妳(ni)知道(dao)工(gong)業X射(she)線機有(you)幾種(zhong)檢測(ce)方(fang)式(shi)嗎？

　　工(gong)業軟(ruan)射(she)線(xian)機主(zhu)要(yao)用於理(li)化檢測(ce)的(de)衍(yan)射(she)分(fen)析(xi)儀等。而(er)工(gong)業硬(ying)射線(xian)機主(zhu)要(yao)應用(yong)於厚(hou)材(cai)料(liao)的(de)檢測(ce)等。X射(she)線(xian)工(gong)業探(tan)傷(shang)儀的(de)檢測(ce)方(fang)式(shi)有(you)很(hen)多(duo)，常見(jian)的(de)檢測(ce)方(fang)式(shi)有(you)五(wu)種(zhong)：

　　1、x射線探傷(shang)方(fang)法

　　X射線(xian)探(tan)測(ce)器是利用射線(xian)穿透和(he)線性(xing)缺陷檢測(ce)方(fang)法。雖然(ran)這(zhe)些(xie)射線不(bu)會(hui)像用(yong)肉(rou)眼可(ke)見(jian)的(de)可(ke)以直接,但(dan)它(ta)可(ke)以使(shi)照相感(gan)光(guang)膠(jiao)片(pian),也(ye)可(ke)以使(shi)用特(te)殊的(de)拿(na)起(qi)無(wu)線(xian)電(dian)接收(shou)機。常(chang)用(yong)於檢測(ce)射線(xian)同位素x射(she)線和伽馬(ma)射(she)線，分(fen)別稱為x射(she)線(xian)檢測(ce)和射(she)線(xian)檢驗。當(dang)光(guang)線(xian)穿(chuan)過(guo)(光(guang)),材(cai)料(liao)的(de)密度、強度減弱(ruo),越大(da)越射(she)線(xian)可(ke)以穿透材(cai)料(liao)強(qiang)度。在這(zhe)壹(yi)點(dian)上,如果(guo)使(shi)用膠(jiao)卷來接收(shou),然後消極光(guang)敏(min)金(jin)額小(xiao);如果(guo)使(shi)用儀器接收(shou)、信號(hao)弱(ruo)。因(yin)此，射(she)線照(zhao)射(she)檢查(zha)零(ling)件,如果(guo)其內(nei)部(bu)缺(que)陷如氣(qi)孔(kong)、夾渣、射線通過(guo)錯誤的(de)路徑(jing)比(bi)路徑(jing)通(tong)過(guo)材(cai)料(liao)沒(mei)有(you)缺(que)陷密度較小(xiao),其強(qiang)度越少,即通過(guo)的(de)強(qiang)度事大(da),如果(guo)使(shi)用底片(pian)接收(shou)，光(guang)敏(min)數(shu)量較(jiao)大可(ke)以從這部(bu)電(dian)影反(fan)映(ying)了(le)缺(que)陷射(she)線(xian)垂(chui)直(zhi)方(fang)向的(de)平(ping)面投影如果(guo)使(shi)用其他(ta)接收(shou)器他(ta)可(ke)以使(shi)用工(gong)具(ju)來反(fan)映(ying)的(de)缺(que)陷在垂(chui)直(zhi)方(fang)向平(ping)面投影的(de)射(she)線(xian)，射線(xian)通過(guo)體積。

　　2、超聲(sheng)檢測(ce)方(fang)法

　　人的(de)耳(er)朵可(ke)以直接接收(shou)聲(sheng)波(bo)頻率範(fan)圍通(tong)常(chang)是20赫茲到20KH7.即(ji)聲(sheng)音(聲(sheng)音)的(de)頻(pin)率(lv)，稱為聲(sheng)音頻(pin)率(lv)低(di)於20赫茲,稱為超聲(sheng)高(gao)幹20KHZ。超聲(sheng)波(bo)探傷(shang)行業(ye)常(chang)用(yong)的(de)幾兆赫。超聲(sheng)波(bo)的(de)傳(chuan)播(bo)頻率(lv)高(gao),線(xian)性(xing)強,固(gu)體,易於傳(chuan)播(bo),並會(hui)見(jian)兩種(zhong)不(bu)同介(jie)質界(jie)面很(hen)容(rong)易反(fan)射(she),這樣(yang)妳就可(ke)以用它(ta)來測(ce)試(shi)。通常(chang)使(shi)用超聲(sheng)波(bo)探頭和(he)地面接觸(chu)，發出(chu)超聲(sheng)波(bo)探頭可(ke)以有(you)效的(de)工(gong)件，並(bing)能獲(huo)得(de)(缺(que)陷)界(jie)面反(fan)射(she)的(de)超聲(sheng)波(bo),同時轉(zhuan)換(huan)為(wei)電(dian)信(xin)號(hao),然後轉(zhuan)移到儀器進行(xing)處(chu)理。

