工(gong)業(ye)CT在制(zhi)備過程(cheng)中(zhong)容易產(chan)生(sheng)的(de)缺(que)陷有哪些(xie)

　　使用工業(ye)CT時離開實(shi)際(ji)需要(yao)，片面(mian)追(zhui)求(qiu)個別的(de)高(gao)指標更為有(you)害(hai)，典(dian)型的(de)就(jiu)是片面(mian)追(zhui)求(qiu)高空(kong)間(jian)分辨率(lv)。空間(jian)分辨率(lv)，密(mi)度分(fen)辨率(lv)和壹(yi)個斷(duan)層(ceng)圖像(xiang)的(de)平(ping)均(jun)產(chan)生(sheng)時間(jian)這(zhe)三(san)項技術(shu)指標是互(hu)相(xiang)制(zhi)約(yue)的(de)，壹(yi)項指標的(de)提(ti)高可能(neng)帶(dai)來(lai)其(qi)他指標的(de)降(jiang)低(di)。對(dui)於(yu)空間分辨率(lv)也有(you)壹(yi)個認(ren)識上(shang)的(de)誤(wu)區(qu)。有人以(yi)為探(tan)測(ce)器越小空間(jian)分(fen)辨率(lv)就壹(yi)定更高，探(tan)測(ce)器數(shu)量越多(duo)系(xi)統越先進(jin)。這(zhe)就(jiu)使有些本(ben)來(lai)不適(shi)合使(shi)用(yong)面(mian)探(tan)測(ce)器，尤(you)其(qi)是半導(dao)體芯(xin)片探(tan)測(ce)器的(de)場(chang)合使(shi)用(yong)了這(zhe)些(xie)探(tan)測(ce)器，不(bu)僅影響(xiang)了總(zong)體性(xing)能(neng)，空間分(fen)辨率(lv)也沒有達到(dao)預想(xiang)的(de)結(jie)果。看(kan)起(qi)來(lai)上(shang)面(mian)的(de)說(shuo)法似(si)乎不(bu)合邏(luo)輯(ji)，在這(zhe)裏(li)值得(de)註(zhu)意的(de)是(shi)理論空間(jian)分(fen)辨率(lv)的(de)極(ji)限(xian)與實(shi)際(ji)系(xi)統在特定條件(jian)下空間分辨率(lv)並不(bu)永遠有(you)良(liang)好的(de)對(dui)應(ying)關系(xi)。如(ru)前(qian)面(mian)已(yi)經分析(xi)過的(de)，決(jue)定系(xi)統理論空間分(fen)辨率(lv)的(de)因(yin)素並(bing)不(bu)僅僅探(tan)測(ce)器寬度壹項，還有別的(de)因(yin)素；同時(shi)任(ren)何實(shi)際(ji)的(de)測(ce)量都是在存在系(xi)統噪聲的(de)條件(jian)下進行的(de)，探(tan)測(ce)器越小通常(chang)帶(dai)來(lai)的(de)是(shi)信噪比低(di)，可以(yi)想(xiang)象淹(yan)沒在噪聲中(zhong)的(de)圖(tu)像如(ru)何分(fen)辨細(xi)節呢？這(zhe)樣(yang)上(shang)面(mian)的(de)結(jie)論在很多(duo)實(shi)際(ji)情(qing)況下就合乎(hu)邏(luo)輯(ji)了。為了(le)幫(bang)助理解這(zhe)個問題(ti)，我(wo)們(men)還(hai)可以(yi)數(shu)碼相機為例(li)，壹(yi)般說(shuo)來(lai)相機(ji)好壞(huai)主(zhu)要(yao)看(kan)鏡頭(tou)質(zhi)量和芯(xin)片(pian)尺寸(cun)大(da)小，並不(bu)簡(jian)單(dan)地是像(xiang)素越多(duo)相(xiang)機就越好(hao)；壹般(ban)情(qing)況下在像素數(shu)目相同時(shi)，芯(xin)片尺寸(cun)越大(da)越貴(gui)，也就(jiu)是(shi)單(dan)個成(cheng)像(xiang)單元尺寸(cun)越大(da)越好(hao)。毫無疑(yi)問，照(zhao)片(pian)的(de)清(qing)晰(xi)度(du)是(shi)照(zhao)相(xiang)機的(de)價(jia)格和質(zhi)量的(de)基本因(yin)素。
 

　　工(gong)業(ye)CT檢(jian)測(ce)技術(shu)能夠(gou)直(zhi)接給(gei)出(chu)復合材(cai)料(liao)構件斷(duan)層(ceng)的(de)數(shu)字圖(tu)像(xiang)，準確顯示(shi)構件內(nei)部結(jie)構、缺陷(xian)的(de)性(xing)質(zhi)、形狀(zhuang)、位置、大(da)小等信息、檢(jian)查(zha)構件內(nei)部裝配正確(que)性(xing)及材(cai)料(liao)密(mi)度分(fen)布的(de)均(jun)勻性(xing)；同時(shi)，CT成(cheng)像技術(shu)可獲(huo)得(de)構件多(duo)層(ceng)二維圖(tu)像(xiang)，從(cong)而(er)實(shi)現(xian)三維顯(xian)示(shi)、分析(xi)、測(ce)量及反演功能(neng)，能(neng)夠(gou)全方面(mian)滿(man)足復合材(cai)料(liao)的(de)檢(jian)測(ce)需求(qiu)。
 

　　復合材(cai)料(liao)在制(zhi)備過程(cheng)中(zhong)容易產(chan)生(sheng)的(de)缺(que)陷有：孔隙、夾(jia)雜、纖(xian)維卷(juan)曲、纖(xian)維斷(duan)裂、纖(xian)維分(fen)層(ceng)、富脂(zhi)、貧脂(zhi)、裂紋(wen)、疏松、纖(xian)維/基體界(jie)面(mian)開裂、缺(que)層(ceng)、輔(fu)層(ceng)搭接(jie)過(guo)多(duo)等。從(cong)圖中(zhong)可以(yi)清(qing)楚(chu)的(de)看(kan)到(dao)構件的(de)結(jie)構、材(cai)料(liao)的(de)密(mi)度分(fen)布以(yi)及各種缺(que)陷(xian)，如(ru)分層(ceng)、疏松、氣(qi)孔(kong)、裂紋(wen)、纖(xian)維分(fen)布(bu)等；還可以(yi)直(zhi)觀的(de)看(kan)到(dao)各(ge)構件及缺陷的(de)空(kong)間位置等；同時(shi)，結(jie)合我(wo)公司自(zi)行開發(fa)的(de)系(xi)統軟(ruan)件可準確測(ce)量各(ge)結(jie)構、各缺(que)陷的(de)尺(chi)寸(cun)及材(cai)料(liao)密(mi)度分(fen)布情(qing)況，所以(yi)工業(ye)CT成(cheng)像(xiang)技術(shu)對(dui)復(fu)合材(cai)料(liao)構件的(de)檢(jian)測(ce)是壹(yi)種行之(zhi)有效的(de)手(shou)段。