對電(dian)子(zi)元(yuan)器(qi)件檢(jian)測(ce)的經(jing)驗和方法(fa)進行(xing)介(jie)紹(shao)供(gong)大(da)家(jia)參考(kao)

 

　　電(dian)子(zi)元(yuan)器(qi)件檢(jian)測(ce)是家(jia)電(dian)維(wei)修(xiu)的壹項基本(ben)功，如(ru)何(he)準(zhun)確(que)有效地(di)檢(jian)測(ce)元器(qi)件的相關參數(shu)，判斷(duan)元器(qi)件的是(shi)否(fou)正(zheng)常(chang)，不是(shi)壹件千篇壹(yi)律(lv)的事(shi)，必(bi)須(xu)根(gen)據(ju)不(bu)同的元(yuan)器(qi)件采用(yong)不同的方(fang)法，從(cong)而判斷(duan)元(yuan)器(qi)件的正(zheng)常(chang)與否(fou)。特(te)別(bie)對初(chu)學者來(lai)說，熟練(lian)掌握常(chang)用元(yuan)器(qi)件的檢(jian)測(ce)方法(fa)和經驗(yan)很(hen)有必(bi)要(yao)，以下(xia)對常(chang)用電(dian)子(zi)元(yuan)器(qi)件檢(jian)測(ce)經驗(yan)和方法(fa)進行(xing)介(jie)紹(shao)供(gong)對考(kao)。

 

　　壹、電(dian)子(zi)元(yuan)器(qi)件檢(jian)測(ce)的檢(jian)測(ce)方法(fa)與經(jing)驗：

 

　　1固定電(dian)阻(zu)器(qi)的(de)檢(jian)測(ce)。a將(jiang)兩表筆(不(bu)分(fen)正負(fu))分(fen)別(bie)與(yu)電(dian)阻(zu)的(de)兩端引(yin)腳相接即(ji)可(ke)測(ce)出實(shi)際電(dian)阻(zu)值(zhi)。為(wei)了(le)提高(gao)測(ce)量(liang)精度，應(ying)根(gen)據(ju)被(bei)測(ce)電(dian)阻(zu)標(biao)稱值(zhi)的(de)大(da)小來選(xuan)擇(ze)量(liang)程。由於歐姆擋(dang)刻(ke)度的(de)非(fei)線(xian)性關系(xi)，它(ta)的(de)中間壹段(duan)分度較(jiao)為精細，因(yin)此應使指針(zhen)指示值(zhi)盡(jin)可能(neng)落(luo)到(dao)刻(ke)度的(de)中段(duan)位置(zhi)，即(ji)全(quan)刻(ke)度起始(shi)的(de)20％～80％弧(hu)度範圍內，以(yi)使測(ce)量(liang)更準確。根(gen)據(ju)電(dian)阻(zu)誤(wu)差(cha)等級(ji)不(bu)同。讀(du)數(shu)與標(biao)稱阻值(zhi)之(zhi)間分別(bie)允(yun)許有±5％、±10％或±20％的(de)誤(wu)差(cha)。如(ru)不(bu)相符，超(chao)出誤(wu)差(cha)範圍，則說明(ming)電(dian)子(zi)元(yuan)器(qi)件檢(jian)測(ce)電(dian)阻(zu)值(zhi)變(bian)值(zhi)了(le)。b註(zhu)意：測(ce)試(shi)時，特(te)別(bie)是(shi)在測(ce)幾(ji)十kω以(yi)上(shang)阻值(zhi)的(de)電(dian)阻(zu)時，手不要(yao)觸及表筆和電(dian)阻(zu)的(de)導(dao)電(dian)部(bu)分(fen)；被檢(jian)測(ce)的電(dian)阻(zu)從(cong)電(dian)路(lu)中焊(han)下(xia)來，至少(shao)要(yao)焊(han)開壹個頭，以免(mian)電(dian)路(lu)中的(de)其他元(yuan)件對測(ce)試(shi)產生影(ying)響，造成測(ce)量(liang)誤(wu)差(cha)；色(se)環(huan)電(dian)阻(zu)的(de)阻值(zhi)雖(sui)然能(neng)以(yi)色(se)環(huan)標(biao)誌(zhi)來(lai)確定，但在使用(yong)時還(hai)是(shi)用(yong)萬(wan)用(yong)表測(ce)試(shi)壹下(xia)其實際阻值(zhi)。

