得到壹(yi)張好(hao)的CT圖像的(de)可靠(kao)因素(su)有(you)哪些(xie)

　　工業CT檢測(ce)結(jie)果主要(yao)來(lai)源(yuan)於CT圖像提(ti)供(gong)的正(zheng)常(chang)或(huo)異常信(xin)息，壹(yi)張好(hao)的CT圖像是檢測(ce)結(jie)果準確(que)性的(de)前提(ti)條(tiao)件，而(er)影(ying)響CT圖像質(zhi)量的(de)主要(yao)因素(su)包括(kuo)三方(fang)面(mian)，即(ji)空間分辨(bian)率、密(mi)度分辨(bian)率和偽像。

　　1　空間分辨(bian)率

　　空間分辨(bian)率是指從(cong)CT圖像中(zhong)能(neng)夠分辨(bian)特定的最(zui)小幾何(he)細(xi)節的(de)能(neng)力(li)，定量表(biao)示為(wei)能分辨(bian)兩個(ge)細(xi)節特(te)征(zheng)的最(zui)小間距。空間分辨(bian)率是影(ying)響圖像質(zhi)量的(de)首要(yao)因素(su)，其(qi)受(shou)有(you)效(xiao)射(she)束寬(kuan)度的影響，有(you)效(xiao)射(she)束寬(kuan)度越小，物理意(yi)義上系(xi)統的臨界空間分辨(bian)率越高(gao)。

　　影(ying)響空間分辨(bian)率的主要(yao)因素(su)如下(xia)：

　　(1)　探(tan)測(ce)器(qi)孔徑(jing)的(de)尺寸，孔(kong)徑(jing)越(yue)窄(zhai)，幾(ji)何(he)放大倍數越大，空間分辨(bian)率就越高(gao)。

　　(2) 射(she)線(xian)源(yuan)焦點(dian)尺寸，焦(jiao)點(dian)較小的X線管產生的(de)X射(she)線(xian)較窄(zhai)，可獲得較高(gao)的(de)空間分辨(bian)率。

　　(3)　射(she)線(xian)源(yuan)至探測(ce)器(qi)距離(li)壹般(ban)為(wei)定值。

　　射(she)線(xian)源(yuan)至試(shi)件(jian)距離(li)存(cun)在壹(yi)個(ge)最(zui)佳(jia)距離(li)，能使WB獲得最(zui)小值。

　　(4)　除此之外，以(yi)下(xia)因素(su)也(ye)會影響空間分辨(bian)率：

　　(1)　在圖像重(zhong)建中(zhong)選用(yong)的(de)卷(juan)積濾波(bo)器(qi)的形式(shi)不同(tong)，空間分辨(bian)率也不同。

　　(2)X射(she)線(xian)劑量、矩陣、層厚、像素(su)大小、掃描(miao)裝置噪聲(sheng)等對(dui)空間分辨(bian)率均有(you)影(ying)響。層厚越(yue)薄(bo)，空間分辨(bian)率越高(gao);但層厚越(yue)薄(bo)，噪聲(sheng)就越(yue)大，低(di)對(dui)比(bi)分辨(bian)率就會降低(di)。

　　2　密(mi)度分辨(bian)率

　　密(mi)度分辨(bian)率，又稱為(wei)低(di)對(dui)比(bi)度分辨(bian)率，是系(xi)統分辨(bian)給定物體(ti)斷層截面(mian)射(she)線(xian)衰(shuai)減(jian)系(xi)數差別(對(dui)比(bi)度)的(de)能力(li)。定量表(biao)示為(wei)給定面(mian)積上能夠分辨(bian)的細(xi)節與(yu)基體(ti)材料(liao)的(de)最(zui)小對(dui)比(bi)度。

　　密(mi)度分辨(bian)率的影響因素(su)有(you)圖像噪聲(sheng)、像素(su)寬(kuan)度、經驗系(xi)數等，其(qi)中(zhong)，影(ying)響CT系(xi)統密(mi)度分辨(bian)率的壹個(ge)重(zhong)要(yao)因素(su)是系(xi)統噪聲(sheng)，噪聲(sheng)增大，CT系(xi)統能夠分辨(bian)的最(zui)小物體(ti)對(dui)比(bi)度也(ye)增大。

　　3　偽像

　　偽(wei)像是與(yu)物(wu)體(ti)的物(wu)理結(jie)構不相符的圖像特(te)征(zheng)。產生偽(wei)像的(de)原(yuan)因有(you)很(hen)多(duo)，測(ce)量過(guo)程(cheng)中(zhong)的(de)壹系(xi)列(lie)誤(wu)差(cha)都可能造(zao)成測(ce)量數據的不(bu)壹致，從(cong)而(er)引(yin)起(qi)偽(wei)像，如機(ji)械(xie)系(xi)統精度不夠(gou)、射(she)線(xian)源(yuan)輸(shu)出能(neng)量不(bu)穩(wen)定、穿(chuan)透(tou)力(li)不(bu)足、探測(ce)器(qi)通道(dao)之間不均勻(yun)及數據采(cai)集(ji)系(xi)統電路噪聲(sheng)大等，特(te)別要(yao)說(shuo)明(ming)的(de)是掃(sao)描(miao)工藝(yi)不(bu)適當時(shi)會產生嚴(yan)重(zhong)的偽(wei)像，因此(ci)檢測(ce)人員(yuan)是否有(you)充(chong)足的經驗也(ye)是偽(wei)像產生的(de)重(zhong)要(yao)影響因素(su)。