X射(she)線(xian)探(tan)傷(shang)簡介射(she)線探(tan)傷(shang)是(shi)利用(yong)射線(xian)可以(yi)穿透物(wu)質和在物質中有(you)衰減(jian)的(de)特性來(lai)發現(xian)其(qi)中缺(que)陷的(de)壹種無(wu)損(sun)探(tan)傷(shang)方(fang)法(fa)。它可以(yi)檢(jian)查金(jin)屬和非金(jin)屬材料(liao)及(ji)其(qi)制品的(de)內(nei)部(bu)缺(que)陷，如焊縫(feng)中的(de)氣(qi)孔、夾渣、未焊(han)透(tou)等(deng)體(ti)積性缺(que)陷。這種無(wu)損(sun)探(tan)傷(shang)方(fang)法(fa)有*的(de)*性，即(ji)檢(jian)驗缺(que)陷的(de)直觀(guan)性、準(zhun)確性和(he)可靠(kao)性，而且，得(de)到的(de)射線(xian)底(di)片(pian)可用(yong)於(yu)缺陷的(de)分析(xi)和作(zuo)為(wei)質(zhi)量(liang)憑(ping)證(zheng)存檔。但此(ci)法(fa)也存在著設備(bei)較(jiao)復雜(za)、成(cheng)本(ben)較(jiao)高的(de)缺點(dian)，並需要(yao)對(dui)射(she)線(xian)進行(xing)防(fang)護。X射線(xian)的(de)產生用(yong)來(lai)產生X射線(xian)的(de)裝置是(shi)X射線管(guan)。它由(you)陰(yin)極(ji)、陽(yang)極(ji)和(he)真空(kong)玻(bo)璃（或金(jin)屬陶瓷(ci)）外(wai)殼組成(cheng)，其(qi)簡單結(jie)構和工(gong)作(zuo)...

那(na)麽如(ru)何(he)正(zheng)確的(de)選(xuan)擇曝(pu)光條件(jian)呢(ne)？又(you)有(you)哪(na)些(xie)好的(de)使(shi)用(yong)習慣(guan)呢(ne)？通(tong)過實(shi)踐與(yu)理(li)論結合(he)，在此分析(xi)整(zheng)理(li)出以(yi)下的(de)正確(que)方法(fa)和好的(de)使(shi)用(yong)習慣(guan)：1.無(wu)損(sun)探(tan)傷(shang)機(ji)開機要(yao)預熱(re)後(hou)曝(pu)光，晚上(shang)不(bu)使(shi)用(yong)時關(guan)掉(diao)機(ji)器。2.選(xuan)擇合(he)適的(de)部(bu)位程序(xu)。3.使(shi)用(yong)出廠(chang)的(de)設置值(zhi)進行(xing)曝(pu)光。4.使(shi)用(yong)電離室(shi)曝(pu)光，並正確選(xuan)擇電離室(shi)的(de)探(tan)測野。5.在條件許(xu)可的(de)情況(kuang)下，盡(jin)量使(shi)用(yong)高千(qian)伏曝(pu)光，特別(bie)是(shi)胸片(pian)。6.手(shou)閘(zha)壹檔按(an)下後盡(jin)快按(an)下二檔曝(pu)光，也可以(yi)壹次按下壹檔和(he)二檔曝(pu)光。7.經常(chang)檢(jian)查手(shou)閘(zha)開關(guan)是(shi)否(fou)粘(zhan)住。8.選(xuan)擇合(he)適的(de)球管(guan)到(dao)平板(ban)的(de)距(ju)離（SID），盡(jin)量選(xuan)擇較(jiao)小(xiao)的(de)...

對(dui)於(yu)無(wu)損(sun)檢(jian)測工(gong)作(zuo)者來(lai)說，射(she)線(xian)檢(jian)測過(guo)程中(zhong)的(de)輻射(she)傷(shang)害(hai)及(ji)其(qi)防護是(shi)*和必須(xu)註意(yi)的(de)，今天(tian)就(jiu)讓(rang)我們從(cong)以(yi)下幾個(ge)方(fang)面(mian)來(lai)鞏(gong)固(gu)學(xue)習射線(xian)輻射(she)防(fang)護的(de)相(xiang)關(guan)知識，以(yi)提高安全意(yi)識，保(bao)護我們的(de)身心(xin)健康。1射線(xian)輻射(she)的(de)定義(yi)以(yi)及(ji)常(chang)見(jian)來(lai)源描(miao)述輻射量時通(tong)常會(hui)使(shi)用(yong)劑量這壹專業術語(yu)，劑量是(shi)指對(dui)某(mou)壹對(dui)象所(suo)接(jie)受或吸(xi)收的(de)輻射(she)的(de)壹種量度。劑量根(gen)據規(gui)定壹般包括(kuo)：吸(xi)收劑量當(dang)量、劑量當(dang)量、器官劑量、當(dang)量劑量、有(you)效劑量等(deng)。目前，射線(xian)檢(jian)測輻(fu)射(she)傷(shang)害(hai)主要(yao)來(lai)源於(yu)放射(she)源(yuan)或者X射線(xian)，這兩者在透照(zhao)過(guo)程中(zhong)均(jun)會(hui)不(bu)同(tong)程度(du)的(de)產生壹種電磁波(bo)，而這種電磁波(bo)就(jiu)像空(kong)...

