SEMICONChina和(he)慕尼黑電(dian)子(zi)展(zhan)再(zai)次聯(lian)袂舉行(xing)，奧龍射線集團有幸(xing)受(shou)邀(yao)參展(zhan)。SEMICONChina2017包括(kuo)四大(da)主(zhu)題展(zhan)區(qu)，分別為IC制(zhi)造、集成電(dian)路材料產業聯盟(meng)、MEMS、LED和藍寶(bao)石(shi)，並舉辦(ban)智(zhi)能汽車(che)電(dian)子(zi)、智(zhi)能制(zhi)造、綠(lv)色(se)廠(chang)務科技等論(lun)壇。國(guo)內(nei)的(de)半導體行(xing)業將再(zai)次崛(jue)起，為滿足市場(chang)需(xu)要(yao)我(wo)們推(tui)出了新(xin)型藍寶(bao)石(shi)定向(xiang)粘(zhan)結設(she)備和單晶(jing)矽定向(xiang)設(she)備。奧龍品(pin)牌儀(yi)器(qi)將為(wei)客戶的(de)產品(pin)定向(xiang)提(ti)供(gong)更(geng)精(jing)密更(geng)快(kuai)速(su)的(de)服(fu)務。綠(lv)色(se)汽車(che)行(xing)業的崛(jue)起以(yi)及(ji)手機(ji)電(dian)池行(xing)業的多次質量(liang)問(wen)題(ti)，註(zhu)定了未(wei)來(lai)生(sheng)產(chan)中X射線檢(jian)測儀(yi)器(qi)的*的(de)地位(wei)。...

由於市場對(dui)加工(gong)型企業的質(zhi)量(liang)要(yao)求越來(lai)越高，也要求相應的(de)生(sheng)產(chan)企業必須具備產品質量(liang)檢(jian)測設(she)備。那麽什麽樣(yang)的設(she)備適合您的檢(jian)測需(xu)要(yao)呢？這些都要取決(jue)於您的產(chan)品密(mi)度(du)、尺寸(cun)、檢測的缺(que)陷要求、每天(tian)的(de)檢(jian)測數量(liang)等因素。針(zhen)對(dui)鑄件(jian)的內(nei)部(bu)檢(jian)測，X射線探(tan)傷與(yu)超聲波探傷有哪些區別？X射線對(dui)體積型缺(que)陷敏(min)感，但對(dui)線狀(zhuang)缺陷，特別是厚板(ban)中(zhong)細(xi)微的(de)未(wei)焊(han)透(tou)(熔入(ru)缺乏)或微(wei)裂紋等難於發現，而超聲波探傷儀(yi)對(dui)線狀(zhuang)缺陷敏(min)感，卻對(dui)點(dian)狀(zhuang)缺陷的定量(liang)不(bu)輕易定準;射線照(zhao)像(xiang)對(dui)工件(jian)外(wai)表要(yao)求不(bu)高，它是(shi)經(jing)過(guo)底片來(lai)評(ping)價(jia)焊(han)接質(zhi)量(liang)的(de)，其特點(dian)是直(zhi)觀且(qie)易於定...

夏(xia)季(ji)到了，就(jiu)連(lian)我(wo)們地(di)處涼(liang)爽的北方(fang)都遭遇了40度(du)的(de)高溫，我(wo)想南方(fang)的小(xiao)夥伴(ban)們(men)也壹樣(yang)很(hen)煎熬(ao)吧。在(zai)這炎(yan)熱(re)又(you)多雨的夏(xia)季(ji)，我(wo)們該(gai)如何(he)保護好(hao)我(wo)們的(de)X光(guang)機(ji)呢(ne)？1.請確認(ren)儀(yi)器(qi)的清(qing)潔(jie)度(du)。壹般X光(guang)機(ji)都放置在(zai)生產車(che)間(jian)，灰塵比(bi)較(jiao)大，即使是(shi)這樣(yang)，也請定期的(de)清(qing)理X射線機(ji)上(shang)的灰塵，如果(guo)有清(qing)理不(bu)到或者不(bu)知(zhi)該(gai)如何(he)處理的(de)請(qing)專(zhuan)業人(ren)員(yuan)。2.清(qing)潔(jie)電(dian)纜(lan)，塗(tu)抹矽脂。電(dian)纜(lan)在(zai)使用壹段時間(jian)之後(hou)，由於高溫電(dian)纜(lan)上的矽脂會(hui)幹(gan)結，容(rong)易讓(rang)電(dian)纜(lan)生銹(xiu)或者發(fa)生爬(pa)電(dian)的情況。這就需(xu)要(yao)使用人(ren)員(yuan)定期的(de)對(dui)電(dian)纜(lan)進(jin)行(xing)清(qing)潔(jie)和(he)塗(tu)抹矽脂，以(yi)此(ci)來(lai)保(bao)持電(dian)纜(lan)的長時間(jian)使(shi)用...

