X射線衍射(she)儀(yi)可(ke)滿(man)足不同(tong)測(ce)試(shi)目的需要(yao)

　　
　　
　　X射(she)線衍射(she)儀(yi)可(ke)實現無(wu)損(sun)的物相定性(xing)和定(ding)量分析(xi)，而且利(li)用衍射(she)峰(feng)位、衍射(she)峰(feng)強度(du)、衍射(she)峰(feng)線形(xing)等(deng)信(xin)息(xi)可(ke)以進(jin)行(xing)材(cai)料(liao)晶(jing)體結(jie)構的表(biao)征，如(ru)：點陣常(chang)數(shu)的精(jing)密(mi)測(ce)定，晶(jing)粒尺寸和微(wei)觀應變計(ji)算，宏觀殘余(yu)應力(li)測(ce)定,結(jie)晶(jing)度(du)計(ji)算等(deng)；X射線衍射(she)分(fen)析(xi)方(fang)法是材(cai)料(liao)微觀結(jie)構表(biao)征zui常(chang)規(gui)和zui有(you)效(xiao)的方(fang)法之壹
　　
　　X射線衍射(she)儀(yi)采用(yong)單(dan)片(pian)機(ji)控制(zhi)技(ji)術(shu)，模(mo)塊化(hua)設(she)計(ji)，使高壓發(fa)生(sheng)器部(bu)分(fen)控(kong)制(zhi)、穩定、自(zi)動(dong)化(hua)程(cheng)度(du)高(gao)，高(gao)壓的開關(guan)及(ji)升(sheng)降、光閘(zha)的開關(guan)均由計(ji)算機終(zhong)端(duan)控(kong)制(zhi)。為了(le)使儀(yi)器自(zi)動(dong)化(hua)程(cheng)度(du)更(geng)高(gao)、性(xing)能更(geng)穩定，我(wo)們研(yan)制(zhi)了(le)高頻(pin)高(gao)壓X射線發(fa)生(sheng)器。該(gai)產(chan)品采用(yong)高(gao)頻(pin)高(gao)壓技(ji)術(shu)，*拋棄以往(wang)的倍(bei)壓整流(liu)模(mo)式，體積小(xiao)、重量輕(qing)且故障率(lv)極(ji)低。
　　
　　X射(she)線衍射(she)儀(yi)是(shi)為(wei)材(cai)料(liao)研(yan)究(jiu)和工(gong)業產(chan)品(pin)分析(xi)設(she)計(ji)的，是(shi)常(chang)規(gui)分析(xi)與(yu)特殊(shu)目(mu)的測(ce)量相(xiang)結(jie)合的完(wan)善(shan)產(chan)品(pin)。
　　
　　◆硬(ying)件(jian)系統和軟(ruan)件系(xi)統的結(jie)合，滿(man)足不同(tong)應用(yong)領(ling)域學(xue)者(zhe)、科研(yan)者(zhe)的需要(yao)
　　
　　◆高精(jing)度(du)的衍射(she)角(jiao)度(du)測(ce)量系(xi)統，獲取(qu)更(geng)準確(que)的測(ce)量結(jie)果
　　
　　◆高穩定性(xing)的X射(she)線發(fa)生(sheng)器控(kong)制(zhi)系統，得到更(geng)穩定的重(zhong)復測(ce)量精(jing)度(du)
　　
　　◆各(ge)種(zhong)功(gong)能附(fu)件(jian)滿足不同(tong)測(ce)試(shi)目的需要(yao)
　　
　　◆程序化(hua)操作(zuo)、壹體化(hua)結(jie)構設(she)計(ji)，操作(zuo)簡便、儀(yi)器外(wai)型(xing)更美觀
　　
　　X射線衍射(she)儀(yi)是(shi)揭(jie)示(shi)材料(liao)晶(jing)體結(jie)構和化(hua)學(xue)信(xin)息(xi)的壹(yi)種通(tong)用性(xing)測(ce)試(shi)儀(yi)器：
　　
　　◆未知樣品中(zhong)壹(yi)種(zhong)和多(duo)種物相鑒定
　　
　　◆混(hun)合(he)樣(yang)品中(zhong)已知(zhi)相(xiang)定量分析(xi)
　　
　　◆晶(jing)體結(jie)構解析(xi)（Rietveld結(jie)構分析(xi)）
　　
　　◆非(fei)常(chang)規(gui)條件(jian)下(xia)晶(jing)體結(jie)構變化(hua)（高(gao)溫、低溫條件(jian)下(xia)）
　　
　　◆薄膜樣(yang)品(pin)分析(xi)，包括薄膜物相、多層(ceng)膜厚(hou)度(du)、表(biao)面粗(cu)糙度(du)，電(dian)荷(he)密(mi)度(du)
　　
　　◆微(wei)區(qu)樣品(pin)的分(fen)析(xi)
　　
　　◆金(jin)屬(shu)材(cai)料(liao)織(zhi)構、應力(li)分析(xi)