X射(she)線檢(jian)測(ce)原(yuan)理(li)

X射(she)線檢(jian)測(ce)原(yuan)理(li)

X射(she)線檢(jian)測(ce)是利用X射(she)線技(ji)術(shu)觀(guan)察(cha)、研(yan)究(jiu)和(he)檢(jian)驗材(cai)料微(wei)觀(guan)結(jie)構(gou)、化學組(zu)成、表(biao)面(mian)或(huo)內(nei)部結(jie)構(gou)缺陷的(de)實驗技(ji)術(shu)。如(ru)X射(she)線粉(fen)末(mo)衍射(she)術(shu)、X射(she)線熒光(guang)譜(pu)法(fa)、X射(she)線照相(xiang)術(shu)、X射(she)線形(xing)貌術(shu)等(deng)。
(1)x射(she)線的(de)特性 X射(she)線是壹種(zhong)波(bo)長很(hen)短(duan)的(de)電(dian)磁(ci)波(bo)，是壹種(zhong)光(guang)子，波(bo)長為(wei)10~10cm
　　x射(she)線有下列(lie)特點(dian)：
　　①穿(chuan)透(tou)性 x射(she)線能穿(chuan)透(tou)壹般可(ke)見光(guang)所不能透(tou)過的(de)物(wu)質(zhi)。其(qi)穿(chuan)透(tou)能力(li)的(de)強弱(ruo)，與(yu)x射(she)線的(de)波(bo)長以(yi)及被(bei)穿(chuan)透(tou)物(wu)質(zhi)的(de)密度和(he)厚(hou)度有關。x射(she)線波(bo)長愈(yu)短(duan)，穿(chuan)透(tou)力就(jiu)愈(yu)大(da);密度愈(yu)低(di)，厚(hou)度愈(yu)薄(bo)，則x射(she)線愈(yu)易(yi)穿(chuan)透(tou)。在實際工(gong)作(zuo)中(zhong)，通(tong)過球管的(de)電(dian)壓(ya)伏(fu)值(zhi)(kV)的(de)大(da)小(xiao)來(lai)確定x射(she)線的(de)穿(chuan)透(tou)性(即(ji)x射(she)線的(de)質)，而(er)以(yi)單(dan)位時間內(nei)通過x射(she)線的(de)電(dian)流(liu) (mA)與(yu)時間的(de)乘積(ji)代(dai)表x射(she)線的(de)量。
　　②電(dian)離作(zuo)用 x射(she)線或(huo)其(qi)它射(she)線(例(li)如γ射(she)線)通(tong)過物(wu)質(zhi)被吸收時，可(ke)使組(zu)成物(wu)質(zhi)的(de)分子(zi)分解(jie)成為(wei)正負離子(zi)，稱為(wei)電(dian)離作(zuo)用，離子的(de)多少和物(wu)質(zhi)吸收的(de)X射(she)線量成正(zheng)比(bi)。通過空(kong)氣(qi)或(huo)其(qi)它物(wu)質(zhi)產生(sheng)電(dian)離作(zuo)用，利用儀(yi)表測(ce)量電(dian)離的(de)程度就(jiu)可(ke)以(yi)計(ji)算x射(she)線的(de)量。檢(jian)測(ce)設備正(zheng)是由此(ci)來(lai)實現對零件(jian)探(tan)傷檢(jian)測(ce)的(de)。X射(she)線還(hai)有其(qi)他(ta)作用，如感光(guang)、熒光(guang)作用等。
　　(2)影像(xiang)形(xing)成原(yuan)理(li)
　　X線影像(xiang)形(xing)成的(de)基本原理(li)，是由於(yu)X線(xian)的(de)特性和(he)零(ling)件(jian)的(de)致密度與(yu)厚(hou)度之(zhi)差(cha)異(yi)所致。