X射線(xian)探傷(shang)儀檢驗規(gui)程(cheng)

X射(she)線(xian)探傷(shang)簡(jian)介  

射(she)線(xian)探傷(shang)是(shi)利用射線(xian)可以穿透(tou)物質(zhi)和在物質中有(you)衰(shuai)減的(de)特性(xing)來發(fa)現(xian)其中缺陷(xian)的(de)壹(yi)種無損探傷方法。它可以檢查(zha)金(jin)屬和非金(jin)屬材(cai)料(liao)及(ji)其制(zhi)品(pin)的(de)內部缺陷(xian)，如焊(han)縫(feng)中的(de)氣(qi)孔、夾(jia)渣、未(wei)焊(han)透(tou)等體積性缺陷(xian)。這(zhe)種無損探傷方法有(you)*的(de)*性，即檢驗缺陷(xian)的(de)直觀性、準(zhun)確(que)性(xing)和可靠(kao)性，而且(qie)，得到(dao)的(de)射線(xian)底片(pian)可(ke)用於(yu)缺陷(xian)的(de)分(fen)析(xi)和作為質量憑(ping)證(zheng)存(cun)檔。但(dan)此法(fa)也(ye)存在著設備(bei)較(jiao)復雜(za)、成本較高的(de)缺點，並需要對射(she)線(xian)進(jin)行(xing)防(fang)護。    

X射(she)線(xian)的(de)產生  

用來產生X射線(xian)的(de)裝(zhuang)置是X射(she)線(xian)管。它(ta)由陰(yin)極(ji)、陽(yang)極和真空玻璃（或金(jin)屬陶瓷）外殼組成(cheng)，其簡單(dan)結構和工作(zuo)原理(li)如圖1所(suo)示。陰(yin)極(ji)通以電流(liu)加(jia)熱至白熾狀(zhuang)態時，其陽(yang)極周圍形(xing)成電(dian)子(zi)雲，當在陽(yang)極與陰(yin)極(ji)間(jian)施加(jia)高壓時(shi)，電子加速穿過(guo)真空空間(jian)，高速運動(dong)的(de)電子束集中轟擊(ji)陽(yang)極靶(ba)子的(de)壹(yi)個面積（幾(ji)平(ping)方毫米左右(you)、稱(cheng)實(shi)際(ji)焦(jiao)點），電子被(bei)阻擋減速和吸收(shou)，其(qi)部分(fen)動(dong)能(neng)（約1%）轉換(huan)為(wei)X射(she)線(xian),其余99%以上的(de)能(neng)量變(bian)成熱(re)能(neng)。

X射(she)線(xian)的(de)主要性(xing)質(zhi) 

•不可(ke)見(jian)，以光速直線(xian)傳播(bo)。 

•具(ju)有(you)可穿透(tou)可見(jian)光不能(neng)穿透(tou)的(de)物質如(ru)骨(gu)骼(ge)、金(jin)屬等的(de)能(neng)力，並且(qie)在物質中有(you)衰(shuai)減的(de)特性(xing)。 •可(ke)以使物(wu)質(zhi)電離(li)，能(neng)使膠片(pian)感(gan)光，亦能(neng)使某些(xie)物質(zhi)產生熒(ying)光。   

γ射(she)線(xian)的(de)產生及(ji)性質(zhi) 

γ射(she)線(xian)是由放(fang)射性(xing)物質（60Co、192Ir等）內部原子核(he)的(de)衰(shuai)變(bian)過程(cheng)產生的(de)。 

γ射(she)線(xian)的(de)性質與(yu)X射(she)線(xian)相似(si)，由於(yu)其波長(chang)比X射(she)線(xian)短，因(yin)而射線(xian)能(neng)量高，具有(you)更大的(de)穿透(tou)力。例(li)如(ru)，目(mu)前廣(guang)泛(fan)使用的(de)γ射線(xian)源60Co，它可以檢查(zha)250mm厚的(de)銅質工件(jian)、350mm厚的(de)鋁制(zhi)工件(jian)和300mm厚的(de)鋼(gang)制(zhi)工件(jian)。   

射(she)線(xian)與物(wu)質(zhi)的(de)相互作(zuo)用 

當(dang)射(she)線(xian)穿透(tou)物質(zhi)時，由於(yu)物質對射(she)線(xian)有(you)吸收(shou)和散射(she)作用，從(cong)而引起射線(xian)能(neng)量的(de)衰(shuai)減。 射線(xian)在物質中的(de)衰(shuai)減是呈負(fu)指數(shu)規(gui)律(lv)變(bian)化的(de)，以強度(du)為I0的(de)壹(yi)束平(ping)行射(she)線(xian)束穿過(guo)厚度(du)為δ的(de)物質為(wei)例(li)，穿過(guo)物質後的(de)射線(xian)強度(du)為： 

I=I0e－μδ 

式(shi)中： 

I：射(she)線(xian)透(tou)過厚(hou)度(du)δ的(de)物質的(de)射線(xian)強度(du)； I0：射線(xian)的(de)初始強度(du)；