 

　　2水(shui)泥電(dian)阻(zu)的(de)檢(jian)測(ce)。檢(jian)測(ce)水泥電(dian)阻(zu)的(de)方法(fa)及註(zhu)意事(shi)項與(yu)檢(jian)測(ce)普通固定(ding)電(dian)阻(zu)*相同。

 

　　3熔斷(duan)電(dian)阻(zu)器(qi)的(de)檢(jian)測(ce)。在電(dian)路(lu)中，當(dang)熔斷(duan)電(dian)阻(zu)器(qi)熔(rong)斷(duan)開路(lu)後，可(ke)根(gen)據(ju)經(jing)驗(yan)作(zuo)出判斷：若發現熔(rong)斷(duan)電(dian)阻(zu)器(qi)表面發(fa)黑(hei)或燒(shao)焦，可斷定是其(qi)負(fu)荷(he)過重(zhong)，通過它(ta)的(de)電(dian)流超(chao)過額定值(zhi)很(hen)多(duo)倍所(suo)致；如(ru)果(guo)其(qi)表面無(wu)任(ren)何痕跡而開路(lu)，則表明(ming)流過的(de)電(dian)流剛好(hao)等於或稍(shao)大(da)於其額定熔斷(duan)值(zhi)。對於表面無(wu)任(ren)何痕跡的熔斷電(dian)阻(zu)器(qi)好(hao)壞(huai)的(de)判斷，可借助萬用(yong)表r×1擋(dang)來(lai)測(ce)量(liang)，為保證測(ce)量(liang)準確，應將(jiang)熔斷(duan)電(dian)阻(zu)器(qi)壹(yi)端從電(dian)路(lu)上焊(han)下(xia)。若測(ce)得的(de)阻值(zhi)為(wei)無(wu)窮(qiong)大(da)，則(ze)說明(ming)此熔斷電(dian)阻(zu)器(qi)已(yi)失(shi)效開路(lu)，若測(ce)得的(de)阻值(zhi)與(yu)標(biao)稱值(zhi)相差甚(shen)遠(yuan)，表明(ming)電(dian)阻(zu)變(bian)值(zhi)，也(ye)不(bu)宜再(zai)使用(yong)。在電(dian)子(zi)元(yuan)器(qi)件檢(jian)測(ce)維(wei)修(xiu)實踐中發(fa)現，也(ye)有少數(shu)熔斷(duan)電(dian)阻(zu)器(qi)在電(dian)路(lu)中被(bei)擊穿(chuan)短(duan)路(lu)的現象，檢(jian)測(ce)時也(ye)應(ying)予(yu)以(yi)註(zhu)意。

 

　　4電(dian)位(wei)器(qi)的(de)檢(jian)測(ce)。檢(jian)查電(dian)位(wei)器(qi)時，首(shou)先(xian)要(yao)轉動(dong)旋(xuan)柄，看看旋(xuan)柄轉動(dong)是(shi)否(fou)平滑，開關是(shi)否(fou)靈(ling)活，開關通、斷時“喀(ka)噠(da)”聲(sheng)是(shi)否(fou)清(qing)脆(cui)，並聽壹聽電(dian)位(wei)器(qi)內部(bu)接觸點(dian)和電(dian)阻(zu)體(ti)摩擦的(de)聲(sheng)音，如(ru)有“沙沙(sha)”聲(sheng)，說明(ming)質量(liang)不好。用萬(wan)用(yong)表測(ce)試(shi)時，先(xian)根(gen)據(ju)被(bei)測(ce)電(dian)位(wei)器(qi)阻(zu)值(zhi)的(de)大(da)小，選擇(ze)好萬(wan)用表的合(he)適(shi)電(dian)阻(zu)擋(dang)位(wei)，然後可(ke)按下(xia)述方(fang)法(fa)進(jin)行(xing)檢(jian)測(ce)。

