用X射線檢測(ce)手段(duan)為(wei)文物考(kao)古(gu)研(yan)究助(zhu)力(li)！

文物(wu)CT檢測(ce)掃(sao)描(miao)分析(xi)系統(tong)主(zhu)要(yao)分為(wei)高能(neng)量CT和(he)微(wei)焦(jiao)點(dian)CT。CT是基於計算機斷層掃(sao)描(miao)技(ji)術(shu)對文物進(jin)行(xing)2D,3D檢測(ce)。

• 對文物內(nei)部(bu)結(jie)構及形貌進(jin)行(xing)無(wu)損掃(sao)描(miao)並(bing)分析(xi)。

• 提(ti)供(gong)文物(wu)的起(qi)源，制作工藝(yi)、產地(di)和(he)用(yong)途(tu)等(deng)重要(yao)信息。

• 透視(shi)文(wen)物的(de)內(nei)部(bu)結(jie)構及進(jin)行(xing)二維、三維尺寸測(ce)量；

• 對文物的穿孔(kong)內(nei)壁，鑲嵌(qian)加(jia)工痕(hen)跡(ji)進(jin)行(xing)數(shu)據分析(xi)建(jian)立數(shu)據庫；

• 高精(jing)度(du)獲(huo)取(qu)並(bing)解(jie)讀文(wen)物(wu)的(de)三維信息，實現逆(ni)向(xiang)工程(cheng)；

• 具(ju)有相位成像功(gong)能(neng)。​

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• 文(wen)物(wu)X射線檢測(ce)系統(tong)設(she)備(bei)優(you)勢(shi)

• 選(xuan)用開放(fang)式(shi)微(wei)焦(jiao)點(dian)X射線管(guan)，分辨(bian)率高檢測(ce)更精(jing)準。

• 設(she)備(bei)設(she)計(ji)緊(jin)湊(cou)、配置(zhi)靈(ling)活，可(ke)滿(man)足(zu)客戶多種(zhong)檢測(ce)需(xu)求(qiu)。

• 掃(sao)描(miao)速度(du)塊(kuai)，圖像重建(jian)速度(du)快(kuai)。

• 運(yun)行穩(wen)定(ding)，安(an)全(quan)可(ke)靠。

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• 文(wen)物(wu)X射線檢測(ce)系統(tong)設(she)備(bei)優(you)勢(shi)

• 選(xuan)用開放(fang)式(shi)微(wei)焦(jiao)點(dian)X射線管(guan)，分辨(bian)率高檢測(ce)更精(jing)準。

• 設(she)備(bei)設(she)計(ji)緊(jin)湊(cou)、配置(zhi)靈(ling)活，可(ke)滿(man)足(zu)客戶多種(zhong)檢測(ce)需(xu)求(qiu)。

• 掃(sao)描(miao)速度(du)塊(kuai)，圖像重建(jian)速度(du)快(kuai)。

• 運(yun)行穩(wen)定(ding)，安(an)全(quan)可(ke)靠。