　　3、磁粉探傷(shang)方(fang)法

　　磁粉探傷(shang)是基(ji)幹漏(lou)磁原理的(de)磁檢測(ce)方(fang)法。當(dang)磁場線通(tong)過(guo)鐵磁材(cai)料(liao)及(ji)其產(chan)品的(de)(磁)將產生(sheng)漏(lou)磁場,磁極的(de)離散(san)形(xing)式(shi)。在這(zhe)個時間(jian)和千磁粉或(huo)倒(dao)磁縣(xian)浮(fu),波(bo)蘭人將(jiang)吸(xi)收(shou)磁粉,可(ke)以直接用(yong)肉眼觀察(cha)到的(de)明顯(xian)的(de)磁痕(hen)，因(yin)此,可(ke)以借助(zhu)磁痕(hen)顯(xian)示(shi)鐵磁材(cai)料(liao)及(ji)其產(chan)品的(de)缺(que)陷，磁粉探傷(shang)方(fang)法可(ke)以檢測(ce)表面(mian),用(yong)肉眼或(huo)借(jie)助(zhu)放(fang)大鏡也(ye)不(bu)能(neng)直(zhi)接觀察(cha)到微(wei)小(xiao)的(de)缺(que)陷,還可(ke)以檢測(ce)不(bu)暴露面(mian),但是埋(mai)在附近的(de)表(biao)面(mian)幾奎(kui)米(mi)的(de)表(biao)面(mian)缺陷，以這種(zhong)方(fang)式(shi),雖然(ran)也(ye)能夠(gou)探(tan)測(ce)孔隨(sui)度 夾雜物(wu)數(shu)量和(he)類(lei)型(xing)未(wei)悍透等缺(que)陷,但(dan)面(mian)積(ji)更(geng)敏感的(de)缺(que)陷,更(geng)適(shi)合(he)檢查(zha)淬(cui)火 車(che)制(zhi) 鍛(duan)造(zao)鑄造、焊接、電(dian)鍍(du)、磨(mo)削、由(you)疲(pi)勞(lao)裂(lie)紋引起(qi)的(de)。

　　4、渦(wo)流探(tan)傷(shang)方(fang)法

　　渦(wo)流檢測(ce)是交流電的(de)作用產(chan)生(sheng)的(de)交變磁場檢測(ce)導電(dian)材(cai)料(liao) 誘導鍋(guo)流(liu)，如果(guo)有(you)缺(que)陷的(de)材(cai)料(liao),它(ta)將渦(wo)流幹(gan)擾,即幹擾信號的(de)形(xing)成(cheng)。與渦(wo)流探(tan)傷(shang)儀檢測(ce)幹擾(rao)信(xin)號,然後知道(dao)缺(que)陷的(de)狀(zhuang)態(tai)。據說有(you)很(hen)多(duo)因(yin)素影(ying)響(xiang)渦(wo)流渦(wo)流信(xin)號,含有(you)豐(feng)富的(de)這(zhe)些(xie)信號(hao)與材(cai)料(liao)有(you)關(guan)的(de)許多(duo)因(yin)素,將(jiang)如何(he)有(you)用(yong)信(xin)號從許多(duo)不(bu)同的(de)信(xin)號(hao),是目(mu)前渦(wo)流問題(ti),研(yan)究(jiu)人員已(yi)經(jing)取(qu)得(de)壹(yi)些進展(zhan),多(duo)年來,在壹(yi)定(ding)條件下(xia)可(ke)以解(jie)決壹些(xie)問題(ti),但(dan)還遠不(bu)能(neng)滿(man)足現(xian)場的(de)要(yao)求(qiu),技術的(de)發展。

　　渦(wo)流探(tan)傷(shang)的(de)品(pin)菜(cai)特點(dian)票豆(dou)由(you)材(cai)料(liao)可(ke)以工(gong)作 但不(bu)壹(yi)定(ding)是鐵磁材(cai)料(liao) 但(dan)減(jian)小對鐵磁材(cai)料(liao)的(de)影(ying)響(xiang)。其次(ci) 探討(tao)工(gong)性(xing)表面(mian)光(guang)海 平(ping)舊 壹(yi)邊對滿流探(tan)傷(shang)接口有(you)很(hen)大(da)的(de)影(ying)響(xiang),所以經常(chang)使(shi)用渦(wo)流檢測(ce)用幹(gan)形(xing)狀規則(ze),表面(mian)光(guang)潔(jie)銅(tong)和其他(ta)非鐵磁性(xing)丅件(jian)檢查(zha)。

　　5、滲(shen)透檢測(ce)方(fang)法

　　滲透測(ce)試(shi)是檢驗使(shi)用手(shou)細管(guan)現象(xiang)的(de)方(fang)法。零件(jian)表(biao)面光(guang)滑(hua)，清(qing)潔(jie),顏(yan)色(紅(hong)色)經(jing)常用皮帶或(huo)熒(ying)光(guang),滲(shen)透性(xing)很(hen)強(qiang)的(de)液(ye)體(ti),塗(tu)層表面(mian)的(de)地(di)上部(bu)分(fen)。如果(guo)用(yong)肉眼(yan)不(bu)能(neng)直(zhi)接表(biao)面的(de)微(wei)裂(lie)紋，由(you)於液(ye)體的(de)滲(shen)透性(xing)很(hen)強(qiang)，它(ta)將沿著裂縫滲(shen)透到根(gen)部(bu)。然(ran)後洗滲透表(biao)面的(de)液(ye)體(ti),然後塗(tu)上大量(liang)的(de)液(ye)體(ti)(通常(chang)是白(bai)色)，片(pian)刻(ke)後,由(you)幹(gan)裂(lie)紋很(hen)小(xiao).手(shou)細(xi)現象(xiang)效果(guo)明顯(xian),原(yuan)始滲透裂(lie)縫滲(shen)透將(jiang)上升到表(biao)面的(de)擴(kuo)散(san),在白(bai)色襯底顯(xian)示(shi)粗(cu)紅線,這(zhe)表(biao)明,裂紋形(xing)狀(zhuang)的(de)表(biao)面(mian)上,因(yin)此,通(tong)常被(bei)稱為滲(shen)透檢驗。