 

　　a用萬(wan)用表的歐(ou)姆擋(dang)測(ce)“1”、“2”兩端，其讀(du)數(shu)應為(wei)電(dian)位(wei)器(qi)的(de)標(biao)稱阻值(zhi)，如(ru)萬(wan)用(yong)表的指針(zhen)不(bu)動(dong)或(huo)阻值(zhi)相差很(hen)多(duo)，則(ze)表明(ming)該(gai)電(dian)位(wei)器(qi)已(yi)損(sun)壞(huai)。b檢(jian)測(ce)電(dian)位(wei)器(qi)的(de)活動(dong)臂(bi)與電(dian)阻(zu)片(pian)的接觸是(shi)否(fou)良(liang)好(hao)。用(yong)萬用表的歐(ou)姆檔(dang)測(ce)“1”、“2”(或“2”、“3”)兩(liang)端，將(jiang)電(dian)位(wei)器(qi)的(de)轉軸按逆時針(zhen)方(fang)向旋(xuan)至接近(jin)“關”的(de)位(wei)置(zhi)，這(zhe)時電(dian)阻(zu)值(zhi)越(yue)小越(yue)好(hao)。再順時針(zhen)慢(man)慢(man)旋(xuan)轉軸柄(bing)，電(dian)阻(zu)值(zhi)應(ying)逐(zhu)漸(jian)增(zeng)大，表頭中的(de)指針(zhen)應(ying)平穩移動(dong)。當(dang)軸柄(bing)旋(xuan)端位置(zhi)“3”時，阻(zu)值(zhi)應(ying)接近(jin)電(dian)位(wei)器(qi)的(de)標(biao)稱值(zhi)。如(ru)萬(wan)用(yong)表的指針(zhen)在電(dian)位(wei)器(qi)的(de)軸(zhou)柄(bing)轉動(dong)過程中有跳動(dong)現象，說明(ming)活動(dong)觸點(dian)有接觸不(bu)良(liang)的故障(zhang)。

 

　　5正(zheng)溫度系(xi)數(shu)熱敏(min)電(dian)阻(zu)(ptc)的(de)檢(jian)測(ce)。檢(jian)測(ce)時，用(yong)萬(wan)用(yong)表r×1擋(dang)，具(ju)體(ti)可(ke)分(fen)兩(liang)步操作：a常(chang)溫檢(jian)測(ce)(室(shi)內溫度接近(jin)25℃)；將(jiang)兩表筆接觸ptc熱(re)敏(min)電(dian)阻(zu)的(de)兩引(yin)腳測(ce)出其(qi)實際阻值(zhi)，並與(yu)標(biao)稱阻值(zhi)相對比(bi)，二(er)者相差在±2ω內即(ji)為(wei)正常(chang)。實際阻值(zhi)若與標稱阻值(zhi)相差過大(da)，則(ze)說明(ming)其性能(neng)不(bu)良(liang)或(huo)已損(sun)壞。b加(jia)溫檢(jian)測(ce)；在常(chang)溫測(ce)試(shi)正常(chang)的基(ji)礎(chu)上，即(ji)可(ke)進行(xing)第二步測(ce)試(shi)—加(jia)溫檢(jian)測(ce)，將(jiang)壹熱(re)源(例(li)如(ru)電(dian)烙(lao)鐵(tie))靠(kao)近ptc熱(re)敏電(dian)阻(zu)對其(qi)加(jia)熱，同時用(yong)萬(wan)用(yong)表監測(ce)其電(dian)阻(zu)值(zhi)是(shi)否(fou)隨(sui)溫度的(de)升高(gao)而增大(da)，如(ru)是，說明(ming)熱敏電(dian)阻(zu)正(zheng)常(chang)，若阻值(zhi)無(wu)變(bian)化(hua)，說明(ming)其性能(neng)變(bian)劣(lie)，不能(neng)繼續使用(yong)。註(zhu)意不(bu)要(yao)使熱(re)源與ptc熱(re)敏電(dian)阻(zu)靠(kao)得過近(jin)或(huo)直接接觸熱(re)敏(min)電(dian)阻(zu)，以(yi)防止將(jiang)其燙壞。