微(wei)焦點X射線檢(jian)測(ce)是現(xian)代(dai)計(ji)技術(shu)和圖像處(chu)理技(ji)術(shu)壹體的高科(ke)技產(chan)品(pin)

　　微(wei)焦點X射線檢(jian)測(ce)是集(ji)現代(dai)計(ji)算機(ji)軟(ruan)件技術(shu)、精密機(ji)械(xie)制造(zao)技(ji)術(shu)、光學技(ji)術(shu)、電(dian)子技(ji)術(shu)、傳感器技術(shu)、無損檢測技(ji)術(shu)和圖像處(chu)理技(ji)術(shu)等於壹體的高科(ke)技產(chan)品(pin)。它(ta)是(shi)進(jin)行(xing)產(chan)品(pin)研(yan)究(jiu)、失(shi)效分(fen)析(xi)、高可(ke)靠篩選(xuan)、質量(liang)評(ping)價、工(gong)藝(yi)改進等(deng)工(gong)作(zuo)的(de)有(you)效(xiao)手(shou)段。
　　
　　與常規X射線管(guan)相同(tong)，微焦點X射線管(guan)的陽(yang)極(ji)也是用(yong)循(xun)環油或(huo)水(shui)來(lai)冷卻。與常規X射線機(ji)不(bu)同的是，用(yong)於(yu)無損檢測的(de)微焦點X射線管(guan)是用(yong)真空(kong)泵(beng)來(lai)維持(chi)X射線管(guan)內(nei)的(de)真空度（約為(wei)10-7）。微(wei)焦點X射線管(guan)可(ke)以(yi)很(hen)方(fang)便(bian)的(de)打(da)開（即(ji)開(kai)放式(shi)或(huo)稱(cheng)為(wei)開(kai)管(guan)），用來(lai)更換不(bu)同(tong)的靶(ba)材以(yi)產(chan)生(sheng)不(bu)同(tong)的X射線頻譜；更(geng)換不(bu)同(tong)形狀(zhuang)及大小的X射線窗(chuang)口(kou)；以(yi)及更換陽(yang)極(ji)的類(lei)型…如換上各(ge)種(zhong)直(zhi)徑和(he)長(chang)度的棒(bang)陽(yang)極(ji)，以(yi)滿(man)足(zu)不同檢測(ce)任(ren)務(wu)的(de)需要。這(zhe)些陽(yang)極(ji)棒(bang)的長(chang)度可(ke)達1500毫米，直徑可(ke)從18毫米壹直(zhi)小到4毫米。使(shi)用如(ru)此小的(de)棒(bang)陽(yang)極(ji)，我(wo)們(men)可(ke)以(yi)用單壁(bi)內(nei)透(tou)照方(fang)式(shi)，以(yi)的缺陷檢(jian)測(ce)靈敏度進行(xing)射線檢(jian)測(ce)。
　　
　　需要考慮(lv)的是(shi)X射線束(shu)視(shi)場直徑或(huo)稱(cheng)錐(zhui)束(shu)角。進行(xing)微(wei)焦點X射線檢(jian)測(ce)，當焦距很(hen)近時，錐束(shu)角或(huo)視(shi)場範(fan)圍非(fei)常(chang)重(zhong)要。例(li)如(ru)，25°錐角的微焦點X射線機(ji)的(de)曝光(guang)次(ci)數(shu)要小(xiao)於(yu)15°錐角的微焦點X射線檢(jian)測(ce)機(ji)在(zai)檢測相同(tong)範(fan)圍時的曝光(guang)次(ci)數(shu)。
　　
　　另(ling)壹個(ge)需要考慮(lv)的是(shi)焦點到X射線管(guan)窗口(kou)外(wai)表面(mian)的(de)距(ju)離，它(ta)決(jue)定(ding)了被(bei)檢樣(yang)品(pin)到焦點的zui小距離。這(zhe)壹參(can)數(shu)的(de)重(zhong)要性(xing)在(zai)於它(ta)決(jue)定(ding)了壹個(ge)微焦點系統(tong)可(ke)能達到的zui大(da)放大倍(bei)數(shu)。由(you)於防護設施(shi)空(kong)間的局(ju)限以(yi)及射線的(de)衰(shuai)減與距離的平(ping)方(fang)成反(fan)比(bi)（I/R2），我(wo)們(men)無法(fa)隨意拉長膠片(pian)或(huo)探(tan)測(ce)器到射線源(yuan)的(de)距離以(yi)增(zeng)大(da)放大倍(bei)數(shu)。
　　
　　在進行(xing)微(wei)焦點X射線檢(jian)測(ce)時有(you)壹個(ge)與常規X射線檢(jian)測(ce)很(hen)大的不同：我(wo)們(men)通(tong)常(chang)不(bu)需要考慮(lv)圖像半(ban)影(ying)的大小(xiao)，即(ji)通(tong)常(chang)不(bu)考慮(lv)幾何(he)不(bu)清(qing)晰(xi)度的影(ying)響。原因(yin)是當焦點尺寸(cun)足(zu)夠小時，半影(ying)可(ke)以(yi)忽(hu)略不計(ji)。因(yin)此我(wo)們(men)可(ke)以(yi)在X射線視(shi)場可(ke)接受的(de)情(qing)況下(xia)，盡可(ke)能減小(xiao)被檢(jian)樣(yang)品(pin)到焦點的距離。