X射線(xian)衍(yan)射(she)儀(yi)具有哪(na)些(xie)優勢優點(dian)呢(ne)

 

　　x射(she)線(xian)的(de)波(bo)長(chang)和晶(jing)體(ti)內(nei)部(bu)原子面之間的間距相(xiang)近(jin)，晶(jing)體(ti)可(ke)以(yi)作(zuo)為(wei)X射(she)線(xian)的(de)空(kong)間衍射(she)光(guang)柵(zha)，即壹束(shu)X射(she)線(xian)照(zhao)射(she)到(dao)物體(ti)上(shang)時(shi)，受到(dao)物體(ti)中(zhong)原子的散射，每個(ge)原子都(dou)產(chan)生(sheng)散射波，這(zhe)些(xie)波互相幹(gan)涉，結(jie)果就產(chan)生(sheng)衍射。衍射波疊(die)加的(de)結(jie)果(guo)使射線(xian)的(de)強(qiang)度在(zai)某(mou)些(xie)方(fang)向上(shang)加(jia)強(qiang)，在(zai)其他方(fang)向上(shang)減弱。分(fen)析(xi)衍(yan)射(she)結(jie)果，便可(ke)獲(huo)得晶(jing)體(ti)結(jie)構(gou)。

 

　　對於晶(jing)體(ti)材(cai)料，當待測(ce)晶(jing)體(ti)與(yu)入(ru)射(she)束(shu)呈不同(tong)角(jiao)度時(shi)，那(na)些滿(man)足布(bu)拉格衍射的(de)晶(jing)面就會(hui)被檢測(ce)出來，體(ti)現(xian)在(zai)XRD圖(tu)譜上(shang)就是(shi)具有不(bu)同(tong)的衍(yan)射強(qiang)度的(de)衍(yan)射峰(feng)。對於非晶(jing)體(ti)材(cai)料，由(you)於其(qi)結(jie)構(gou)不存(cun)在晶(jing)體(ti)結(jie)構(gou)中原子排(pai)列的(de)長(chang)程有序，只是(shi)在幾個原子範圍(wei)內存(cun)在著(zhe)短(duan)程有序，故非晶(jing)體(ti)材(cai)料的(de)XRD圖(tu)譜為(wei)壹些(xie)漫(man)散射饅頭(tou)峰(feng)。

 

　　X射線(xian)衍(yan)射(she)儀(yi)采用(yong)θ/2θ掃描(miao)方(fang)式,X射(she)線(xian)光(guang)管(guan)固定,可以顯(xian)著(zhu)提(ti)高衍射(she)儀的穩(wen)定性,樣品臺與探測(ce)器采用(yong)θ/2θ掃描(miao)方(fang)式滿(man)足多(duo)功能(neng)的(de)分(fen)析(xi)測(ce)試的要求;整(zheng)體(ti)配(pei)置技術zui為(wei)成熟,穩(wen)定性較高,維護費用(yong)zui低。

 

　　1.該(gai)設(she)備采用(yong)的高(gao)壓(ya)發(fa)生器為(wei)可(ke)控矽(gui)高(gao)壓(ya)發(fa)生器,該(gai)高壓(ya)發(fa)生器具有較(jiao)強(qiang)的(de)抗(kang)電流(liu)尖峰(feng)幹擾的能(neng)力(li);

 

　　2.獨(du)立的(de)X射線(xian)光(guang)管(guan)控制系統(tong),僅在測(ce)試過(guo)程中產生高(gao)壓(ya),提高光(guang)管(guan)使用(yong)壽命(ming)的(de)同(tong)時,也(ye)降(jiang)低(di)了(le)操(cao)作(zuo)人(ren)員接(jie)觸(chu)X射線(xian)輻(fu)照(zhao)的(de)幾率;.

 

　　3.該(gai)設(she)備具有標配(pei)的測(ce)角(jiao)儀(yi)回(hui)擺(bai)功(gong)能(neng),其(qi)他(ta)品(pin)牌(pai)通常(chang)為(wei)選配(pei)功能(neng)。