X射(she)線(xian)衍射(she)儀(yi)主要的4部(bu)分(fen)部(bu)件(jian)介(jie)紹(shao)

　　

　　X射(she)線(xian)衍射(she)法是(shi)壹種利用(yong)單色(se)X射(she)線(xian)光(guang)束照(zhao)射(she)到(dao)壹顆晶體(ti)或眾多(duo)隨(sui)機(ji)取向的微小(xiao)晶體(ti)來(lai)測量(liang)樣品分子三(san)維立體(ti)結(jie)構(gou)或特征(zheng)X射(she)線(xian)衍射(she)圖(tu)譜的(de)檢(jian)測分析方(fang)法。

　　

　　X射(she)線(xian)衍射(she)儀(yi)對單晶、多(duo)晶和非(fei)晶樣品進(jin)行結(jie)構(gou)參(can)數(shu)分(fen)析，如(ru)物相鑒(jian)定(ding)和定(ding)量(liang)分析、室(shi)溫(wen)至(zhi)高(gao)溫(wen)段(duan)的物相分(fen)析、晶胞參(can)數(shu)測定(ding)（晶體(ti)結(jie)構(gou)分(fen)析）、多(duo)晶X-射(she)線(xian)衍射(she)的(de)指標(biao)化(hua)以及(ji)晶粒尺(chi)寸(cun)和結(jie)晶度的(de)測定(ding)等。可地(di)測定(ding)物質的晶體(ti)結(jie)構(gou)，如(ru)：物相定(ding)性(xing)與(yu)定(ding)量(liang)分析，衍射(she)譜的(de)指標(biao)化(hua)及點(dian)陣參數(shu)。

　　

　　X射(she)線(xian)衍射(she)儀(yi)的形(xing)式多(duo)種多(duo)樣，用(yong)途各(ge)異(yi)，但(dan)其(qi)基本構(gou)成很(hen)相似，主要(yao)部(bu)件(jian)包(bao)括(kuo)4部(bu)分(fen)。

　　

　　（1）高(gao)穩定(ding)度X射(she)線(xian)源(yuan)提供(gong)測量(liang)所(suo)需的(de)X射(she)線(xian),改變X射(she)線(xian)管(guan)陽極靶材質可改(gai)變X射(she)線(xian)的波長(chang),調(tiao)節(jie)陽極電壓可控(kong)制X射(she)線(xian)源(yuan)的(de)強度(du)。

　　

　　（2）樣品及樣品位置取向的調整機(ji)構系統樣品須是單(dan)晶、粉(fen)末、多(duo)晶或微晶的固(gu)體(ti)塊(kuai)。

　　

　　（3）射(she)線(xian)檢(jian)測器檢(jian)測衍射(she)強(qiang)度或同時(shi)檢(jian)測衍射(she)方(fang)向,通過儀器測量(liang)記(ji)錄系統或計(ji)算機(ji)處理系統可以得(de)到(dao)多(duo)晶衍射(she)圖(tu)譜數(shu)據。

　　

　　（4）衍射(she)圖(tu)的處理分析系統現(xian)代(dai)X射(she)線(xian)衍射(she)儀(yi)都附帶(dai)安裝(zhuang)有(you)衍射(she)圖(tu)處理分析軟件(jian)的計(ji)算機(ji)系統,它(ta)們的特點是(shi)自動(dong)化(hua)和智(zhi)能化(hua)。

　　

　　應用(yong)範圍(wei)：

　　

　　對(dui)材料(liao)學、物理學、化(hua)學、地質、環(huan)境(jing)、納(na)米(mi)材料、生物等領域(yu)來(lai)說(shuo)，X射(she)線(xian)衍射(she)儀(yi)都是物質表(biao)征(zheng)和(he)質量(liang)控制*的方(fang)法。XRD能(neng)分析晶體(ti)材料諸(zhu)如(ru)產(chan)業廢(fei)棄物、礦物、催化(hua)劑(ji)、功(gong)能(neng)材料等的相(xiang)組(zu)成分析，大(da)部(bu)分(fen)晶體(ti)物質的定(ding)量(liang)、半(ban)定(ding)量(liang)分析；晶體(ti)物質晶粒大(da)小的(de)計(ji)算；晶體(ti)物質結(jie)晶度的(de)計(ji)算等。