微焦(jiao)點X射(she)線(xian)檢測(ce)具(ju)有更(geng)高的可靠(kao)度(du)和性能(neng)

 

　　微焦(jiao)點X射(she)線(xian)檢測(ce)及控制(zhi)系統(tong)：通(tong)過CPU對(dui)系(xi)統(tong)操作(zuo)進行(xing)全(quan)面(mian)控制(zhi)，可實(shi)現(xian)快(kuai)速自診斷功能(neng)，判斷(duan)系統(tong)的各(ge)種故(gu)障(zhang)。具(ju)有射(she)線(xian)管工(gong)作時(shi)間記(ji)錄(lu)；配自(zi)動訓機程序及自(zi)設(she)程序；門(men)機(ji)連鎖、外置冷(leng)卻(que)流量、溫(wen)度(du)等(deng)保護；高壓開(kai)啟、關(guan)斷(duan)時(shi)，圖形、聲(sheng)音報(bao)警提示(shi)；支持(chi)全(quan)自動(dong)訓機等(deng)功能(neng)。內(nei)置(zhi)金屬(shu)殼(ke)X射(she)線管(guan)，不銹(xiu)鋼管(guan)體(ti)替(ti)代(dai)玻璃管體(ti)和陶(tao)瓷(ci)管(guan)體，使(shi)射(she)線管性能(neng)更(geng)佳(jia)、更(geng)可靠(kao)。現(xian)代(dai)化的生(sheng)產方法(fa)有(you)效地減(jian)少了(le)生產誤差(cha)，避免(mian)了(le)焦點尺寸(cun)或(huo)者(zhe)射線束的波(bo)動(dong)，保證(zheng)了(le)壹(yi)致的射(she)線(xian)輸出(chu)，比陶(tao)瓷(ci)管(guan)和玻(bo)璃管(guan)產品(pin)質(zhi)量等(deng)級更(geng)高，使(shi)用壽命(ming)更(geng)長。基(ji)於(yu)高頻(pin)恒電(dian)壓技(ji)術，微焦(jiao)點X射(she)線(xian)檢測(ce)獲(huo)得高(gao)品(pin)質(zhi)的X射(she)線(xian)輸出(chu)，更(geng)短的曝(pu)光(guang)時間，更(geng)高的檢(jian)測(ce)精度(du)和更(geng)強的穿(chuan)透(tou)力。控制(zhi)系統(tong)采(cai)用開(kai)關電(dian)源技(ji)術，它基於高(gao)壓(ya)倍(bei)增(zeng)原理(li)，工(gong)作在高頻(pin)開(kai)關頻(pin)率(lv)，這(zhe)將產生穩定(ding)的劑(ji)量(liang)率(lv)，更(geng)寬的檢(jian)測(ce)範(fan)圍，高重現性的輸(shu)出(chu)劑量(liang)率(lv)不受(shou)輸入(ru)電(dian)壓的影(ying)響(xiang)，具(ju)有更(geng)高的可靠(kao)度(du)和性能(neng)。采(cai)用冷(leng)卻技(ji)術，可以(yi)連(lian)續(xu)工(gong)作，達(da)到100%暫(zan)載率(lv)。專門(men)針(zhen)對現場檢(jian)測(ce)的需(xu)求而(er)設(she)計，確(que)保設(she)備(bei)在現場(chang)使(shi)用環境中獲(huo)得保護，可工(gong)作在更(geng)的環境條件，更(geng)能(neng)勝任(ren)現場(chang)檢測(ce)的苛(ke)刻工(gong)況。

 

　　微焦(jiao)點X射(she)線(xian)檢測(ce)常應用於(yu)航天、化(hua)工(gong)、石(shi)油、機(ji)械、造(zao)船(chuan)等(deng)行(xing)業。其(qi)中(zhong)船(chuan)體(ti)、管(guan)道(dao)、高壓容器(qi)、鍋(guo)爐、飛(fei)機(ji)等(deng)是(shi)主要(yao)應用無(wu)損(sun)檢測(ce)的部(bu)分。

 

　　在挑選(xuan)微焦(jiao)點X射(she)線(xian)檢測(ce)品(pin)牌(pai)時應從穿(chuan)透能(neng)力強，被(bei)檢(jian)測(ce)物材質(zhi)和形(xing)狀還有重要的壹(yi)點是(shi)設(she)備(bei)的大(da)小這幾(ji)點著手。

 

　　微焦(jiao)點X射(she)線(xian)檢測(ce)，本質(zhi)上是(shi)利(li)用電(dian)磁波或(huo)者(zhe)電(dian)磁輻(fu)射(she)（X射線(xian)和γ射線(xian)）的能(neng)量。射(she)線在穿透(tou)物體過(guo)程(cheng)中(zhong)會(hui)與(yu)物質(zhi)發生(sheng)相互(hu)作(zuo)用，因(yin)吸收(shou)和(he)散(san)射使(shi)其(qi)強度(du)減(jian)弱。

 

　　射(she)線照(zhao)相法(fa)的原(yuan)理(li)：如(ru)果(guo)被透(tou)照物體(ti)（工(gong)件）的局部(bu)存在缺陷，且(qie)構成(cheng)缺(que)陷的物(wu)質(zhi)的衰減(jian)系數(shu)又不同(tong)於(yu)試件（例(li)如(ru)在焊縫(feng)中(zhong)，氣孔缺陷裏(li)面(mian)的空(kong)氣衰減(jian)系數(shu)遠遠(yuan)低於鋼的衰減(jian)系數(shu)），該局部(bu)區域(yu)的透(tou)過(guo)射線(xian)強度(du)就會(hui)與(yu)周圍(wei)產生差(cha)異(yi)。