磁材料(liao)的方法在X射線(xian)探(tan)傷(shang)機(ji)中怎麽(me)使(shi)用

　　X射線(xian)探(tan)傷(shang)機(ji)無損檢(jian)測(ce)在檢測中不會(hui)對(dui)檢測對(dui)象(xiang)造(zao)成損傷(shang)，因(yin)此在工業及工程(cheng)中的應(ying)用非常多。X射線(xian)探(tan)傷(shang)機(ji)是無(wu)損檢(jian)測(ce)的常(chang)用儀(yi)器(qi)，了解(jie)X射線(xian)探(tan)傷(shang)機(ji)的相關(guan)內(nei)容可以(yi)更(geng)好(hao)地(di)進(jin)行(xing)無損檢(jian)測(ce)。工作原理(li)是利(li)用X射線(xian)穿(chuan)透物質和在物質中有(you)衰減(jian)的特性來發現(xian)其(qi)中缺陷(xian)。X射線(xian)具(ju)有(you)穿(chuan)透性，它能(neng)穿(chuan)透可見(jian)光(guang)不(bu)能(neng)穿(chuan)透的物質。X射線(xian)透過樣品(pin)時，會(hui)產生(sheng)吸(xi)收現(xian)象(xiang)。物質的(de)致(zhi)密度(du)、厚度(du)的不(bu)同(tong)會使(shi)X射線(xian)影(ying)像成像出現差異。
 

　　當(dang)金(jin)屬鑄件在壓鑄過(guo)程(cheng)中，零件成型質量的優(you)劣往往(wang)會(hui)因(yin)工藝(yi)參數、車床狀(zhuang)況(kuang)的不(bu)同(tong)而有(you)很(hen)大差異。相應(ying)地(di)成型後零(ling)件的厚(hou)度(du)、致(zhi)密性等也會不(bu)同(tong)。當X射線(xian)照(zhao)射零件時，零(ling)件致(zhi)密的地(di)方和有(you)缺(que)陷(xian)的地(di)方吸(xi)收和透過X射線(xian)的(de)量的多(duo)少(shao)也會(hui)有(you)很(hen)大差別。因(yin)此，零(ling)件質量致(zhi)密度(du)與(yu)缺陷(xian)都會在透視熒光(guang)屏(ping)上(shang)出現亮與(yu)暗的(de)差別。
 

　　磁材料(liao)的方法被(bei)應用(yong)，使(shi)得(de)在除了(le)磁性粉(fen)末的(de)X射線(xian)探(tan)傷(shang)機(ji)應與(yu)當“黑(hei)”可以(yi)由(you)光活(huo)化材(cai)料(liao)，所述(shu)濃縮物可以(yi)同(tong)樣地(di)使(shi)用用(yong)於濕壹個(ge)時(shi)間進(jin)行(xing)塗覆(fu)。這種方法可以(yi)在下列情(qing)況(kuang)下使(shi)用：
 

　　1、當(dang)采(cai)用石油蒸餾物或者水(shui)時，除了(le)懸(xuan)浮物應含有(you)0.1%-0.7%體(ti)積(ji)的固(gu)體(ti)材(cai)料(liao)外，還(hai)應遵(zun)守(shou)X射線(xian)探(tan)傷(shang)機(ji)中攪拌(ban)濕介質時(shi)所規定(ding)的(de)相同(tong)方法；
 

　　2、當磁粉(fen)探(tan)傷(shang)儀(yi)中沒(mei)有(you)液體時(shi)，也(ye)可采(cai)用該方法進行(xing)磁粉(fen)的應(ying)用(yong)；
 

　　3、如(ru)果所(suo)選擇(ze)的磁性的(de)磁性粉(fen)末，在暗室(shi)中以(yi)“黑光”，以(yi)及15英寸(cun)黑光的(de)距離(li)，並且光強度(du)需要(yao)測試(shi)達到(dao)1000μW/厘(li)米(mi)2。在黑色的(de)光(guang)檢測(ce)過(guo)程應在發光波(bo)長範(fan)圍(wei)內(nei)紫(zi)外3300-3900λ，在機(ji)器(qi)的磁性顆(ke)粒的(de)磁檢測(ce)將(jiang)受到(dao)紫(zi)外線(xian)光(guang)被(bei)發射亮。在該試驗(yan)方法中，應當(dang)註(zhu)意的是，它可(ke)被(bei)用作加(jia)熱試(shi)驗前的(de)燈(deng)泡少(shao)於五(wu)分(fen)鐘(zhong)。