X射(she)線無(wu)損探傷有(you)哪(na)些(xie)功(gong)能(neng)呢(ne)?

　　在(zai)許多(duo)X射(she)線無(wu)損探傷中，磁(ci)粉(fen)探測(ce)機可(ke)以說(shuo)是(shi)壹種(zhong)應(ying)用(yong)比較廣(guang)泛的(de)檢(jian)測(ce)工具(ju)，這(zhe)主(zhu)要(yao)是由(you)於它(ta)的(de)功(gong)能(neng)和(he)優(you)點(dian)。我(wo)國(guo)很(hen)多(duo)行(xing)業都(dou)在(zai)不斷(duan)的(de)使(shi)用(yong)磁(ci)粉(fen)探測(ce)機，那(na)麽(me)X射(she)線無(wu)損探傷有(you)哪(na)些(xie)功(gong)能(neng)呢(ne)?今天(tian)在(zai)這壹(yi)章(zhang)中(zhong)，和(he)朋(peng)友們壹起來(lai)了解和探討(tao)，希(xi)望對大家(jia)X射(she)線無(wu)損探傷的(de)質(zhi)量有(you)壹(yi)些(xie)幫助。
 

　　智(zhi)能(neng)識別數(shu)字(zi)系統(tong)——它(ta)可(ke)以清晰地檢(jian)測(ce)到磁(ci)粉(fen)裂(lie)紋，檢測(ce)出磁(ci)痕(hen)，生(sheng)成(cheng)相(xiang)同(tong)或更清晰的(de)裂(lie)紋(wen)圖(tu)像。特(te)別是(shi)對於圖(tu)像灰度不均勻(yun)的(de)問題，可(ke)以增強原(yuan)始(shi)圖(tu)像保(bao)存(cun)壹(yi)些(xie)有(you)用(yong)的(de)信(xin)息(xi)。試(shi)驗(yan)結果的(de)準確(que)性(xing)和準確(que)度令(ling)人(ren)滿意。
 

　　多(duo)階(jie)段(duan)擬合(he)裂(lie)紋檢測(ce)——根(gen)據壹列(lie)裂紋(wen)的(de)性(xing)質假設(she)裂紋的(de)存(cun)在(zai)，然後(hou)從灰度圖(tu)像中(zhong)提取可(ke)能(neng)存(cun)在(zai)的(de)裂(lie)紋(wen)像(xiang)素(su)，再對裂(lie)紋(wen)進(jin)行(xing)擬合(he)，識別出(chu)真(zhen)實的(de)裂(lie)紋(wen)。結果表(biao)明，多(duo)階(jie)段(duan)擬合(he)方(fang)法(fa)提高(gao)了檢(jian)測(ce)的(de)可(ke)靠(kao)性(xing)、穩定性(xing)和通用(yong)性(xing)。
 

　　PLC觸(chu)發技(ji)術——由(you)PLC及相關器(qi)件，可(ke)控(kong)矽(gui)觸(chu)發技(ji)術進(jin)行(xing)閉(bi)環(huan)控(kong)制(zhi)，使(shi)X射(she)線無(wu)損探傷過程中的(de)電流(liu)在(zai)允許範圍內可(ke)靠(kao)工作，保(bao)證(zheng)磁(ci)化電流(liu)輸(shu)出的(de)穩(wen)定性(xing)，以提高(gao)檢測(ce)結果的(de)穩(wen)定性(xing)。
 

　　環(huan)境采集(ji)監控(kong)系統(tong)——將環(huan)境變(bian)量轉換(huan)為(wei)數(shu)字(zi)信(xin)號(hao)，通過計算性(xing)能(neng)進(jin)行(xing)識別和(he)顯(xian)示，並(bing)根(gen)據需要(yao)調整(zheng)探傷時間(jian)的(de)照(zhao)明(ming)，從而(er)實現(xian)探傷磁(ci)懸(xuan)浮液(ye)位的(de)自(zi)動(dong)控(kong)制(zhi)，提高(gao)探傷的(de)可(ke)靠(kao)性(xing)。
 

　　圖(tu)像監控(kong)與(yu)管(guan)理——X射(she)線無(wu)損探傷采用(yong)成(cheng)熟(shu)的(de)數(shu)碼相機(ji)技(ji)術采集(ji)熒(ying)光(guang)磁(ci)痕(hen)圖(tu)像，並(bing)實時傳輸，通過計算機軟(ruan)件進(jin)行(xing)處理，圖(tu)像顯(xian)示、預(yu)處理、缺陷提示和(he)局部放(fang)大，使(shi)整(zheng)個(ge)檢測(ce)過程實現(xian)自(zi)動(dong)化。
 

　　實驗後(hou)若(ruo)有(you)壹(yi)段(duan)較長(chang)的(de)時間(jian)不(bu)用(yong)機器(qi)時，控(kong)制(zhi)器(qi)和電腦(nao)；定時查看(kan)控(kong)制(zhi)器(qi)後(hou)面(mian)板(ban)的(de)銜接線能(neng)否(fou)觸(chu)摸良(liang)好(hao)，如(ru)有(you)松(song)動(dong)，應(ying)及時緊固；控(kong)制(zhi)器(qi)上(shang)的(de)接口(kou)為逐個對應(ying)，插錯接口(kou)可(ke)能(neng)對設(she)備(bei)形(xing)成(cheng)損壞(huai)；插拔(ba)控(kong)制(zhi)器(qi)上(shang)的(de)接口(kou)必(bi)需feng控(kong)制(zhi)器(qi)電源(yuan)。