xiang)的(de)特(te)性(xing)，進(jin)而對(dui)物體(ti)內部進(jin)行無(wu)損(sun)評(ping)價(jia)。

X射(she)線(xian)無(wu)損(sun)探傷是(shi)壹種利用(yong)X射(she)線(xian)穿(chuan)透(tou)物體(ti)並通過檢測(ce)和(he)分析所產(chan)生的X射(she)線(xian)圖像(xiang)來(lai)評(ping)估(gu)物(wu)體(ti)內部結構和(he)缺(que)陷(xian)的技(ji)術。它(ta)可以用於檢(jian)測(ce)材料中(zhong)的裂紋(wen)、氣孔(kong)、夾(jia)雜(za)物(wu)等缺(que)陷(xian)，以及評(ping)估(gu)物(wu)體(ti)的(de)完整(zheng)性和(he)質量(liang)。