工業(ye)CT系統性(xing)能(neng)指(zhi)標

工業(ye)CT系統性(xing)能(neng)指(zhi)標 
         1． 檢(jian)測範(fan)圍：主(zhu)要(yao)說明該CT的(de)檢(jian)測對象。如能(neng)透(tou)射(she)鋼(gang)的較(jiao)大(da)厚(hou)度(du)，檢(jian)測工件的較大(da)回轉直徑(jing)，檢(jian)測工件的較大(da)高度(du)或長(chang)度(du)，檢(jian)測工件的較大(da)重(zhong)量(liang)等(deng)。 
         2． 使用(yong)的(de)射(she)線(xian)源(yuan)：X射(she)線(xian)能(neng)量(liang)大(da)小(xiao)、工作電(dian)壓(ya)、工(gong)作電(dian)流及(ji)焦(jiao)點(dian)尺(chi)寸。
         3． CT的掃(sao)描方(fang)式：具(ju)有(you)哪幾(ji)種掃(sao)描方(fang)式，有(you)無數(shu)字射(she)線(xian)檢(jian)測或實時(shi)成像(xiang)功能(neng)等(deng)。
         4． 掃(sao)描檢(jian)測時(shi)間(jian)：指(zhi)掃(sao)取(qu)壹個(ge)斷(duan)層數據(ju)的(de)采集(ji)時(shi)間(jian)。
         5． 圖(tu)像重(zhong)建(jian)時(shi)間(jian)：指(zhi)重(zhong)建(jian)圖(tu)像所需的時(shi)間(jian)。 
         6． 分(fen)辨(bian)能(neng)力(li)：是關鍵(jian)的(de)性(xing)能(neng)指(zhi)標，包括(kuo)：
         · 空間(jian)分(fen)辨(bian)率(lv)：是指(zhi)從CT圖(tu)像中能(neng)夠(gou)辨(bian)別(bie)較小(xiao)物體(ti)的(de)能(neng)力(li)。
         · 密度(du)分(fen)辨(bian)率(lv)：它(ta)是利(li)用(yong)圖(tu)象的(de)灰度(du)去分(fen)辨(bian)被檢(jian)物材質的基(ji)本方(fang)法（因(yin)為灰(hui)度(du)是直接(jie)反(fan)映密度(du)的）。
         · 空間(jian)分(fen)辨(bian)率(lv)與(yu)密(mi)度(du)分(fen)辨(bian)率(lv)的(de)關系。在(zai)輻(fu)射(she)劑量壹(yi)定的情況(kuang)下(xia)，空間(jian)分(fen)辨(bian)率(lv)與(yu)密(mi)度(du)分(fen)辨(bian)率(lv)是相互(hu)矛盾的(de)兩個(ge)指(zhi)標。