樣(yang)品(pin)分(fen)析檢(jian)測服務(wu)

     丹(dan)東奧龍(long)射線集團面(mian)向全國提(ti)供檢(jian)測服務(wu)，專業為(wei)客戶提供X-ray檢(jian)測及(ji)信息(xi)咨詢(xun)等(deng)領域的(de)壹站(zhan)式(shi)解(jie)決(jue)方(fang)案，擁有(you)專業的(de)技術(shu)團隊與管理(li)人(ren)員。公司(si)有(you)高(gao)能工業CT、微(wei)焦(jiao)點工業CT、μCT、X射線探傷(shang)機、X射線實(shi)時(shi)成(cheng)像系統(tong)、硬度計(ji)等(deng)高(gao)精(jing)檢(jian)測設備(bei)，我(wo)公(gong)司(si)檢(jian)測設備(bei)性(xing)能穩(wen)定，檢(jian)測精(jing)度高(gao)，圖像清(qing)晰(xi)，操作(zuo)便捷，能夠(gou)為(wei)汽車輪(lun)轂、汽車零部件、耐火材料、氣(qi)泵(beng)缸體、汽車輪(lun)胎(tai)、考古(gu)、火車廂體連(lian)接器、有(you)色(se)金(jin)屬低(di)壓(ya)鑄造(zao)、飛(fei)機原位(wei)、氣瓶(ping)鋼瓶(ping)、高壓(ya)開關(guan)殼(ke)體(ti)、食品(pin)安全、電(dian)子(zi)元器件(jian)等(deng)多行(xing)業提(ti)供檢(jian)測服務(wu)。能夠(gou)實(shi)現(xian)*復合材料進(jin)行(xing)CT掃描(miao)做(zuo)逆向工程(cheng)、CT三(san)維(wei)掃描(miao)、壓(ya)鑄件(jian)、汽車零部件等(deng)內(nei)部氣孔、夾渣(zha)、疏(shu)松(song)等(deng)缺(que)陷的(de)無損檢(jian)測、探(tan)傷(shang)機拍(pai)片(pian)檢(jian)測、晶(jing)體定向檢(jian)測、材(cai)料硬度測量(liang)、晶(jing)體、粉末等(deng)定性(xing)、定量(liang)分(fen)析。

     可(ke)以分(fen)析天然或(huo)是(shi)人工合成(cheng)的(de)無機和(he)有(you)機(ji)材(cai)料，應(ying)用(yong)在(zai)粘(zhan)土礦物(wu)、水泥(ni)建(jian)材(cai)、環境粉塵(chen)、化(hua)工制品(pin)、藥品(pin)、石(shi)棉(mian)、巖(yan)礦、聚(ju)合物(wu)等(deng)研(yan)究(jiu)領域。
          1：進行(xing)未(wei)知樣(yang)品(pin)中(zhong)壹種(zhong)和(he)多種(zhong)物(wu)相(xiang)鑒(jian)定，混合樣(yang)品(pin)中(zhong)已知相(xiang)定量(liang)分(fen)析，晶(jing)體(ti)結構(gou)解析，非常(chang)規條(tiao)件(jian)下(xia)晶(jing)體結構(gou)變(bian)化(hua)（高溫、低溫條(tiao)件(jian)下(xia)），材(cai)料表(biao)面(mian)膜分(fen)析，金(jin)屬材(cai)料織(zhi)構(gou)、應(ying)力(li)分(fen)析。

2：無標(biao)準(zhun)樣(yang)品(pin)快速(su)定量(liang)分(fen)析，晶(jing)粒(li)尺寸(cun)測(ce)量(liang)，晶(jing)體結構(gou)分(fen)析（晶(jing)胞(bao)參數(shu)測(ce)量(liang)和(he)精(jing)修）。

3：軋(zha)板(ban)（鋁、鐵、銅(tong)板(ban)等(deng)）織(zhi)構(gou)測量(liang)及(ji)評(ping)價(jia)，金(jin)屬、陶(tao)瓷等(deng)材(cai)料殘(can)余(yu)應(ying)力(li)測(ce)量(liang)，薄(bo)膜樣(yang)品(pin)晶體優(you)先方位(wei)的(de)評(ping)價(jia)，大分(fen)子(zi)化(hua)合物(wu)取(qu)向測(ce)量(liang)，金(jin)屬、非金(jin)屬基(ji)體(ti)上的(de)多層(ceng)膜(mo)、氧化(hua)膜、氮(dan)化(hua)膜分(fen)析。

4：分(fen)析物(wu)質內部微觀結(jie)構(gou)，如(ru)：單晶(jing)定向、檢(jian)測缺(que)陷、物(wu)質定性(xing)、測(ce)定點陣參數(shu)、測(ce)定殘(can)余(yu)應(ying)力(li)等(deng)。

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