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        1. ARTICLE

          技(ji)術文(wen)章

          當前位置(zhi):首(shou)頁技術(shu)文(wen)章無損(sun)檢測中暗室處理(li)常(chang)見缺(que)陷(xian)的產(chan)生(sheng)

          無損(sun)檢測中暗室處理(li)常(chang)見缺(que)陷(xian)的產(chan)生(sheng)

          更新(xin)時間(jian):2018-04-11點(dian)擊(ji)次數(shu):6849

          暗室處理(li)常(chang)見缺(que)陷(xian)及(ji)其(qi)成(cheng)因(yin)
          1.1偽(wei)缺(que)陷(xian)
          為(wei)缺(que)陷(xian)是(shi)指由(you)於透照(zhao)操(cao)作或暗室操作不當,或由(you)於膠片(pian)、增(zeng)感屏質(zhi)量(liang)不好(hao),在底片(pian)上(shang)留(liu)下非(fei)缺(que)陷(xian)影(ying)像(xiang)。常(chang)見的有(you)以下幾(ji)種:劃痕(hen)、壓(ya)痕(hen)、折痕(hen)、水(shui)跡、靜電(dian)感光(guang)、顯(xian)影(ying)斑紋(wen)、顯(xian)影(ying)液沾染、定(ding)影(ying)液沾染、增感屏偽缺(que)陷(xian)等(deng)。只有(you)明(ming)確(que)每壹種為缺(que)陷(xian)的成(cheng)因(yin)才能(neng)采(cai)取(qu)切(qie)實(shi)妥(tuo)當的措(cuo)施來避(bi)免其(qi)的產(chan)生(sheng)。
          劃(hua)痕(hen) :膠片(pian)被(bei)尖(jian)銳(rui)物體(指甲(jia)、器(qi)具尖(jian)角、膠片(pian)尖(jian)角、砂(sha)粒(li)等)劃過(guo),在底(di)片(pian)上(shang)留(liu)下的黑(hei)線(xian)。
          壓(ya)痕(hen) :膠片(pian)局(ju)部受(shou)壓(ya)會引(yin)起(qi)局(ju)部感光(guang),從而在(zai)底(di)片(pian)上(shang)留(liu)下壓(ya)痕(hen)。
          折(zhe)痕(hen) :膠片(pian)受(shou)彎折,會(hui)發生(sheng)減感或(huo)增(zeng)感效(xiao)應,在底(di)片(pian)上(shang)產生(sheng)白色或(huo)黑(hei)色影(ying)響。
          水(shui)跡 :由(you)於水(shui)質(zhi)不好或(huo)底片(pian)幹(gan)燥處(chu)理(li)不(bu)當(dang),會(hui)在底片(pian)上(shang)出現水(shui)跡。
          靜(jing)電(dian)感光(guang) :切(qie)裝(zhuang)膠片(pian)時(shi),因摩擦產生(sheng)的靜(jing)電(dian)發生(sheng)放電(dian)現(xian)象(xiang)使膠片(pian)感光(guang),在(zai)底(di)片(pian)上(shang)留(liu)下黑(hei)色影(ying)響。
          顯(xian)影(ying)斑紋(wen) :由(you)於曝光(guang)過(guo)度(du),顯(xian)影(ying)液溫度(du)過(guo)高(gao)、濃(nong)度(du)過(guo)大導致快(kuai)速顯(xian)影(ying),或因顯影(ying)時攪動不及時(shi),均會造(zao)成(cheng)顯(xian)影(ying)不均勻(yun),從而產(chan)生(sheng)顯影(ying)斑紋(wen)。
          顯(xian)影(ying)液沾染 :顯影(ying)操作開始前,膠片(pian)沾(zhan)染了顯(xian)影(ying)液,沾上顯影(ying)液的部(bu)位(wei)提前顯影(ying),黑(hei)度(du)比其(qi)他(ta)部位(wei)大。
          定(ding)影(ying)液沾染 :顯影(ying)操作開始前,膠片(pian)沾(zhan)染了定(ding)影(ying)液,沾上定(ding)影(ying)液的部(bu)位(wei)發生(sheng)定(ding)影(ying)作用,使得(de)該(gai)部位黑(hei)度(du)小於其他(ta)部位(wei)。
          增(zeng)感屏偽缺(que)陷(xian) :由(you)於增感屏的損(sun)壞(huai)或(huo)汙染使局(ju)部增(zeng)感性能(neng)改變而在底(di)片(pian)上(shang)留(liu)下的影(ying)響。如(ru)增感屏上的裂(lie)紋或(huo)劃(hua)傷(shang)會在底(di)片(pian)上(shang)造成(cheng)黑(hei)色影(ying)像(xiang),而(er)增感屏上的汙(wu)物(wu)在底(di)片(pian)上(shang)造成(cheng)白(bai)色影(ying)像(xiang)。
          膠(jiao)片(pian)上(shang)其他(ta)為缺(que)陷(xian)還有(you):因(yin)膠(jiao)片(pian)質(zhi)量(liang)不好(hao)或暗室處理(li)不(bu)當(dang)引(yin)起的藥(yao)膜脫(tuo)落、網紋(wen)、指印、汙染(ran)等(deng),因膠片(pian)保(bao)存(cun)或(huo)使用不(bu)當造成(cheng)的跑(pao)光(guang)、黴(mei)點(dian)等(deng)。

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