影響(xiang)無(wu)損(sun)探(tan)傷(shang)儀(yi)器檢(jian)測可靠(kao)性的(de)另壹個重(zhong)要(yao)因(yin)素(su)是(shi)無(wu)損(sun)檢(jian)測方(fang)法(fa)的(de)局(ju)限性。不(bu)同(tong)的(de)無(wu)損(sun)檢(jian)測方(fang)法(fa)所依(yi)據(ju)的(de)物理(li)原理(li)是(shi)不(bu)相(xiang)同(tong)的(de)，它決(jue)定了(le)每壹種無(wu)損(sun)檢(jian)測方(fang)法(fa)都有(you)它(ta)自(zi)身的(de)特點(dian)和(he)局(ju)限性。因(yin)此(ci)，在檢(jian)測時就(jiu)應(ying)註意(yi)發揮某壹方法(fa)的(de)特點(dian)，避開(kai)它(ta)的(de)局(ju)限性。例(li)如(ru)：對(dui)受(shou)壓(ya)容器的(de)焊縫(feng)檢(jian)測，使(shi)用(yong)射線(xian)和(he)超(chao)聲兩(liang)種方法(fa)檢(jian)測能夠(gou)得到(dao)比單壹使(shi)用(yong)其(qi)中的(de)壹種方法(fa)獲(huo)得較(jiao)高的(de)檢(jian)測可靠(kao)性。有(you)的(de)缺陷只(zhi)能用(yong)超(chao)聲波(bo)來(lai)發現(xian)，而另壹些(xie)如(ru)小(xiao)氣(qi)孔或小(xiao)夾渣，則用(yong)射線(xian)照(zhao)相(xiang)法(fa)易於(yu)檢(jian)出，故僅使(shi)用(yong)壹種方法(fa)檢(jian)測所(suo)得(de)的(de)結果是(shi)不(bu)全(quan)面(mian)的(de)。因(yin)為(wei)不(bu)同(tong)方法(fa)都有(you)其(qi)自(zi)身的(de)局(ju)限性...

便攜式(shi)探(tan)傷(shang)機(ji)常用(yong)於(yu)造船(chuan)、石(shi)油、化(hua)工(gong)、機(ji)械(xie)、航天(tian)等(deng)行業(ye)的(de)船體(ti)、管道(dao)、高(gao)壓(ya)容器、鍋爐(lu)、飛(fei)機等(deng)部(bu)分(fen)的(de)無(wu)損(sun)檢(jian)測。既然X射(she)線探(tan)傷(shang)機(ji)如此重(zhong)要(yao)，我們該(gai)如(ru)何(he)選(xuan)購(gou)X射線(xian)探(tan)傷(shang)機(ji)呢(ne)？利用(yong)射線(xian)對(dui)材料(liao)具有(you)壹定的(de)穿透能力(li)及(ji)其(qi)在穿透材料(liao)過(guo)程中(zhong)，不(bu)同(tong)物質(zhi)和不(bu)同(tong)的(de)物體(ti)結構(gou)對(dui)射(she)線(xian)衰減(jian)程度(du)各(ge)不(bu)相(xiang)同(tong)，從(cong)而使(shi)缺(que)陷在照(zhao)相(xiang)膠(jiao)片(pian)或電視熒(ying)光屏(ping)上形(xing)成(cheng)影像，借以(yi)判斷(duan)工(gong)件(jian)內(nei)部(bu)的(de)缺陷和完整(zheng)性。輻(fu)射(she)源照(zhao)射(she)工(gong)件(jian)，X射線(xian)膠(jiao)片(pian)放在工(gong)件(jian)的(de)底(di)面(mian)，由(you)於(yu)有缺(que)陷的(de)材料(liao)與(yu)沒缺(que)陷的(de)材料(liao)吸(xi)收射(she)線(xian)不(bu)同(tong)，所以(yi)工(gong)件(jian)的(de)缺陷顯影在底(di)片(pian)上，借助(zhu)於(yu)缺陷的(de)圖像，可以(yi)判斷(duan)工(gong)...

