在(zai)工(gong)業發(fa)展中(zhong)輪(lun)胎X射(she)線(xian)檢(jian)測是(shi)*的(de)有效(xiao)工具之壹

 

　　X射(she)線(xian)與自(zi)然光(guang)並沒(mei)有本(ben)質的(de)區別(bie)，都是(shi)電(dian)磁波(bo)，只是(shi)X射線(xian)的(de)光(guang)量子(zi)的(de)能(neng)量(liang)遠大於可(ke)見(jian)光(guang)。輪(lun)胎X射(she)線(xian)檢(jian)測能(neng)夠穿透可見(jian)光(guang)不能(neng)穿透的(de)物體(ti)，而且在(zai)穿透物體(ti)的(de)同時(shi)將(jiang)和(he)物質發(fa)生(sheng)復(fu)雜(za)的(de)物理和(he)化學作用(yong)，可以使(shi)原子發生電(dian)離(li)，使(shi)某(mou)些(xie)物質發(fa)出(chu)熒光(guang)，還可(ke)以使(shi)某(mou)些(xie)物質產(chan)生(sheng)光(guang)化學反應。如果工(gong)件(jian)局(ju)部區域存在(zai)缺(que)陷(xian)，它將(jiang)改變物(wu)體(ti)對射(she)線(xian)的(de)衰減(jian)，引(yin)起(qi)透射射(she)線(xian)強(qiang)度(du)的(de)變化，這(zhe)樣(yang)，采用(yong)壹定的(de)檢測(ce)方(fang)法，比(bi)如利用(yong)膠片(pian)感(gan)光(guang)，來檢(jian)測(ce)透(tou)射線強(qiang)度，就(jiu)可(ke)以判(pan)斷(duan)工件(jian)中(zhong)是(shi)否存在(zai)缺(que)陷(xian)以及缺陷(xian)的(de)位(wei)置(zhi)、大(da)小(xiao)。只要(yao)缺陷(xian)在(zai)透(tou)射方(fang)向上(shang)具有壹(yi)定的(de)尺(chi)寸、其(qi)衰(shuai)減(jian)系數與物體(ti)的(de)線衰(shuai)減(jian)系(xi)數具有壹(yi)定差(cha)別(bie)，並(bing)且散射比(bi)控制(zhi)在(zai)壹(yi)定範(fan)圍，我們(men)就能(neng)夠獲得由(you)於(yu)缺陷(xian)存在(zai)而(er)產生(sheng)的(de)對比(bi)度(du)，從而(er)發(fa)現缺陷(xian)。

 

　　隨著(zhe)我國(guo)市(shi)場經濟的(de)不斷(duan)發展(zhan)，工(gong)業化有了(le)大幅度(du)的(de)提(ti)高，各種機械設備(bei)裝(zhuang)置(zhi)在(zai)各行業的(de)應用中(zhong)越(yue)來越普及。且伴隨著(zhe)各種機械設備(bei)裝(zhuang)置(zhi)的(de)大量(liang)應用，其潛在(zai)的(de)安全隱患(huan)也(ye)逐漸暴(bao)露了(le)出(chu)來(lai)。在(zai)工(gong)業發(fa)展中(zhong)無損(sun)檢測(ce)是(shi)*的(de)有效(xiao)工具之壹,在(zai)壹(yi)定程(cheng)度(du)上(shang)反映(ying)了壹個(ge)國(guo)家的(de)工業發(fa)展水(shui)平,其重要性已經得到(dao)*。輪(lun)胎X射(she)線(xian)檢(jian)測的(de)特點(dian)就(jiu)是(shi)能(neng)在(zai)不損(sun)壞試件(jian)材質、結(jie)構的(de)前(qian)提(ti)下進(jin)行(xing)檢(jian)測(ce)，所(suo)以(yi)實施無損(sun)檢測(ce)後(hou)，產品的(de)被(bei)檢查(zha)率(lv)可(ke)大幅提(ti)高，準確率也(ye)會(hui)提(ti)升。

 

　　輪(lun)胎X射(she)線(xian)檢(jian)測是(shi)指利用(yong)X射(she)線(xian)穿透金(jin)屬材料，將(jiang)穿過金(jin)屬材料之後的(de)射線(xian)強(qiang)度(du)分布轉(zhuan)變(bian)為電視圖像(xiang),從(cong)而顯(xian)示圖像(xiang)缺陷(xian)，此時射(she)線(xian)強度會(hui)增強(qiang)數千倍(bei)，以(yi)此觀察(cha)工(gong)件的(de)透視圖像(xiang)，據(ju)此來判(pan)斷(duan)材料內(nei)部缺陷(xian)情況(kuang)的(de)壹種(zhong)檢(jian)驗(yan)方法。X射線(xian)能(neng)在(zai)無損(sun)檢驗(yan)技(ji)術中(zhong)得到(dao)廣(guang)泛應用的(de)主(zhu)要(yao)原因是：它能(neng)穿透可見(jian)光(guang)不能(neng)穿透的(de)物質；它(ta)在(zai)物(wu)質中(zhong)具有衰(shuai)減作用(yong)和(he)衰減(jian)規(gui)律；它能(neng)對某(mou)些(xie)物質發(fa)生(sheng)光(guang)化學作用(yong)，而且這(zhe)些(xie)作用(yong)都將(jiang)隨著(zhe)X射(she)線強度(du)的(de)增加(jia)而(er)增加(jia)。輪(lun)胎X射(she)線(xian)檢(jian)測是(shi)利用(yong)材料厚(hou)度(du)不同對X射(she)線(xian)強(qiang)度(du)分布程(cheng)度(du)的(de)差(cha)異(yi)，通(tong)過用(yong)工業電(dian)視實時(shi)成(cheng)像，從成(cheng)像上(shang)顯(xian)出(chu)材料、零(ling)部件及焊縫(feng)的(de)內部缺陷(xian)。如裂紋(wen)、縮孔(kong)、氣(qi)孔(kong)、夾(jia)渣、未溶(rong)合、未焊(han)透(tou)等(deng)，確(que)定位(wei)置(zhi)和(he)大小(xiao)。根(gen)據(ju)觀察(cha)其(qi)缺陷(xian)的(de)性質、大(da)小(xiao)和(he)部位(wei)來(lai)評定(ding)材料或(huo)制(zhi)品(pin)的(de)質量(liang)，從(cong)而防(fang)止由(you)於(yu)材料內(nei)部缺陷(xian)、加(jia)工(gong)不良而引(yin)起(qi)的(de)重大(da)事(shi)故(gu)。