沒(mei)有計(ji)算機軟件(jian)方面(mian)的(de)進步(bu)就沒(mei)今(jin)天的(de)工(gong)業(ye)CT

　　工(gong)業(ye)CT常(chang)用的(de)掃(sao)描方式(shi)是平(ping)移(yi)壹(yi)旋(xuan)轉(zhuan)(TR)方式(shi)和只旋(xuan)轉(zhuan)(RO)方式(shi)兩種。RO掃(sao)描方式(shi)射線利(li)用效(xiao)率(lv)較(jiao)高(gao)，成像(xiang)速(su)度(du)較(jiao)快。但(dan)TR掃(sao)描方式(shi)的(de)偽像(xiang)水平遠低於RO掃(sao)描方式(shi)，且(qie)可(ke)以(yi)根(gen)據樣品大小(xiao)方便(bian)地(di)改變(bian)掃(sao)描參數(shu)(采(cai)樣數(shu)據(ju)密度(du)和掃(sao)描範圍(wei))。特(te)別(bie)是檢(jian)測(ce)大尺寸(cun)樣品時其*性(xing)更(geng)加明(ming)顯(xian)，源探測(ce)器距離(li)可(ke)以(yi)較(jiao)小(xiao)，以提(ti)高(gao)信(xin)號(hao)幅度(du)等。3D顯(xian)示計(ji)算機軟件(jian)圖(tu)像(xiang)處理及(ji)計(ji)算能力方(fang)面(mian)的(de)進步(bu)同(tong)樣是促(cu)使(shi)該技術不(bu)斷發(fa)展進(jin)步(bu)的(de)壹(yi)個(ge)重(zhong)要(yao)因素，甚(shen)至(zhi)可(ke)以(yi)說(shuo)，沒(mei)有計(ji)算機軟件(jian)方面(mian)的(de)進步(bu)，就沒(mei)有工(gong)業(ye)CT掃(sao)描技術應(ying)用(yong)如(ru)此廣泛的(de)今(jin)天。
 

　　工(gong)業(ye)CT檢(jian)測(ce)是工(gong)業(ye)計(ji)算機層析成像(xiang)技術的(de)縮(suo)寫(xie)。它可(ke)以(yi)以(yi)二維斷層圖(tu)像(xiang)或三維圖(tu)像(xiang)的(de)形式清晰，準(zhun)確(que)，直接地顯(xian)示被檢(jian)對(dui)象(xiang)的(de)內(nei)部(bu)結(jie)構和組(zu)成，而(er)不(bu)會損(sun)壞被檢(jian)對(dui)象(xiang)。材(cai)料(liao)和缺(que)陷(xian)被稱為較(jiao)好(hao)的(de)無(wu)損(sun)檢(jian)測(ce)技(ji)術。
 

　　設備的(de)三個主(zhu)要(yao)組(zu)件是X射線源(yuan)，旋(xuan)轉(zhuan)控(kong)制臺(tai)和檢(jian)測(ce)器。從X射線源(yuan)到檢(jian)測(ce)器的(de)距離(li)以(yi)及(ji)從(cong)X射線源(yuan)到掃(sao)描目標(biao)的(de)距離(li)決定(ding)了(le)CT掃(sao)描的(de)幾何(he)放(fang)大率和3DCT組(zu)件模(mo)型(xing)的(de)體(ti)素大小(xiao)。X射線設(she)備產品系列中(zhong)提供的(de)可(ke)變(bian)X射線源(yuan)到探測(ce)器距離(li)的(de)使用對(dui)於在產品檢(jian)查(zha)中(zhong)獲(huo)得準(zhun)確(que)的(de)數(shu)據(ju)至(zhi)關(guan)重(zhong)要(yao)。
 

　　工(gong)業(ye)CT檢(jian)測(ce)掃(sao)描的(de)輸(shu)出(chu)是零(ling)件的(de)3D模(mo)型(xing)，在(zai)該模(mo)型(xing)上(shang)可(ke)以(yi)執(zhi)行(xing)非常(chang)準(zhun)確(que)的(de)測量，而(er)無(wu)需(xu)任(ren)何(he)形式的(de)接觸(chu)，切(qie)割或破(po)壞。CT還(hai)可(ke)以(yi)檢(jian)查(zha)材(cai)料(liao)並(bing)識(shi)別(bie)內(nei)部(bu)缺(que)陷，例如空隙和裂(lie)縫。在檢(jian)測(ce)復(fu)合材(cai)料(liao)時，CT也可(ke)以(yi)用(yong)於層識別(bie)。
 

　　工(gong)業(ye)CT性(xing)能指標：
 

　　1.檢(jian)測(ce)範圍(wei)：主(zhu)要(yao)描述ICT的(de)檢(jian)測(ce)對(dui)象(xiang)。如(ru)果(guo)能(neng)夠傳(chuan)遞(di)鋼的(de)最(zui)大壁厚(hou)，則可(ke)以(yi)檢(jian)測(ce)出(chu)鋼零(ling)件的(de)最(zui)大車削直(zhi)徑，鋼零(ling)件的(de)最(zui)大高(gao)度(du)或長度(du)以(yi)及(ji)鋼零(ling)件的(de)最(zui)大重(zhong)量(liang)。
 

　　2.所(suo)用射線源(yuan)：X射線能(neng)量，工(gong)作電(dian)壓，工(gong)作電(dian)流和焦(jiao)距。
 

　　3.ICT掃(sao)描方法：可(ke)以(yi)使(shi)用(yong)哪(na)些(xie)掃(sao)描方法，是否具(ju)有(you)數(shu)字(zi)射線照(zhao)相(xiang)檢(jian)測(ce)或實時成像(xiang)功能等。
 

　　4.掃(sao)描檢(jian)測(ce)時間：指掃(sao)描獲取(qu)斷(duan)層數(shu)據(ju)的(de)采集時間。還(hai)包(bao)括圖(tu)像(xiang)重(zhong)建(jian)時間。