X射(she)線輻(fu)照儀(yi)的(de)操(cao)作(zuo)模(mo)式(shi)介(jie)紹

　　X射(she)線輻(fu)照儀(yi)在輻(fu)照食(shi)品(pin)檢測(ce)領(ling)域是通用的(de)方(fang)法(fa)，適(shi)用(yong)於(yu)檢測(ce)可以分(fen)離(li)出(chu)矽(gui)酸鹽(yan)礦物(wu)質的(de)食(shi)品(pin)。是(shi)由同(tong)相(xiang)振蕩(dang)且互(hu)相垂直的(de)電(dian)場(chang)與(yu)磁(ci)場(chang)在空間(jian)中以波的(de)形(xing)式(shi)移(yi)動(dong)，其傳播方(fang)向(xiang)垂直於電場與(yu)磁(ci)場(chang)構成(cheng)的(de)平(ping)面，有(you)效(xiao)的(de)傳遞能(neng)量(liang)和(he)動(dong)量(liang)。電磁(ci)輻(fu)射(she)按照頻(pin)率分(fen)類(lei)，從(cong)低頻(pin)率到高(gao)頻率，包(bao)括有無線(xian)電(dian)波、微(wei)波、紅外線、可見光(guang)、紫外光、X-射(she)線和(he)伽馬(ma)射(she)線等(deng)等。
 

　　自然(ran)界中(zhong)絕(jue)大多數的(de)固(gu)體(ti)是晶體(ti)，而所(suo)有的(de)晶體(ti)在空間(jian)結構上都有(you)缺陷(晶格缺陷)。輻(fu)照使礦(kuang)物(wu)晶體(ti)電離(li)，產生遊離(li)電子(zi)。壹些遊離電(dian)子(zi)被較高(gao)能(neng)態(tai)的(de)晶格缺陷捕(bu)獲(huo)後(hou)，成(cheng)為陷獲電子(zi)儲(chu)存在陷阱中。積(ji)蓄的(de)能(neng)量(liang)在加(jia)熱(re)過程中以光的(de)形(xing)成(cheng)釋放(fang)出(chu)來的(de)壹(yi)種(zhong)物(wu)理(li)現象。這(zhe)種(zhong)現(xian)象是(shi)壹次性的(de)，也就是固(gu)體(ti)在受(shou)輻(fu)射(she)作(zuo)用(yong)後(hou)，只(zhi)有(you)被加熱(re)時才(cai)會(hui)有(you)光被釋放(fang)出(chu)來。在以後(hou)的(de)加(jia)熱(re)過程中，除(chu)非(fei)重新再(zai)接受(shou)輻(fu)射(she)作(zuo)用(yong)，否(fou)則(ze)將(jiang)不會(hui)有(you)發(fa)光(guang)現(xian)象。X射(she)線輻(fu)照儀(yi)正(zheng)是利用晶體(ti)這壹(yi)特性開發(fa)出(chu)的(de)輻(fu)照食(shi)品(pin)檢測(ce)方(fang)法。
 

　　X射(she)線輻(fu)照儀(yi)有(you)兩(liang)種(zhong)操(cao)作(zuo)模(mo)式(shi)可以選(xuan)擇：
 

　　1、篩(shai)查(zha)模式(shi)：根(gen)據(ju)設(she)定好(hao)的(de)閾(yu)值及時間參數(shu)，將(jiang)樣品(pin)放(fang)入樣(yang)品(pin)室(shi)後(hou)只(zhi)需輕(qing)輕按壹下(xia)測(ce)試(shi)按鈕(niu)，15秒即可給出結果。篩(shai)查(zha)模式(shi)無需連(lian)接電腦(nao)。非(fei)常(chang)適(shi)合對常(chang)規樣品的(de)例(li)行(xing)快速檢測(ce)。
 

　　2、與(yu)電腦(nao)連(lian)接使用(yong)：當與(yu)電腦(nao)連(lian)接使用(yong)時，可以通過軟件(jian)自定義測(ce)量(liang)參數(例(li)如測(ce)量(liang)時間、閾(yu)值標(biao)準和(he)數(shu)據記錄條(tiao)件(jian)等等)，可以獲得(de)樣(yang)品具體(ti)的(de)光(guang)子(zi)計數，可以測(ce)定暗計數(無光(guang)刺激時樣品室(shi)的(de)光(guang)子(zi)計數率)、空室(shi)計數(吳樣(yang)品(pin)時的(de)計數率，以了(le)解(jie)樣品(pin)室(shi)是否汙(wu)染(ran))，以及光(guang)電(dian)倍(bei)增(zeng)管靈(ling)敏度(du)測(ce)試(shi)等等，並可以對篩(shai)查(zha)結果不確定的(de)樣(yang)品(pin)進行(xing)校正測(ce)定等等(deng)。