壓(ya)鑄件(jian)X射(she)線(xian)檢(jian)測有(you)什(shen)麽(me)優缺點(dian)

　　壓鑄件(jian)X射(she)線(xian)檢(jian)測中(zhong)觀(guan)察到(dao)的(de)最(zui)常(chang)見(jian)缺陷之壹是焊點(dian)中(zhong)的空洞。根(gen)據IPC-7095C，空隙(xi)率(lv)大於35%和(he)直徑(jing)大於50%是工藝(yi)控(kong)制(zhi)的極限值(zhi)。壹(yi)般而言(yan)，如(ru)果總空隙(xi)面(mian)積超(chao)過焊球(qiu)面(mian)積的25%，則認為(wei)該產(chan)品(pin)不合格(ge)，需(xu)要(yao)返修。盡管(guan)小的(de)空洞可(ke)以通(tong)過檢(jian)查並且(qie)不需要返修，但它們仍然是應(ying)註意的工藝(yi)指標。
 

　　焊料橋接是可(ke)以通(tong)過壓(ya)鑄件(jian)X射(she)線(xian)檢(jian)測的(de)另壹個(ge)缺陷。當通(tong)過焊料連(lian)接兩(liang)個焊點(dian)時(shi)，焊料與(yu)大多(duo)數(shu)周圍(wei)材料之間存(cun)在明顯(xian)的(de)密(mi)度(du)差(cha)，因此很(hen)容(rong)易(yi)識(shi)別(bie)。
 

　　焊球(qiu)的(de)丟(diu)失(shi)在X射線(xian)檢(jian)測圖像中也(ye)非(fei)常(chang)明(ming)顯(xian)。由(you)於BGA焊球(qiu)是以(yi)陣列(lie)方(fang)式整(zheng)齊(qi)排(pai)列(lie)在器件(jian)底(di)部(bu)，因此很(hen)容(rong)易(yi)發(fa)現(xian)缺少焊球(qiu)的(de)相應位(wei)置。
 

　　壓(ya)鑄件(jian)X射(she)線(xian)檢(jian)測也(ye)很(hen)容(rong)易(yi)發(fa)現(xian)錫球(qiu)移(yi)位(wei)的問(wen)題。關鍵(jian)是檢(jian)測焊球(qiu)位(wei)移的(de)嚴重(zhong)程度(du)。通(tong)常根(gen)據具(ju)體要(yao)求判斷焊點(dian)是否(fou)合格(ge)壹(yi)般的(de)標(biao)準公式為(wei)：從(cong)焊球(qiu)中(zhong)心到焊盤(pan)中心的距(ju)離/焊盤(pan)直徑(jing)
 

　　射(she)線(xian)檢(jian)測是利(li)用(yong)各(ge)種(zhong)射(she)線(xian)對(dui)材料的透射性能及(ji)不同材料對(dui)射線(xian)的(de)吸(xi)收(shou)、衰(shuai)減(jian)程度(du)的(de)不同，使底片(pian)感光(guang)成(cheng)黑度(du)不同的圖像來觀(guan)察的(de)，是壹(yi)種行(xing)之有(you)效(xiao)而又*的檢測(ce)材料或零(ling)件(jian)內部缺陷的手段，在工業(ye)上廣(guang)泛(fan)應用(yong)。
 

　　優(you)點(dian)：
 

　　1、適(shi)用(yong)於幾(ji)乎(hu)所有(you)的(de)材料，對(dui)零件(jian)幾(ji)何形(xing)狀(zhuang)及(ji)表面粗糙度(du)均無嚴格(ge)要(yao)求，目前射線(xian)檢(jian)測主(zhu)要(yao)應(ying)用(yong)於對(dui)鑄件(jian)和(he)焊件(jian)的(de)檢(jian)測(ce)；
 

　　2、射線(xian)檢(jian)測能(neng)直(zhi)觀(guan)地(di)顯(xian)示缺陷影(ying)像(xiang)，便(bian)於對(dui)缺陷進(jin)行(xing)定(ding)性、定(ding)量(liang)和(he)定(ding)位(wei)；
 

　　3、射線(xian)底(di)片(pian)能長(chang)期(qi)存(cun)檔(dang)備(bei)查，便於分(fen)析事(shi)故(gu)原(yuan)因。
 

　　缺點(dian)：
 

　　射(she)線(xian)檢(jian)測對(dui)氣(qi)孔、夾(jia)渣(zha)、疏(shu)松(song)等體積型(xing)缺陷的檢測(ce)靈(ling)敏(min)度(du)較(jiao)高(gao)，對(dui)平面缺陷的檢測(ce)靈(ling)敏(min)度(du)較(jiao)低(di)，如(ru)當(dang)射線(xian)方(fang)向(xiang)與(yu)平面缺陷(如(ru)裂(lie)紋)垂直(zhi)時很(hen)難檢(jian)測出來。另外，射(she)線(xian)對(dui)人體有(you)害(hai)，需要有(you)保(bao)護措(cuo)施(shi)。