X射(she)線晶體定(ding)向儀(yi)利(li)用(yong)X射(she)線衍射(she)原(yuan)理,精密(mi)快(kuai)速地測(ce)定(ding)天(tian)然(ran)和(he)人造(zao)單(dan)晶(壓(ya)電晶體、光學(xue)晶體、激光(guang)晶體、半導體晶體)的切割角(jiao)度(du),與切割機(ji)配(pei)備(bei)可用於上(shang)述(shu)晶體的定(ding)向切割,是精密(mi)加(jia)工(gong)制(zhi)造(zao)晶體器(qi)件*的儀器(qi)。該儀(yi)器(qi)廣泛應用於晶體材(cai)料的(de)研究、加工(gong)、制(zhi)造(zao)行業。
X射(she)線晶體定(ding)向儀(yi)測量(liang)精度(du)±30″,顯示方(fang)式為數(shu)字式,zui小讀(du)數(shu)為10″。
特(te)點:
X射(she)線晶體定(ding)向儀(yi)操(cao)作(zuo)簡便,不(bu)需(xu)要(yao)專業(ye)知(zhi)識(shi)和(he)熟(shu)練的(de)技(ji)術(shu);數字(zi)顯示測量角(jiao)度(du),容易(yi)觀(guan)察(cha),減(jian)少(shao)視覺帶來的(de)讀(du)數(shu)誤(wu)差(cha);顯示器(qi)可在(zai)任意(yi)角(jiao)度(du)置零(ling),便(bian)於直讀(du)角(jiao)度(du)偏差(cha)值(zhi);雙測角(jiao)儀提(ti)供(gong)的雙工(gong)位,提(ti)高了儀器(qi)的使用(yong)效(xiao)率.具(ju)有峰(feng)值(zhi)放(fang)大(da)的特殊積(ji)分(fen)器(qi),提(ti)高了檢(jian)測精(jing)度(du);射線管(guan)與高壓(ya)電纜壹體化,增(zeng)加了(le)高壓(ya)的可(ke)靠性;計(ji)數(shu)管(guan)高壓(ya)采用(yong)DC高壓(ya)模(mo)塊;真(zhen)空(kong)吸(xi)氣(qi)樣(yang)品板(ban),提(ti)高了測角(jiao)精度(du)與測量(liang)速度(du).
X射線晶體定(ding)向儀(yi)使用(yong)條(tiao)件:
◆環境(jing)溫(wen)度(du):2℃~30℃;
◆相(xiang)對濕(shi)度(du):不(bu)大於70%;
◆供(gong)電線路中(zhong)不(bu)得有(you)電焊機(ji),高頻(pin)爐(lu)等(deng)設(she)備(bei)引起(qi)的(de)高頻(pin)和(he)電弧(hu)幹(gan)擾;
◆電(dian)源:單向交流220V,50Hz,電源電壓(ya)波動不(bu)大於10%,電源容量(liang)不(bu)低於0.5kVA,有良(liang)好的(de)接(jie)地(di)裝置,接(jie)地電(dian)阻不(bu)大於4Ω。