電力檢(jian)測X射(she)線探(tan)傷機(ji)的系統性(xing)能及(ji)應用(yong)

更(geng)新(xin)時(shi)間(jian)：2021-03-03

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　　射線照相(xiang)法探(tan)傷是利用物(wu)質(zhi)在密度(du)不同(tong)、厚度(du)不同(tong)時(shi)對(dui)射(she)線的吸(xi)收程度(du)不同(tong)(即(ji)使(shi)射線的衰減程度(du)不同(tong)),就會(hui)使(shi)零(ling)件下面的(de)底片感光不同(tong)的原(yuan)理(li)，實現對(dui)材(cai)料或(huo)零(ling)件內(nei)部質(zhi)量的照相(xiang)探(tan)傷。

　　當射(she)線穿過密(mi)度(du)大(da)的(de)物(wu)質(zhi)，如金屬(shu)或(huo)非(fei)金屬(shu)材(cai)料時(shi),射(she)線被(bei)吸(xi)收得多，自(zi)身衰減的程度(du)大(da),使(shi)底片感光輕;當(dang)射線穿過密(mi)度(du)小(xiao)的(de)缺(que)陷(xian)(空氣(qi))時(shi)，則(ze)被(bei)吸(xi)收得少(shao),衰減小，底片感光重。這(zhe)樣就獲得反(fan)映零(ling)件內(nei)部質(zhi)量的射線底片。

　　X射線探(tan)傷是指利用X射線能夠穿透金(jin)屬(shu)材(cai)料，並由於材(cai)料對(dui)射(she)線的吸(xi)收和散(san)射(she)作(zuo)用(yong)的不同(tong)，從而使(shi)膠(jiao)片感光不壹樣，於是在底片上形(xing)成黑(hei)度(du)不同(tong)的影(ying)像(xiang)，據(ju)此來(lai)判(pan)斷(duan)材(cai)料內(nei)部缺(que)陷(xian)情(qing)況(kuang)的壹(yi)種檢(jian)驗方(fang)法。

　　電力檢(jian)測X射(she)線探(tan)傷機(ji)系統性(xing)能及(ji)特(te)點

　　1.外形(xing)小巧(qiao)便攜(xie)，同(tong)時(shi)具(ju)備(bei)顯(xian)著穿透能力

　　2.全部配件可放置在壹個包(bao)裝內(nei)，非常(chang)便(bian)攜(xie)

　　3.成本(ben)低(di)，大(da)大(da)節(jie)省人力和時(shi)間(jian)成本(ben)

　　4.友好(hao)用(yong)戶界面(mian)，操(cao)作(zuo)簡單(dan)

　　5.可輕(qing)松連接(jie)到三腳(jiao)架(jia)或(huo)定(ding)制(zhi)的(de)固定工具(ju)上

　　6.輻射(she)劑量小，安全可靠

　　7.不含有害或(huo)危(wei)險物(wu)質(zhi)，無需擔(dan)心(xin)運輸(shu)問題(ti)。

　　8.大(da)能量：270kV

　　9.其他(ta)可選配型(xing)號(hao)為XRS-3、XR150(150kV)、XR200(150kV)、XRS-4(370kV)

　　10.輸(shu)出(chu)劑量：大(da)4.0 mR/脈沖(chong)，小2.6mR/脈沖(chong)，距(ju)離射(she)線源12英(ying)寸出(chu)測量

　　11.脈沖(chong)率：常(chang)規15脈沖(chong)/秒(miao)