X射(she)線(xian)探傷機(ji)的(de)應(ying)用有多(duo)廣泛(fan)

　　X射(she)線(xian)探傷機(ji)是(shi)評定(ding)制品質(zhi)量的專業(ye)機(ji)械(xie)。它(ta)是壹(yi)種無損(sun)探(tan)傷，將(jiang)需(xu)要(yao)的(de)檢(jian)查的(de)物(wu)品用探傷機(ji)進(jin)行(xing)檢查(zha)，可以檢測出此物(wu)體(ti)表(biao)面(mian)是(shi)否(fou)有我(wo)們(men)所(suo)看不到微小(xiao)的裂(lie)痕，以及生產(chan)過程中(zhong)是否(fou)有夾(jia)雜物(wu)和(he)零碎的(de)發(fa)紋白(bai)點，無論有多(duo)細小(xiao)，隱藏(zang)的多(duo)*，都(dou)是可以被探傷機(ji)高(gao)敏的嗅覺(jiao)顯(xian)現(xian)出來，是可以判(pan)定(ding)出所(suo)檢測(ce)目(mu)標不連(lian)續性(xing)的位置(zhi)大小(xiao)和形(xing)狀(zhuang)。所(suo)以，探(tan)傷機(ji)的(de)應(ying)用範圍是非(fei)常(chang)廣泛的(de)。
 

　　X射線探傷機(ji)照(zhao)射生物(wu)體(ti)時(shi)，與(yu)機(ji)體(ti)細(xi)胞、組織、體(ti)液等物(wu)質(zhi)相互(hu)作用，引(yin)起物(wu)質(zhi)的原子(zi)或(huo)分(fen)子電(dian)離，因而(er)可以直接破壞機體(ti)內(nei)某(mou)些(xie)大分(fen)子結構，如(ru)使(shi)蛋(dan)白(bai)分(fen)子鏈斷裂(lie)、核(he)糖核(he)酸(suan)或脫氧(yang)核(he)糖核(he)酸(suan)的斷裂(lie)、破(po)壞壹(yi)些(xie)對物(wu)質(zhi)代謝有重要(yao)意(yi)義(yi)的酶(mei)等，甚(shen)至(zhi)可直接損傷細(xi)胞(bao)結構。另外(wai)射線(xian)可以通過電(dian)離機體內(nei)廣(guang)泛(fan)存(cun)在(zai)的水(shui)分(fen)子，形(xing)成(cheng)壹(yi)些(xie)自(zi)由(you)基，通過這些(xie)自(zi)由(you)基的(de)間接作用來損(sun)傷機(ji)體(ti)。
 

　　X射線探傷機(ji)成(cheng)像(xiang)直(zhi)觀(guan)、照相底(di)片(pian)可以長期(qi)保存，對薄(bo)壁(bi)工(gong)件(jian)探傷靈(ling)敏(min)度很(hen)高(gao)。對體(ti)積狀(zhuang)缺陷敏感，缺陷影象的平面(mian)分(fen)布真實(shi)、尺寸(cun)測量準確(que)。對工(gong)件表(biao)面(mian)光(guang)潔度沒有嚴(yan)格要(yao)求(qiu)，材料(liao)晶粒度對檢(jian)測結(jie)果影響不大,可以適(shi)用於(yu)各種材料(liao)內(nei)部(bu)缺陷檢測。所(suo)以在(zai)壓(ya)力(li)容器(qi)焊(han)接(jie)質(zhi)量檢驗(yan)中(zhong)得到廣泛應(ying)用。
 

　　x射線(xian)探(tan)傷機(ji)檢(jian)測目前被廣泛應(ying)用於(yu)工業(ye)、醫學、軍(jun)工業(ye)等(deng)主(zhu)流產(chan)業(ye)中(zhong)，具(ju)有較(jiao)強穿透(tou)力(li)的射(she)線分(fen)為：X射線(xian)、γ射(she)線、中(zhong)子射(she)線三種(zhong)。這三種(zhong)射(she)線中(zhong)X射線(xian)和γ射(she)線在(zai)無損(sun)檢(jian)測行(xing)業(ye)中(zhong)被應(ying)用的廣(guang)泛(fan)壹(yi)些(xie)，被廣泛用於(yu)鍋爐(lu)壓(ya)力(li)容器(qi)焊(han)縫(feng)和(he)其他工(gong)業(ye)產(chan)品、結構材料(liao)的(de)缺陷檢測。而(er)中(zhong)子射(she)線較(jiao)少(shao)適(shi)用，僅被應(ying)用於(yu)壹(yi)些(xie)特(te)殊(shu)檢(jian)測(ce)中(zhong)。射線(xian)探傷儀(yi)主(zhu)要(yao)檢(jian)測(ce)工件(jian)內(nei)部(bu)宏觀缺陷，有時(shi)兩(liang)種(zhong)主(zhu)流射(she)線檢測方法(fa)被用在(zai)壹(yi)起才能完成(cheng)檢(jian)測(ce)。射(she)線檢測被應(ying)用的領(ling)域(yu)範圍很(hen)廣(guang)有材料(liao)測(ce)試、視(shi)頻檢測、電(dian)子、醫學、生物(wu)學、考(kao)古學和石油(you)化(hua)工(gong)等(deng)。可以說，探(tan)傷機(ji)無處(chu)不在(zai)，可見。人們(men)對探(tan)傷機(ji)的(de)重視(shi)。