現(xian)如(ru)今X射(she)線探傷機(ji)使用領域更(geng)加廣泛(fan)了,在探傷設(she)備幫(bang)助(zhu)下,工件與(yu)設備綜合使用(yong)品(pin)質(zhi)就可保證。根據實(shi)際探傷檢(jian)測(ce)要求不(bu)同,進行(xing)合適無(wu)損探傷檢(jian)測(ce)防範(fan)選擇。
無(wu)論(lun)探傷操作(zuo)者(zhe)選擇設(she)備檢(jian)測(ce)方法,都(dou)會存(cun)在壹(yi)定的(de)探傷檢(jian)測(ce)局(ju)限(xian)性。任(ren)何(he)探傷機(ji)的(de)檢(jian)測(ce)使用性能(neng)都(dou)是有(you)限的(de),大家在進行(xing)探傷檢(jian)測(ce)前,要進行(xing)仔(zai)細(xi)探傷檢(jian)測(ce)要求分析(xi),而後根據實際探傷檢(jian)測(ce)標準(zhun)選擇合適設(she)備。為提升(sheng)探傷設(she)備的(de)實用(yong)性,設備操作(zuo)者(zhe)還(hai)要仔(zai)細(xi)考慮(lv)被(bei)檢(jian)測(ce)工件的(de)規格(ge)結構與材(cai)質(zhi)因(yin)素。為提升(sheng)探傷檢(jian)測(ce)設備綜合使用(yong)性能(neng),大(da)家要盡(jin)可能(neng)選擇具(ju)有(you)綜合檢(jian)測(ce)特(te)性設備。
無損檢(jian)測(ce)是X射線探傷機(ji)大使用特(te)性,只要(yao)大(da)家能(neng)選到(dao)探傷設(she)備,就可按(an)照實(shi)際(ji)探傷檢(jian)測(ce)標準(zhun)與項(xiang)目進行(xing)檢(jian)測(ce),還(hai)要按(an)照正(zheng)規(gui)無損(sun)檢(jian)測(ce)流(liu)程(cheng)進行(xing)。
X射線(xian)探傷機(ji)日(ri)常故(gu)障因(yin)素分(fen)析(xi)
壹(yi)、產生(sheng)漏磁(ci)的(de)原(yuan)因(yin)
由於(yu)鐵磁(ci)性材(cai)料的(de)磁(ci)率遠大(da)於(yu)非鐵磁(ci)材(cai)料的(de)導磁(ci)率,根(gen)據工(gong)件被(bei)磁(ci)化後(hou)的(de)磁(ci)通密(mi)度(du)B=μH來分析(xi),在工件的(de)單位面積上(shang)穿過(guo)B根磁(ci)線,而在缺(que)陷區(qu)域的(de)單位面積上(shang)不(bu)能(neng)容(rong)許B根磁(ci)力線(xian)通過(guo),就迫使(shi)壹(yi)部(bu)分磁(ci)力線(xian)擠到(dao)缺(que)陷下面的(de)材(cai)料裏(li),其(qi)它磁(ci)力線(xian)不(bu)得不(bu)被(bei)迫逸(yi)出(chu)工件表(biao)面以(yi)外(wai)出(chu)形成(cheng)漏磁(ci),磁(ci)粉將被這(zhe)樣(yang)所引(yin)起的(de)漏磁(ci)所吸(xi)引(yin)。
二、產(chan)生(sheng)漏磁(ci)的(de)影響(xiang)因(yin)素
1、缺(que)陷的(de)磁(ci)導率(lv):缺(que)陷的(de)磁(ci)導率(lv)越小(xiao)、則漏磁(ci)越強(qiang)。
2、磁(ci)化磁(ci)場強(qiang)度(du)(磁(ci)化力(li))大(da)小:磁(ci)化力(li)越(yue)大、漏磁(ci)越強(qiang)。
3、被檢(jian)工(gong)件的(de)形狀和尺寸(cun)、缺(que)陷的(de)形狀大小、埋(mai)藏(zang)深(shen)度(du)等:當(dang)其(qi)他(ta)條(tiao)件相同時(shi),埋藏(zang)在表(biao)面下深度(du)相同的(de)氣(qi)孔產生(sheng)的(de)漏磁(ci)要比(bi)橫向(xiang)裂紋(wen)所產(chan)生(sheng)的(de)漏磁(ci)要小(xiao)。
三、某(mou)些零件為什麽要(yao)退磁(ci)
某(mou)些轉(zhuan)動(dong)部(bu)件的(de)剩磁(ci)將會(hui)吸(xi)引(yin)鐵屑而使部(bu)件在轉(zhuan)動(dong)中產生(sheng)摩(mo)擦(ca)損(sun)壞(huai),如(ru)軸類(lei)軸承(cheng)等。某(mou)些零件的(de)剩磁(ci)將會(hui)使附(fu)近(jin)的(de)儀(yi)表(biao)指(zhi)示(shi)失(shi)常。因(yin)此某(mou)些零件在磁(ci)粉探傷後(hou)要進行(xing)退磁(ci)處(chu)理。
四(si)、什麽是(shi)電磁(ci)感應(ying)?
通過(guo)閉合回路的(de)磁(ci)通量(liang)發(fa)生(sheng)變化,而在回路中產生(sheng)電動(dong)勢(shi)的(de)現(xian)象(xiang)稱為電磁(ci)感應(ying);這(zhe)樣(yang)產生(sheng)電動(dong)勢(shi)稱為感應電動勢(shi),如(ru)果導(dao)體是個(ge)閉(bi)合回路,將有(you)電流(liu)流(liu)過(guo),其(qi)電流(liu)稱為感生(sheng)電流(liu);變(bian)壓(ya)器,發(fa)電(dian)機(ji)、各(ge)種電感線圈(quan)都(dou)是根(gen)據電(dian)磁(ci)感應(ying)原(yuan)理工作(zuo)。
五(wu)、為什麽要(yao)使用靈(ling)敏試片?
使用靈(ling)敏試片目的(de)在於檢(jian)驗磁(ci)粉和磁(ci)懸液(ye)的(de)性能(neng)和(he)連(lian)續(xu)法(fa)中確(que)定試件表(biao)面有(you)效磁(ci)場強(qiang)度(du)和方向(xiang)以(yi)及操作(zuo)方法是否(fou)正(zheng)確(que)等綜合因(yin)素。