加深大(da)家(jia)對(dui)壓鑄件(jian)X射線(xian)檢(jian)測的了(le)解

　　壓鑄件(jian)X射線(xian)檢(jian)測有很強的穿透性(xing)，X射線(xian)探(tan)傷就(jiu)是(shi)利用射線(xian)得(de)穿透性(xing)和(he)直(zhi)線(xian)性來(lai)探(tan)傷的方法(fa)。射線(xian)雖(sui)然不(bu)會(hui)像可見(jian)光(guang)那(na)樣憑肉眼就(jiu)能直(zhi)接察(cha)知，但它(ta)可使(shi)照(zhao)相底片(pian)感(gan)光(guang)，也可用(yong)特殊的接收器來接收。當射線(xian)穿過(照(zhao)射)物(wu)質(zhi)時(shi)，該物(wu)質(zhi)的密(mi)度越(yue)大，射線(xian)強度(du)減弱(ruo)得(de)越(yue)多，即射線(xian)能穿透過(guo)該物(wu)質(zhi)的強度(du)就(jiu)越(yue)小(xiao)。
 

　　此時(shi)，若用(yong)照(zhao)相底片(pian)接收，則底片(pian)的感(gan)光量(liang)就(jiu)小(xiao);若(ruo)用(yong)儀器來接收，獲(huo)得的信(xin)號就(jiu)弱(ruo)。因(yin)此，用射線(xian)來(lai)照(zhao)射待探(tan)傷的零(ling)部件(jian)時(shi)，若其內部有(you)氣(qi)孔(kong)、夾(jia)渣(zha)等缺(que)陷，射線(xian)穿過有(you)缺(que)陷的路(lu)徑比沒(mei)有缺(que)陷的路(lu)徑所(suo)透過(guo)的物(wu)質(zhi)密(mi)度要(yao)小得多，其強度(du)就(jiu)減(jian)弱(ruo)得(de)少(shao)些(xie)，即透過(guo)的強度(du)就(jiu)大(da)些(xie)，若(ruo)用(yong)底片(pian)接收，則感光(guang)量(liang)就(jiu)大(da)些(xie)，就(jiu)可以(yi)從(cong)底片(pian)上反(fan)映(ying)出(chu)缺(que)陷垂直於射線(xian)方向(xiang)的平面(mian)投影(ying);若用(yong)其它(ta)接收器也同(tong)樣可以(yi)用(yong)儀表來(lai)反(fan)映(ying)缺(que)陷垂直於射線(xian)方向(xiang)的平面(mian)投影(ying)和射線(xian)的透過(guo)量(liang)。壹(yi)般(ban)情況(kuang)下(xia)，射線(xian)探(tan)傷是(shi)不(bu)易(yi)發(fa)現裂紋(wen)的，或者(zhe)說(shuo)，射線(xian)探(tan)傷對(dui)裂(lie)紋(wen)是(shi)不(bu)敏感(gan)的。
 

　　壓鑄件(jian)X射線(xian)檢(jian)測系統(tong)主要(yao)由以下七(qi)大(da)部分(fen)組成：
 

　　首(shou)先、射線(xian)源(yuan)，即產生(sheng)射線(xian)的裝置；
 

　　第(di)二(er)、圖(tu)像成像單(dan)元，即探(tan)測器。
 

　　第三、計(ji)算機(ji)圖(tu)像處(chu)理(li)系統(tong)，即上位機(ji)軟(ruan)件(jian)；
 

　　第(di)四(si)、機(ji)械系統(tong)，包(bao)括設(she)備(bei)內部的結(jie)構(gou)、傳動系統(tong)機(ji)構(gou)；
 

　　第五(wu)、電(dian)氣(qi)控制(zhi)系統(tong)：包(bao)括邏輯器件(jian)，運(yun)動控制(zhi)器件(jian)；
 

　　第(di)六、安(an)全防(fang)護系統(tong)：防(fang)護鈑(ban)金、鉛玻璃；
 

　　第(di)七(qi)、警(jing)示(shi)系統(tong)：指(zhi)示(shi)燈。
 

　　X射線(xian)源(yuan)是(shi)產(chan)生(sheng)射線(xian)的裝置，當(dang)X射線(xian)穿透被(bei)測產品(pin)後(hou)，被(bei)產(chan)品(pin)另(ling)壹(yi)邊(bian)的X射線(xian)探(tan)測器接收，探(tan)測器把不(bu)可見(jian)的X射線(xian)轉換(huan)成數(shu)字信號，再經過工作站(計算(suan)機(ji))處理(li)後(hou)，將(jiang)數(shu)字圖(tu)像顯(xian)示(shi)在顯(xian)示(shi)器屏幕上，可直(zhi)觀(guan)的看到被(bei)測產品(pin)內部的缺(que)陷性質(zhi)、大小、位置等信(xin)息，按(an)照(zhao)產品(pin)相(xiang)關工藝標(biao)準對(dui)檢(jian)測結果進(jin)行(xing)缺(que)陷評定，從(cong)而(er)達到無(wu)損(sun)檢測的目(mu)的。