無損(sun)探傷機(ji)如(ru)何用(yong)x射(she)線工作(zuo)的(de)

無損(sun)探傷機(ji)是(shi)利用(yong)射(she)線的(de)穿透(tou)性和直線(xian)性來探傷的方法(fa)。這(zhe)些射(she)線雖(sui)然不(bu)會(hui)像(xiang)可(ke)見(jian)光那(na)樣憑(ping)肉眼(yan)就能直接(jie)察(cha)知(zhi)，但(dan)它(ta)可(ke)使(shi)照相(xiang)底片感光，也(ye)可(ke)用(yong)特殊的接收(shou)器來接收(shou)。常用(yong)於探傷的射(she)線有x光和同位素發出(chu)的γ射(she)線，分別(bie)稱(cheng)為x光探傷和γ射(she)線探傷。當(dang)這些(xie)射(she)線穿過(guo)（照(zhao)射(she)）物質時，該物質的密(mi)度越大，射(she)線強度減弱得越多，即(ji)射(she)線能穿透(tou)過(guo)該(gai)物質的強度就越小。此時，若用(yong)照相(xiang)底片接收(shou)，則底片的感(gan)光量(liang)就小；若用(yong)儀器來接收(shou)，獲得的信號就弱(ruo)。

因此，無損(sun)探傷機(ji)用(yong)射(she)線來照射(she)待探傷的零部件(jian)時，若其(qi)內(nei)部有氣(qi)孔、夾(jia)渣(zha)等缺(que)陷(xian)，射(she)線穿過(guo)有缺(que)陷(xian)的(de)路徑(jing)比(bi)沒有缺(que)陷(xian)的(de)路徑(jing)所透(tou)過(guo)的(de)物質密度要(yao)小得多，其(qi)強度就減弱得少些，即透(tou)過(guo)的(de)強度就大(da)些(xie)，若用(yong)底片接收(shou)，則感光量(liang)就大(da)些(xie)，就可(ke)以(yi)從(cong)底片上(shang)反(fan)映(ying)出缺(que)陷(xian)垂直(zhi)於射(she)線方向的平面投(tou)影；若用(yong)其它(ta)接(jie)收(shou)器也(ye)同樣可(ke)以(yi)用(yong)儀表來反(fan)映(ying)缺(que)陷(xian)垂直(zhi)於射(she)線方向的平面投(tou)影和射(she)線的(de)透(tou)過(guo)量(liang)。

由此可(ke)見(jian)，壹般情(qing)況下，射(she)線探傷是(shi)不(bu)易發現(xian)裂(lie)紋(wen)的，或(huo)者(zhe)說(shuo)，x射(she)線探傷機(ji)對裂(lie)紋(wen)是(shi)不(bu)敏感(gan)的。因(yin)此，射(she)線探傷對氣(qi)孔、夾(jia)渣(zha)、未(wei)焊透(tou)等體(ti)積型(xing)缺(que)陷(xian)zui敏感(gan)。即射(she)線探傷適宜(yi)用(yong)於體(ti)積型(xing)缺(que)陷(xian)探傷，而(er)不(bu)適(shi)宜面積型(xing)缺(que)陷(xian)探傷。