關(guan)於(yu)X射(she)線(xian)衍射(she)儀(yi)的由(you)來(lai)介紹(shao)

　　
　　
　　1895年(nian)，德國物(wu)理(li)學家(jia)倫(lun)琴研究(jiu)陰(yin)極射(she)線(xian)時發(fa)現(xian)了X射(she)線(xian)。隨(sui)後，1912年德國物(wu)理(li)學家(jia)勞厄(e)發(fa)現(xian)了X射(she)線(xian)的晶(jing)體(ti)衍(yan)射(she)現(xian)象，證(zheng)實(shi)了(le)X射(she)線(xian)的電(dian)磁(ci)波(bo)本質及(ji)晶(jing)體(ti)內(nei)部的(de)原(yuan)子、分子(zi)、離(li)子是(shi)作(zuo)規(gui)則的周(zhou)期(qi)性(xing)排列(lie)，開創(chuang)了(le)X射(she)線(xian)衍射(she)分析(xi)研究(jiu)微(wei)觀(guan)結(jie)構(gou)的新領域。1913年英國(guo)物(wu)理(li)學家(jia)布(bu)拉格父(fu)子在(zai)勞厄(e)發(fa)現(xian)的基礎上(shang)，以晶(jing)面反射(she)來(lai)描(miao)述晶(jing)體(ti)衍(yan)射(she)現(xian)象，提(ti)出(chu)了(le)簡(jian)明而(er)易於(yu)使(shi)用的(de)布(bu)拉格方(fang)程：2dsinθ=nλ（式(shi)中λ為X射(she)線(xian)的波(bo)長(chang)，d為(wei)晶(jing)面距離(li)，θ為入(ru)射(she)線(xian)與晶(jing)面的夾角(jiao)，n為(wei)任何正整數(shu)），發(fa)展(zhan)了X射(she)線(xian)晶(jing)體(ti)學(xue)。
　　
　　x射(she)線(xian)的波(bo)長(chang)和晶(jing)體(ti)內(nei)部原(yuan)子面之間(jian)的間(jian)距相(xiang)近，晶(jing)體(ti)可(ke)以(yi)作(zuo)為(wei)X射(she)線(xian)的空(kong)間(jian)衍射(she)光(guang)柵(zha)，即壹(yi)束X射(she)線(xian)照射(she)到(dao)物(wu)體(ti)上(shang)時，受到(dao)物(wu)體(ti)中原(yuan)子的(de)散射(she)，每個(ge)原(yuan)子都(dou)產(chan)生散射(she)波(bo)，這些(xie)波(bo)互(hu)相幹(gan)涉，結果(guo)就產(chan)生衍(yan)射(she)。
　　
　　對(dui)於(yu)晶(jing)體(ti)材(cai)料，當(dang)待測晶(jing)體(ti)與(yu)入(ru)射(she)束呈(cheng)不(bu)同(tong)角度(du)時，那些滿足(zu)布(bu)拉格衍(yan)射(she)的(de)晶(jing)面就會(hui)被(bei)檢(jian)測出(chu)來(lai)，體現(xian)在(zai)XRD圖譜(pu)上(shang)就是(shi)具(ju)有(you)不同(tong)的(de)衍(yan)射(she)強(qiang)度(du)的衍(yan)射(she)峰(feng)。對(dui)於(yu)非晶(jing)體(ti)材(cai)料，由(you)於(yu)其結(jie)構(gou)不存(cun)在(zai)晶(jing)體(ti)結(jie)構(gou)中原(yuan)子排(pai)列(lie)的長(chang)程(cheng)有(you)序，只(zhi)是(shi)在(zai)幾(ji)個(ge)原(yuan)子範(fan)圍內(nei)存(cun)在(zai)著(zhe)短(duan)程(cheng)有(you)序，故非晶(jing)體(ti)材(cai)料的XRD圖譜(pu)為壹(yi)些(xie)漫(man)散射(she)饅(man)頭峰(feng)。
　　
　　應(ying)用範(fan)圍：
　　
　　X射(she)線(xian)衍射(she)儀(yi)在(zai)當(dang)今科技(ji)領域裏用來(lai)分析(xi)各種物(wu)質成(cheng)分結(jie)構(gou)的測試(shi)儀(yi)器已得到(dao)了廣泛的(de)應用。對(dui)材(cai)料學、物(wu)理(li)學、化(hua)學、地(di)質、環(huan)境(jing)、納(na)米(mi)材(cai)料、生物(wu)等領域來(lai)說，X射(she)線(xian)衍射(she)儀(yi)都是(shi)物(wu)質表征和質量(liang)控(kong)制(zhi)*的方(fang)法。XRD能(neng)分析(xi)晶(jing)體(ti)材(cai)料諸(zhu)如產(chan)業(ye)廢(fei)棄(qi)物(wu)、礦物(wu)、催(cui)化劑(ji)、功(gong)能(neng)材(cai)料等的(de)相(xiang)組(zu)成(cheng)分析(xi)，大(da)部分晶(jing)體(ti)物(wu)質的(de)定(ding)量(liang)、半定(ding)量(liang)分析(xi)；晶(jing)體(ti)物(wu)質晶(jing)粒大(da)小的(de)計(ji)算(suan)；晶(jing)體(ti)物(wu)質結(jie)晶(jing)度(du)的計(ji)算(suan)等。