X射(she)線檢測可(ke)檢測物(wu)品(pin)內部傷斷缺陷

　　X射線與自然光並(bing)沒有本質(zhi)的(de)區(qu)別，都(dou)是(shi)電(dian)磁波，只(zhi)是X射線的(de)光量子(zi)的(de)能量遠(yuan)大於可(ke)見(jian)光。它能夠穿透可(ke)見(jian)光不(bu)能(neng)穿(chuan)透的(de)物體(ti)，而且在(zai)穿(chuan)透物(wu)體(ti)的(de)同(tong)時(shi)將(jiang)和(he)物(wu)質發(fa)生(sheng)復(fu)雜(za)的(de)物理和(he)化(hua)學(xue)作用(yong)，可(ke)以使(shi)原子(zi)發生(sheng)電(dian)離(li)，使某(mou)些物質發出熒光，還可(ke)以使(shi)某(mou)些物質產生(sheng)光化學(xue)反(fan)應(ying)。如(ru)果(guo)工(gong)件(jian)局部區(qu)域存(cun)在缺陷，它(ta)將改變(bian)物體(ti)對射(she)線(xian)的(de)衰減，引(yin)起透射(she)射(she)線(xian)強度的(de)變(bian)化，這(zhe)樣(yang)，采用(yong)壹定的(de)檢測方(fang)法(fa)，比(bi)如利(li)用(yong)膠片(pian)感(gan)光，來(lai)檢測透射(she)線(xian)強度，就可(ke)以判(pan)斷工(gong)件(jian)中是否存(cun)在缺陷以及(ji)缺陷的(de)位置(zhi)、大小(xiao)。
　　
　　X射(she)線檢測是(shi)利(li)用(yong)X射線的(de)穿透能(neng)力(li)，在工(gong)業(ye)上(shang)壹般(ban)用(yong)於檢測壹些人(ren)眼所(suo)看(kan)不(bu)到的(de)物品(pin)內部傷斷缺陷或(huo)電(dian)路(lu)的(de)短路(lu)故(gu)障(zhang)等(deng)。例如，檢測多層基(ji)板(ban)內(nei)部電(dian)路(lu)有無短路(lu)，X射(she)線(xian)可(ke)穿(chuan)透基(ji)板(ban)的(de)表面(mian)到達(da)基板(ban)的(de)內部電(dian)路(lu)，在(zai)X射(she)線(xian)檢測對面(mian)有個數(shu)據(ju)接收器(qi)，自動(dong)將接收到的(de)輻射轉(zhuan)換(huan)成(cheng)電(dian)信(xin)號並(bing)傳到擴(kuo)張(zhang)板(ban)中(zhong)，通(tong)過的(de)軟(ruan)件(jian)將圖像在(zai)顯(xian)示(shi)器(qi)中顯(xian)示(shi)出來(lai)，這(zhe)樣(yang)操作人(ren)員就(jiu)可(ke)以觀測到基(ji)板的(de)內部結(jie)構(gou)。
　　
　　在厚(hou)度壹定的(de)情況(kuang)下，X射(she)線(xian)的(de)能量值為(wei)常(chang)量。當(dang)安(an)全快門打開時(shi)，X射(she)線將從(cong)X射(she)線(xian)源(yuan)和(he)探(tan)頭之(zhi)間(jian)的(de)被測材(cai)料中通過，被測材(cai)料將壹部(bu)分(fen)能(neng)量(liang)吸(xi)收(shou)，剩余的(de)X射線被(bei)位於X射(she)線(xian)源(yuan)正(zheng)上方的(de)探頭接(jie)收，探頭(tou)將所(suo)接(jie)收(shou)的(de)X射線轉(zhuan)換(huan)為(wei)與(yu)之(zhi)大小(xiao)相(xiang)關的(de)輸出電(dian)壓(ya)。如(ru)果改變(bian)被測材(cai)料的(de)厚(hou)度，則(ze)所吸收(shou)的(de)X射線量(liang)也(ye)將(jiang)改變(bian)，這將(jiang)使(shi)探(tan)頭所(suo)接收的(de)X射線量(liang)發生變(bian)化，檢測信(xin)號也(ye)隨(sui)之(zhi)發(fa)生相(xiang)應的(de)變(bian)化。
　　
　　簡(jian)而言(yan)之(zhi)，射(she)線在(zai)穿透壹定的(de)物質時(shi)，其(qi)強度呈(cheng)指(zhi)數(shu)規律(lv)衰(shuai)減(jian)，這(zhe)和(he)半(ban)衰期(qi)的(de)公式(shi)相(xiang)似，其(qi)公式(shi)為(wei)
　　
　　I=TrxEXP(-U，X)
　　
　　式(shi)中(zhong)Tr壹初(chu)始(shi)射線強度；
　　
　　I壹穿(chuan)過物體(ti)後的(de)射線強度；
　　
　　U壹衰(shuai)減系(xi)數(shu)；
　　
　　X-射線穿過的(de)厚(hou)度。
　　
　　對於(yu)不(bu)同(tong)昀(yun)材(cai)料，其U值是不(bu)同(tong)的(de)，因(yin)此(ci)使(shi)用(yong)射線測量(liang)厚(hou)度時(shi)必(bi)須(xu)知(zhi)道被測材(cai)料的(de)U值。壹般(ban)而言(yan)，密(mi)度越(yue)大的(de)材料其U值就越(yue)大。例如，鉛的(de)密度在天(tian)然非放射(she)性(xing)元(yuan)素(su)中的(de)密度是大的(de)，對射(she)線(xian)的(de)阻(zu)擋(dang)能力(li)強，因(yin)此(ci)在(zai)核(he)技術(shu)實驗(yan)中(zhong)用(yong)做防護(hu)材(cai)料。