什麽(me)是(shi)X射線衍射儀？

　　
　　
　　X射線衍射儀也(ye)稱(cheng)為(wei)X射線粉(fen)末衍(yan)射儀，主(zhu)要(yao)是(shi)用來(lai)測定樣(yang)品的(de)物相(xiang)組(zu)成(cheng)，它(ta)依(yi)據(ju)粉(fen)末衍(yan)射文件(jian)（PDF）數據(ju)庫，通過與數據(ju)庫中的(de)衍(yan)射圖譜進(jin)行比(bi)對來鑒(jian)定某(mou)個(ge)晶(jing)態(tai)物相(xiang)是(shi)否存在或估(gu)計(ji)其(qi)含量(liang)的(de)多少(shao)，而(er)對於未(wei)知物相(xiang)難(nan)以(yi)進(jin)行測定。對於單(dan)晶(jing)樣(yang)品，將(jiang)其(qi)破碎(sui)成(cheng)粉(fen)晶(jing)亦(yi)可以(yi)進(jin)行分(fen)析(xi)鑒定。對於樣(yang)品要(yao)求(qiu)塊狀、粉(fen)末狀都(dou)可以(yi)，樣(yang)品容(rong)易(yi)制取(qu)，測量(liang)時(shi)間(jian)短，物相(xiang)鑒(jian)定相(xiang)對來說比(bi)較(jiao)簡(jian)單(dan)、快速。
　　
　　X射線多晶(jing)衍(yan)射的(de)分(fen)析(xi)對象是(shi)壹堆(dui)微(wei)小單(dan)晶(jing)的(de)聚(ju)集體或稱多晶(jing)體，其(qi)中的(de)各個微(wei)小晶(jing)粒的(de)取(qu)向(xiang)是(shi)*混亂(luan)的(de)，也(ye)即(ji)各晶(jing)粒的(de)同壹個晶(jing)面(mian)族(zu)與(yu)入射X射線的(de)交(jiao)角可以(yi)是(shi)0～90°之間(jian)的(de)任壹角度(du)，因而(er)能(neng)滿足布(bu)拉格(ge)公(gong)式的(de)所(suo)有衍射線都(dou)會(hui)發生。從(cong)粉(fen)末衍(yan)射譜可以(yi)直(zhi)接(jie)得(de)出(chu)衍(yan)射峰位(wei)置、強(qiang)度(du)和峰(feng)形(xing)狀等物理(li)量(liang)。粉(fen)末衍(yan)射可解決的(de)任何問(wen)題或可求得的(de)任何結(jie)構(gou)參數(shu)壹般(ban)都(dou)是(shi)以(yi)這(zhe)三個物理(li)量(liang)為(wei)基礎(chu)的(de)。
　　
　　不(bu)同物相(xiang)的(de)物質(zhi)具(ju)有不(bu)同的(de)晶(jing)體結(jie)構(gou)，因而(er)會(hui)有不(bu)同的(de)粉(fen)末衍(yan)射譜，即(ji)衍射峰的(de)位(wei)置或對應的(de)晶(jing)面(mian)間(jian)距與(yu)衍射強(qiang)度(du)不(bu)相(xiang)同。而混合物的(de)粉(fen)末衍(yan)射譜是(shi)各構(gou)成(cheng)物相(xiang)衍(yan)射譜的(de)疊加，因而(er)通過將(jiang)待測樣(yang)的(de)譜(pu)與各種純(chun)物相(xiang)的(de)譜(pu)對比(bi)可以(yi)對待測樣(yang)的(de)相(xiang)組(zu)成(cheng)進(jin)行定性(xing)分(fen)析(xi)。由(you)於混(hun)合譜中各相的(de)衍(yan)射強(qiang)度(du)與它(ta)們(men)在(zai)混(hun)合(he)物中(zhong)的(de)含量(liang)成(cheng)正(zheng)比(bi)。故(gu)物相(xiang)分(fen)析(xi)不(bu)僅(jin)可定性(xing)，還(hai)可定量(liang)。物相(xiang)分(fen)析(xi)是(shi)X射線多晶(jing)衍(yan)射zui被廣泛(fan)使用的(de)壹種應用。
　　
　　利用X射線衍射儀得到的(de)晶(jing)面(mian)間(jian)距和(he)點陣(zhen)常數是(shi)重要(yao)的(de)結(jie)構(gou)參數(shu)，可用來(lai)研(yan)究許(xu)多問(wen)題。晶(jing)粒中位(wei)錯、層錯、反(fan)向疇(chou)等缺(que)陷(xian)的(de)存在，使點陣(zhen)發生畸(ji)應，產生了微應力(li)，還有構(gou)成(cheng)材(cai)料(liao)的(de)微(wei)小品粒的(de)尺(chi)寸，這(zhe)些晶(jing)體中(zhong)的(de)微(wei)結構(gou)都(dou)會(hui)對衍射峰的(de)峰(feng)形發生影(ying)響(xiang)，因而(er)可以(yi)從(cong)峰形分(fen)析(xi)來推測出(chu)結(jie)構(gou)的(de)微(wei)結構(gou)參數(shu)。在(zai)材料的(de)加工過程中，晶(jing)粒的(de)某(mou)個(ge)或幾個(ge)晶(jing)面(mian)的(de)取(qu)向(xiang)會(hui)偏(pian)聚(ju)在宏觀(guan)加工的(de)每個方向(xiang)，這(zhe)種性(xing)質(zhi)稱(cheng)為(wei)擇優(you)取(qu)向(xiang)，材(cai)料(liao)的(de)這(zhe)種不(bu)均(jun)勻構(gou)造稱(cheng)為(wei)織構(gou)。織構(gou)會改(gai)變材(cai)料(liao)性(xing)能(neng)，利用X射線衍射儀可以(yi)進(jin)行織構(gou)分(fen)析(xi)。