技(ji)術文(wen)章
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實時(shi)成(cheng)像檢(jian)測與(yu)傳(chuan)統膠(jiao)片(pian)照(zhao)相法(fa)比較
更新時(shi)間(jian):2018-09-14
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實時(shi)成(cheng)像檢(jian)測同(tong)傳(chuan)統膠(jiao)片(pian)照(zhao)相法(fa)相比(bi),實時(shi)成(cheng)像的檢(jian)測原(yuan)理有(you)很(hen)大的(de)不同。傳(chuan)統(tong)照相(xiang)法是(shi)將穿過(guo)工件的(de)X射線(xian)在(zai)膠(jiao)片(pian)上累(lei)計(ji)感光而形成(cheng)潛影(ying)圖像,再經(jing)暗(an)室(shi)處理形成(cheng)可見的透照影(ying)像,根據(ju)其(qi)影(ying)像來評估(gu)工件的(de)內部(bu)質量(liang)情(qing)況(kuang),得到的(de)圖像是靜(jing)態影(ying)像,是不可調整(zheng)的(de)。實時(shi)成(cheng)像系統(tong)是(shi)將穿過(guo)工件的(de)X射線(xian)經(jing)圖像探測(ce)器(qi)接收並(bing)轉換為(wei)數字(zi)圖像信號(早(zao)期有(you)模(mo)擬信號),經(jing)計(ji)算機系(xi)統(tong)的處理,顯(xian)示或(huo)保存(cun)該數(shu)字圖像,在此(ci)成(cheng)像的過(guo)程中,圖像的亮(liang)度(du)、對(dui)比度(du)、清(qing)晰度(du)等(deng)受射線(xian)的(de)電(dian)壓(ya)、電(dian)流(liu)、工件的(de)位(wei)置、透照工藝等(deng)參數變化(hua)而有(you)所(suo)不同,並(bing)實時(shi)反(fan)饋(kui)在(zai)顯(xian)示器(qi)屏幕(mu)上表(biao)現出(chu)來,所調即(ji)所得(de)。
圖像質量(liang)多(duo)受(shou)系統選(xuan)型(xing)和(he)工藝的影(ying)響(xiang),尤(you)其(qi)射線(xian)源(yuan)的(de)焦(jiao)點(dian)尺寸(cun)、射線(xian)功率、探測器性(xing)能(neng)的影(ying)響(xiang)大。越小(xiao)的焦(jiao)點(dian)尺寸(cun)、越大(da)的射線(xian)功率、越高(gao)的(de)探測器動態範(fan)圍(wei),從普(pu)遍(bian)意義(yi)來講,圖像清(qing)晰度(du)越高(gao)。衡(heng)量(liang)圖像質量(liang)的(de)技(ji)術參數主要有(you)圖像分(fen)辨(bian)率和靈敏度(du)兩(liang)個(ge)參數,不同行(xing)業(ye)的應(ying)用對(dui)該參數的要求(qiu)不盡相(xiang)同(tong),側(ce)重(zhong)點(dian)也(ye)會(hui)不同。
實時(shi)成(cheng)像的檢(jian)測效(xiao)率和速(su)度(du),更多(duo)地受配(pei)套的機械傳動部(bu)分(fen)的(de)影(ying)響(xiang)大,成(cheng)熟可靠的(de)機械傳動和控(kong)制能(neng)為大(da)限(xian)度(du)地(di)發(fa)揮(hui)成(cheng)像部(bu)分(fen)的(de)性(xing)能(neng)至(zhi)關(guan)重(zhong)要,是檢(jian)測的(de)重(zhong)要影(ying)響(xiang)因素(su)之壹。完(wan)備簡單的(de)自(zi)動控制方(fang)法(fa),在確保圖像質量(liang)的(de)壹致性(xing),可可靠檢(jian)測過(guo)程中比(bi)不可少的(de)。國內在焊接檢(jian)測、鑄件檢(jian)測、電(dian)路板(ban)等(deng)檢(jian)測應(ying)用(yong)系統(tong)中,業(ye)已(yi)比(bi)較成(cheng)熟,與國外(wai)差距不大,基(ji)本處於同(tong)壹水平(ping),如(ru)XRIS成(cheng)像系統(tong)等(deng)。但(dan)關鍵(jian)的(de)器(qi)件依(yi)然主要由國外(wai)的幾個(ge)大公(gong)司(si)壟斷,如(ru)射線(xian)發(fa)生(sheng)器、探測(ce)器(qi)等(deng),國內還(hai)具(ju)有(you)壹定的差(cha)距,還(hai)需要繼(ji)續努力。

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