X射(she)線(xian)衍(yan)射(she)儀可為客戶(hu)解(jie)決(jue)哪(na)些問(wen)題(ti)？

　　

　　X射(she)線(xian)衍(yan)射(she)是利用(yong)X射(she)線(xian)在晶體中(zhong)的衍(yan)射(she)現象(xiang)來(lai)獲(huo)得(de)衍(yan)射(she)後X射(she)線(xian)信號(hao)特征，經(jing)過(guo)處(chu)理得(de)到衍(yan)射(she)圖(tu)譜。利用(yong)譜(pu)圖(tu)信息(xi)不僅可以實現常規顯微(wei)鏡(jing)的確定物(wu)相，並擁有(you)“透視眼”來(lai)看(kan)晶體內部(bu)是(shi)否存在缺(que)陷(xian)（位(wei)錯）和(he)晶格缺(que)陷(xian)等(deng)。

　　

　　X射(she)線(xian)衍(yan)射(she)作為壹(yi)電(dian)磁波(bo)投射(she)到晶體中(zhong)時，會(hui)受(shou)到晶體中(zhong)原子(zi)的散射(she)，而散(san)射(she)波(bo)就(jiu)像從(cong)原(yuan)子(zi)中心(xin)發出，每(mei)個原(yuan)子(zi)中心(xin)發出的散射(she)波(bo)類似(si)於(yu)源(yuan)球(qiu)面(mian)波(bo)。由於原子(zi)在晶體中(zhong)是周(zhou)期(qi)排(pai)列(lie)的，這(zhe)些散射(she)球(qiu)波(bo)之間(jian)存在(zai)固(gu)定(ding)的相位(wei)關(guan)系，會導(dao)致在某(mou)些散射(she)方向(xiang)的球(qiu)面(mian)波(bo)相互加(jia)強(qiang)，而在(zai)某些方向(xiang)上(shang)相(xiang)互抵消，從而出現衍(yan)射(she)現象(xiang)。

　　

　　X射(she)線(xian)衍(yan)射(she)儀基(ji)本(ben)構成：

　　

　　（1）高(gao)穩定度X射(she)線(xian)源(yuan)提(ti)供測(ce)量所需(xu)的X射(she)線(xian)，改(gai)變X射(she)線(xian)管(guan)陽(yang)極靶材(cai)質(zhi)可改(gai)變X射(she)線(xian)的波(bo)長，調節陽(yang)極電(dian)壓可控(kong)制X射(she)線(xian)源(yuan)的強(qiang)度。

　　

　　（2）樣品及(ji)樣品位(wei)置(zhi)取(qu)向(xiang)的調整機構系統樣品須(xu)是(shi)單(dan)晶、粉(fen)末(mo)、多晶或(huo)微(wei)晶的固(gu)體(ti)塊(kuai)。

　　

　　（3）射(she)線(xian)檢(jian)測(ce)器(qi)檢(jian)測(ce)衍(yan)射(she)強(qiang)度或(huo)同(tong)時(shi)檢(jian)測(ce)衍(yan)射(she)方向(xiang)，通過(guo)儀(yi)器(qi)測(ce)量記(ji)錄(lu)系統或(huo)計算機處理系統可以得(de)到多(duo)晶衍(yan)射(she)圖(tu)譜數(shu)據。

　　

　　（4）衍(yan)射(she)圖(tu)的處理分析(xi)系統現代(dai)X射(she)線(xian)衍(yan)射(she)儀都(dou)附(fu)帶安裝有(you)衍(yan)射(she)圖(tu)處理分析(xi)軟件(jian)的計算機系統，它(ta)們(men)的特點(dian)是(shi)自(zi)動(dong)化(hua)和智(zhi)能化(hua)。

　　

　　X射(she)線(xian)衍(yan)射(she)儀可為客戶(hu)解(jie)決(jue)的問(wen)題(ti)：

　　

　　（1）當(dang)材(cai)料由多種(zhong)結晶成分組成，需(xu)區分各成分所占(zhan)比例(li)，可使用(yong)XRD物(wu)相(xiang)鑒(jian)定(ding)功能，分析(xi)各結晶相的比例(li)。

　　

　　（2）很(hen)多(duo)材(cai)料的性能由(you)結晶程度決(jue)定(ding)，可使用(yong)XRD結(jie)晶度分析(xi)，確(que)定材料的結晶程度。

　　

　　（3）新材(cai)料開(kai)發需(xu)要(yao)充(chong)分了(le)解(jie)材料的晶格參(can)數(shu)，使(shi)用(yong)XRD可快(kuai)捷(jie)測(ce)試出點(dian)陣(zhen)參數(shu)，為新(xin)材料開(kai)發應用(yong)提(ti)供性能(neng)驗證(zheng)指標。

　　

　　（4）產品在(zai)使用(yong)過(guo)程(cheng)中出現斷(duan)裂(lie)、變形等失(shi)效(xiao)現象(xiang)，可能涉(she)及(ji)微(wei)觀(guan)應力(li)方面(mian)影響，使(shi)用(yong)XRD可以快(kuai)捷(jie)測(ce)定微(wei)觀(guan)應力(li)。

　　

　　（5）納(na)米材料由於顆(ke)粒(li)細(xi)小,極易形成團(tuan)粒(li),采(cai)用(yong)通常的粒(li)度分析(xi)儀(yi)往往會給(gei)出錯(cuo)誤的數據。采(cai)用(yong)X射(she)線(xian)衍(yan)射(she)線(xian)線(xian)寬法可以測(ce)定納(na)米粒(li)子(zi)的平均粒(li)徑(jing)。