文物CT檢(jian)測掃(sao)描(miao)分析(xi)系統文物CT檢(jian)測掃(sao)描(miao)分析(xi)系統主要(yao)分為(wei)高(gao)能量CT和(he)微焦(jiao)點(dian)CT。CT是(shi)基於(yu)計(ji)算機斷(duan)層(ceng)掃(sao)描(miao)技(ji)術，對(dui)文物進行(xing)2D，3D檢(jian)測。其(qi)應用(yong)主要(yao)有六個(ge)方(fang)面(mian)：●對(dui)文物內(nei)部(bu)結(jie)構(gou)及(ji)形(xing)貌進行(xing)無(wu)損(sun)掃描(miao)並分析(xi)；●對(dui)文物的(de)起源(yuan)，制作工(gong)藝(yi)、產地和(he)用(yong)途提供重(zhong)要(yao)信息(xi)；●對(dui)文物的(de)內(nei)部(bu)結(jie)構(gou)及(ji)尺(chi)寸進行(xing)二維(wei)、三(san)維(wei)的(de)測量(liang)；●對(dui)文物的(de)穿孔內(nei)壁(bi)，鑲(xiang)嵌(qian)加工(gong)痕(hen)跡數(shu)據分(fen)析(xi)，及(ji)數(shu)據庫的(de)建(jian)立(li)；●高(gao)精度獲(huo)取與(yu)解讀(du)文物的(de)三(san)維(wei)信(xin)息(xi)，並可實(shi)現逆(ni)向(xiang)工(gong)程；●相(xiang)位成(cheng)像功能。文物CT檢(jian)測掃(sao)描(miao)分析(xi)系統相(xiang)對(dui)優(you)勢(shi)：●開放(fang)式(shi)微焦(jiao)點(dian)射(she)線(xian)管(guan)，分...

常用(yong)無(wu)損(sun)檢(jian)測方(fang)法(fa)及(ji)其(qi)應用(yong)前言在現代(dai)化(hua)企(qi)業的(de)質量(liang)檢(jian)驗中(zhong)針(zhen)對(dui)不(bu)同(tong)產品、材料(liao)、結(jie)構選(xuan)擇何(he)種(zhong)無(wu)損(sun)檢(jian)測方(fang)法(fa)已成(cheng)為(wei)企(qi)業領導和工(gong)程技(ji)術人員(yuan)關(guan)註(zhu)的(de)問題(ti)。要(yao)解決(jue)好這個問題，就(jiu)必(bi)須(xu)對(dui)無(wu)損(sun)檢(jian)測方(fang)法(fa)及(ji)其(qi)特征有較(jiao)全面(mian)、科(ke)學(xue)的(de)了(le)解。下面(mian)簡要(yao)介紹(shao)這些(xie)常(chang)用(yong)方法(fa)的(de)特征，供有關(guan)人員(yuan)參考(kao)。所謂無(wu)損(sun)檢(jian)測，是(shi)在不(bu)損(sun)傷(shang)材料(liao)和(he)成(cheng)品的(de)條件(jian)下研究其(qi)內(nei)部(bu)和(he)表面(mian)有無(wu)缺(que)陷的(de)手(shou)段(duan)，簡稱ＮＤＴ（NondestructiveTesting）。也就是(shi)說，它(ta)利用(yong)材料(liao)內(nei)部(bu)結(jie)構(gou)的(de)異常(chang)或缺陷的(de)存在所引(yin)起的(de)對(dui)熱(re)、聲(sheng)、光、電、磁(ci)等(deng)反(fan)應(ying)的(de)變化(hua)，評價結(jie)構...

機械(xie)制造企(qi)業無(wu)損(sun)探(tan)傷(shang)解(jie)決(jue)方(fang)案無(wu)損(sun)檢(jian)測是(shi)指在不(bu)損(sun)傷(shang)被(bei)檢(jian)測對(dui)象的(de)條件(jian)下，利用(yong)材料(liao)內(nei)部(bu)結(jie)構(gou)異(yi)常或缺陷存在所引(yin)起的(de)對(dui)熱(re)、聲(sheng)、光、電、磁(ci)等(deng)物理(li)量的(de)變化(hua)，來(lai)探(tan)測各(ge)種(zhong)工(gong)程材料(liao)、零(ling)部(bu)件(jian)、結(jie)構(gou)件等(deng)內(nei)部(bu)和(he)表面(mian)缺陷。無(wu)損(sun)檢(jian)測被(bei)廣(guang)泛用(yong)於(yu)金(jin)屬材料(liao)、非金(jin)屬材料(liao)、復(fu)合(he)材料(liao)及(ji)其(qi)制品以(yi)及(ji)壹些(xie)電(dian)子元(yuan)器件的(de)檢(jian)測。無(wu)損(sun)檢(jian)測，是(shi)用(yong)非破壞方(fang)法(fa)檢(jian)查材料(liao)、毛(mao)坯和(he)零(ling)件的(de)內(nei)部(bu)或表面(mian)缺陷並評價其(qi)整(zheng)體(ti)質量(liang)的(de)技(ji)術，又(you)稱無(wu)損(sun)探(tan)傷(shang)。能發現(xian)材料(liao)或工(gong)件(jian)內(nei)部(bu)和(he)表面(mian)所存在的(de)缺欠(qian)，能測量(liang)工(gong)件(jian)的(de)幾何(he)特(te)征和尺寸，能測定材料(liao)或工(gong)件(jian)的(de)內(nei)部(bu)組成(cheng)、結構(gou)、物理(li)...