X射線(xian)無損(sun)探(tan)傷(shang)對(dui)產品(pin)的檢(jian)查率

　　

　　X射(she)線(xian)是壹種波(bo)長很(hen)短的電(dian)磁(ci)波(bo)，有(you)很(hen)強(qiang)的穿(chuan)透(tou)能(neng)力(li)，他是由德(de)國(guo)物(wu)理學(xue)家W.K.倫(lun)琴(qin)於1895年發(fa)現，故(gu)又稱(cheng)倫琴(qin)射(she)線(xian)。多年來，人們(men)不斷的探(tan)索(suo)創(chuang)新(xin)，X射(she)線(xian)已經(jing)廣泛(fan)的應(ying)用與人們(men)生活(huo)、工作(zuo)領(ling)域(yu)。但是不容忽(hu)視的壹點(dian)是(shi)，X射線(xian)對(dui)人體(ti)健康確有(you)壹定(ding)危害(hai)，X射(she)線(xian)照射量越(yue)大(da)，對(dui)人體(ti)的損(sun)害(hai)就(jiu)越(yue)大(da)。X射線(xian)照射量可(ke)在(zai)身(shen)體(ti)內(nei)累(lei)積(ji)，其(qi)主要危害(hai)是(shi)對(dui)人體(ti)血液(ye)成(cheng)分中(zhong)的白(bai)細胞(bao)具(ju)有壹定(ding)的殺(sha)傷(shang)力(li)，使人體(ti)血液(ye)中(zhong)的白(bai)細胞(bao)數(shu)量減(jian)少(shao)，進而導致(zhi)機體(ti)免(mian)疫(yi)功能(neng)下(xia)降(jiang)，使病菌(jun)容易侵(qin)入機體(ti)而發(fa)生疾(ji)病(bing)。

　　

　　X射線(xian)無損(sun)探(tan)傷(shang)的zui大(da)特(te)點(dian)就(jiu)是(shi)能(neng)在(zai)不(bu)損(sun)壞試(shi)件材質、結(jie)構(gou)的前(qian)提下(xia)進(jin)行檢(jian)測。但是，並不是(shi)所有需(xu)要測試(shi)的項(xiang)目(mu)和(he)指(zhi)標都(dou)能(neng)進(jin)行無損(sun)檢(jian)測，無(wu)損(sun)檢(jian)測技(ji)術也(ye)有(you)自(zi)身的局(ju)限性(xing)。某些(xie)試(shi)驗只(zhi)能(neng)采(cai)用破壞性(xing)試(shi)驗，因(yin)此，在(zai)目(mu)前(qian)無(wu)損(sun)檢(jian)測還不(bu)能(neng)代(dai)替破壞性(xing)檢(jian)測。也(ye)就(jiu)是(shi)說(shuo)，對(dui)壹個(ge)工件、材料、機器(qi)設備(bei)的評(ping)價，必(bi)須把(ba)無(wu)損(sun)檢(jian)測的結(jie)果(guo)與(yu)破壞性(xing)試(shi)驗的結(jie)果(guo)互(hu)相對(dui)比和(he)配(pei)合(he)，才能(neng)作(zuo)出準確的評(ping)定(ding)。

　　

　　X射線(xian)無損(sun)探(tan)傷(shang)特(te)點(dian)：

　　

　　對(dui)缺(que)陷影(ying)像檢(jian)測直(zhi)觀(guan)，對(dui)缺(que)陷的尺寸(cun)和(he)性(xing)質(zhi)判(pan)斷比較容易，便(bian)於分析(xi)處(chu)理，射(she)線(xian)照相底(di)片(pian)可(ke)作為原始的資(zi)料長期保(bao)存，使用圖像處(chu)理技(ji)術還可(ke)使評定(ding)分析(xi)自(zi)動化。此外(wai)，射線(xian)檢(jian)測對(dui)物(wu)體(ti)既不(bu)破壞也(ye)不存在(zai)汙(wu)染。缺(que)點是(shi)：對(dui)人體(ti)有害(hai)，在(zai)檢(jian)測中(zhong)必(bi)須註(zhu)意防護。此外(wai)相對(dui)於其他(ta)幾(ji)種無損(sun)檢(jian)測方(fang)法(fa)而言，射(she)線(xian)檢(jian)測的成(cheng)本較(jiao)高。

　　

　　X射線(xian)無損(sun)探(tan)傷(shang)應用範(fan)圍(wei)：

　　

　　X射線(xian)無損(sun)探(tan)傷(shang)只(zhi)適用(yong)於檢(jian)測與(yu)射(she)線(xian)束方(fang)向(xiang)平行的厚(hou)度(du)或(huo)密度(du)上的明(ming)顯(xian)異(yi)常(chang)部分。因(yin)此，檢(jian)測平面(mian)型缺(que)陷（如(ru)裂紋）的能(neng)力(li)取決(jue)於被檢(jian)測件是否處(chu)於輻(fu)射(she)方(fang)向(xiang)。而在(zai)所有方(fang)向(xiang)上都(dou)可(ke)以(yi)測量其體(ti)積(ji)上(shang)的缺(que)陷（如(ru)氣孔、夾雜(za)），只(zhi)要其相對(dui)於截(jie)面(mian)厚度(du)的尺寸(cun)不(bu)是(shi)太(tai)小(xiao)，均可(ke)以(yi)檢(jian)測出(chu)來。