丹(dan)東奧(ao)龍(long)射線(xian)集團*“真雙能“X射線(xian)檢測(ce)系(xi)統(tong)

      X射(she)線(xian)應(ying)用於(yu)無損(sun)檢測(ce)以(yi)來，經(jing)過不(bu)斷(duan)的(de)發(fa)展(zhan)，現(xian)已(yi)經(jing)出現(xian)多(duo)種X射(she)線(xian)檢測(ce)技(ji)術。這些技術包括單能量X射(she)線(xian)檢測(ce)技(ji)術、雙能量X射(she)線(xian)檢測(ce)技(ji)術、多視角(jiao)技(ji)術、CT技(ji)術(shu)和(he)散(san)射檢測(ce)技(ji)術等。今天我與(yu)大家著(zhe)重分(fen)享(xiang)下(xia)雙能量X射(she)線(xian)檢測(ce)技(ji)術。
      雙能量X射(she)線(xian)檢測(ce)技(ji)術主要應(ying)用在(zai)安檢，如(ru)機(ji)場(chang)、海(hai)關(guan)、大型(xing)集裝箱(xiang)檢測(ce)等(deng)交通運輸(shu)領域；醫藥、食(shi)品(pin)、化(hua)工行(xing)業產(chan)品(pin)異物檢測(ce)分(fen)離等材料識別(bie)領域；醫療(liao)行業骨密度檢測(ce)等(deng)。
      普通的(de)X光成(cheng)像指(zhi)的(de)是單能量X射(she)線(xian)檢測(ce)技(ji)術，成(cheng)像原理(li)是X射(she)線(xian)穿(chuan)過(guo)被(bei)檢測(ce)物體的(de)壹(yi)個(ge)垂(chui)直截面，被膠(jiao)片(pian)或(huo)探測器(qi)采集(ji)，形成(cheng)影(ying)像。由於(yu)被檢測(ce)物體是多(duo)個(ge)平(ping)行(xing)截面連(lian)續(xu)由近及(ji)遠(yuan)被(bei)掃(sao)描，那麽所(suo)有截面吸收(shou)過(guo)的(de)X射線(xian)能量值均被采集下(xia)來，因(yin)此得到的(de)圖(tu)像為(wei)被(bei)檢測(ce)物體的(de)投影圖(tu)像，產(chan)品(pin)的(de)圖(tu)像具有很高的(de)分辨(bian)率(lv)。然(ran)而使用這(zhe)種方(fang)法(fa)，壹(yi)些具有高密度的(de)物體將(jiang)吸收(shou)大部(bu)分(fen)X射線，從而遮(zhe)蔽(bi)其後(hou)面(mian)的(de)低(di)密度物體，使(shi)其不(bu)能被檢測(ce)到。雙能量X射(she)線(xian)檢測(ce)技(ji)術就是用來(lai)解(jie)決這種弊(bi)端。
      以(yi)往(wang)的(de)雙能X射線(xian)檢測(ce)系(xi)統(tong)主要有兩類(lei)：偽(wei)雙能和(he)真雙能系(xi)統(tong)。偽(wei)雙能系(xi)統(tong)使(shi)用壹(yi)個(ge)X射(she)線(xian)源(yuan)和(he)兩套(tao)探測器(qi)，探測器(qi)前(qian)後(hou)放置(zhi)。X射(she)線源(yuan)設定為恒(heng)定電(dian)壓(ya)，靠近射(she)線(xian)源(yuan)的(de)探測器(qi)接受X射(she)線(xian)束，吸收(shou)X射(she)線(xian)束的(de)低(di)能部(bu)分(fen)。後(hou)用濾波片(pian)濾波，使低(di)能射線(xian)部(bu)分(fen)顯著減(jian)少。第(di)二(er)個(ge)探測器(qi)吸收(shou)剩(sheng)余的(de)高能量X射(she)線(xian)並呈現(xian)。偽(wei)雙能系(xi)統(tong)存(cun)在(zai)壹(yi)個(ge)問題(ti)就(jiu)是經(jing)過濾波片(pian)處(chu)理(li)後(hou)的(de)高能X射線(xian)到達第(di)二(er)個(ge)探測器(qi)時顯(xian)著減(jian)少，影響(xiang)成(cheng)像效果。因(yin)此與(yu)真雙能系(xi)統(tong)相(xiang)比(bi)偽(wei)雙能系(xi)統(tong)成(cheng)像有很多噪(zao)音，但相對(dui)成(cheng)本(ben)較(jiao)低(di)。真雙(shuang)能系(xi)統(tong)主要有兩種，壹(yi)種是使(shi)用壹(yi)個(ge)射(she)線(xian)源(yuan)和(he)壹(yi)組探測器(qi)，分別(bie)用低(di)能和(he)高能X射線(xian)掃(sao)描被檢物體兩次(ci)，獲得兩種圖(tu)像。另(ling)外壹(yi)種真(zhen)雙(shuang)能系(xi)統(tong)使(shi)用高(gao)、低(di)兩個(ge)X射(she)線(xian)源(yuan)和(he)兩組(zu)探測器(qi)。分別(bie)使用兩組(zu)成(cheng)像系(xi)統(tong)對(dui)被(bei)檢物體成(cheng)像。這(zhe)兩種真(zhen)雙(shuang)能系(xi)統(tong)各(ge)具弊(bi)端並且造(zao)價(jia)較(jiao)高，有的(de)甚(shen)至(zhi)使(shi)用復(fu)雜(za)。
        丹東奧(ao)龍(long)射線(xian)集團為節(jie)約客(ke)戶(hu)成(cheng)本(ben)，提高工(gong)作(zuo)效率，推出真(zhen)雙(shuang)能X射線(xian)材料識別(bie)系(xi)統(tong)（壹(yi)個(ge)射(she)線(xian)源(yuan)和(he)壹(yi)組探測器(qi)）。可同(tong)時分(fen)辨(bian)兩種材料，並(bing)配備(bei)自(zi)動(dong)識別(bie)功能，讓客(ke)戶(hu)對(dui)檢測(ce)結(jie)果壹(yi)目了(le)然(ran)。該系(xi)統(tong)采(cai)用雙(shuang)能光子(zi)計(ji)數(shu)探測器(qi)，利(li)用反(fan)符合(he)計(ji)數(shu)科(ke)技(ji)，壹(yi)次(ci)性(xing)解決材料分(fen)辨問題(ti)。不(bu)僅(jin)節(jie)約了(le)設備成(cheng)本(ben)，並(bing)且大大提高了(le)工(gong)作(zuo)效率，每秒掃描速率(lv)可達10000幀(zhen)，射線穿(chuan)過(guo)物體成(cheng)像速(su)度zui高(gao)可達2.5m/s，*成(cheng)像分(fen)辨(bian)率可達30μm。奧(ao)龍射線集團不(bu)僅(jin)推出標(biao)準(zhun)型(xing)產(chan)品(pin)，也(ye)為不同領域的(de)用戶(hu)提供定制(zhi)服(fu)務(wu)。如(ru)果哪位同仁還(hai)在(zai)為材料識別(bie)或混合(he)材料產(chan)品(pin)檢測(ce)煩(fan)惱(nao)，不妨(fang)嘗試(shi)下(xia)新(xin)技(ji)術(shu)，該(gai)技(ji)術

    檢測(ce)圖(tu)片(pian)賞析(xi)

     水滴(di)起落(luo)過程(cheng)成(cheng)像：