X射線晶(jing)體分析(xi)儀(yi)能夠(gou)提(ti)供(gong)穩(wen)定的X射線光(guang)源(yuan),特點(dian)是利用可(ke)控(kong)矽和集成電(dian)路自(zi)動控(kong)制(zhi)系(xi)統(tong)進(jin)行(xing)調流調壓,從(cong)而獲得壹個強(qiang)而穩定的射線光(guang)源(yuan).該(gai)機(ji)射線發(fa)生(sheng)器(qi)功率大,整機(ji)穩(wen)定性高(gao),操作簡單,可(ke)靠(kao)性強(qiang),防護完善,可(ke)與(yu)各種射線照(zhao)相(xiang)機(ji)壹起構成X射線晶(jing)體分析(xi)儀(yi),或用(yong)於其他用途的(de)X射線光(guang)源(yuan)。廣(guang)泛用(yong)於冶金(jin)、機(ji)械(xie),電(dian)子(zi)、化(hua)工(gong)、地(di)質(zhi)、能源(yuan)等科研(yan)、企業、大專(zhuan)院(yuan)校。X射線晶(jing)體分析(xi)儀(yi)主(zhu)要用於研究物(wu)質(zhi)內(nei)部(bu)微(wei)觀結構(gou)。如：單(dan)晶(jing)定向(xiang)、檢(jian)驗(yan)缺(que)陷、物(wu)質(zhi)定性、測定點(dian)陣參(can)數(shu)、測定殘(can)余應力(li)等。X射線晶(jing)體分析(xi)儀(yi)主(zhu)要特點(dian)：1.冷卻裝(zhuang)置：...

無(wu)損探(tan)傷機(ji)是(shi)利用射線的(de)穿透(tou)性和(he)直(zhi)線性(xing)來(lai)探(tan)傷的(de)方(fang)法(fa)。這些射線雖(sui)然(ran)不(bu)會(hui)像(xiang)可(ke)見(jian)光(guang)那(na)樣(yang)憑(ping)肉眼(yan)就能直(zhi)接察(cha)知(zhi)，但它(ta)可(ke)使(shi)照(zhao)相(xiang)底片感光(guang)，也可(ke)用(yong)特殊的(de)接(jie)收器(qi)來(lai)接(jie)收。常用於探傷的(de)射線有x光(guang)和(he)同位(wei)素發出的(de)γ射線，分別稱為x光(guang)探(tan)傷和(he)γ射線探(tan)傷。當(dang)這些射線穿過（照(zhao)射）物(wu)質(zhi)時，該(gai)物(wu)質(zhi)的(de)密(mi)度越大，射線強(qiang)度減(jian)弱(ruo)得越多，即射線能穿透(tou)過該(gai)物(wu)質(zhi)的(de)強(qiang)度就(jiu)越小。此(ci)時，若(ruo)用(yong)照(zhao)相(xiang)底片接(jie)收，則底片的(de)感光(guang)量(liang)就(jiu)小(xiao)；若(ruo)用(yong)儀(yi)器(qi)來(lai)接(jie)收，獲得的信號(hao)就弱(ruo)。因此，無(wu)損探(tan)傷機(ji)用(yong)射線來(lai)照(zhao)射待(dai)探傷的(de)零(ling)部(bu)件(jian)時，若(ruo)其內(nei)部(bu)有氣(qi)孔(kong)、夾渣(zha)等缺陷，射線穿過...

X射線衍(yan)射儀(yi)采(cai)用進(jin)口可(ke)編(bian)程(cheng)序控制(zhi)器(qi)（PLC）技術(shu)，該(gai)技術(shu)控制(zhi)確，抗幹(gan)擾性好(hao)，可(ke)實(shi)現高壓控制(zhi)部(bu)分*率。PLC與微機(ji)接(jie)口，可(ke)實(shi)現微機(ji)終(zhong)端直(zhi)接控(kong)制(zhi)儀(yi)器(qi)高壓(ya)的開(kai)關，升(sheng)降(jiang)及(ji)光(guang)閘(zha)的(de)開(kai)關。使(shi)儀(yi)器(qi)自(zi)動化(hua)程(cheng)度更(geng)高(gao)。性(xing)能更(geng)加穩(wen)定。全中(zhong)文界面(mian)，保護功能齊(qi)全(quan)，可(ke)有效地(di)避免(mian)壹些外(wai)在(zai)因素造成儀(yi)器(qi)的損(sun)壞。具有自(zi)動訓(xun)練X射線管(guan)的(de)功能。在(zai)開(kai)高壓(ya)的(de)過(guo)程(cheng)中可(ke)直(zhi)接升(sheng)降(jiang)高(gao)壓，勿(wu)需(xu)關(guan)閉高壓(ya)重(zhong)新(xin)進(jin)行(xing)操作延(yan)長(chang)X射線管(guan)及(ji)儀(yi)器(qi)的使(shi)用壽(shou)命。高(gao)精(jing)度立(li)式測角儀(yi)采(cai)用先(xian)進(jin)的軸編(bian)碼(ma)器(qi)結構(gou)，zui小步進(jin)角0.0005°，是目前(qian)國(guo)內(nei)精(jing)度zui...

壹、設(she)備完好(hao)要(yao)求1、技術參數(shu)符(fu)合要求。2、控制(zhi)箱運用靈(ling)活(huo)，無(wu)失(shi)靈(ling)現象(xiang)。3、各參(can)數(shu)、狀(zhuang)態(tai)指示(shi)穩(wen)定、準確。4、計時準確。5、控制(zhi)箱工作噪(zao)音(yin)應附(fu)合要求。6、發生器(qi)工作時，工(gong)作電(dian)壓、電(dian)流穩定性好(hao)。7、外(wai)觀(guan)檢(jian)查(zha)清(qing)潔(jie)衛(wei)生，無(wu)明(ming)顯(xian)損(sun)傷。二(er)、技術(shu)安(an)全(quan)操作規程(cheng)1、為保護射線管(guan)使(shi)用壽(shou)命，工(gong)作前(qian)檢(jian)查(zha)該(gai)機(ji)是(shi)否穩定，機(ji)頭(tou)風(feng)扇(shan)是否正常(chang)運(yun)轉和有無(wu)其它故(gu)障。2、工作前(qian)應對(dui)曝(pu)光(guang)曲線。增感方(fang)式、靈(ling)敏(min)度等技術(shu)參數進(jin)行(xing)測定，以(yi)便(bian)選(xuan)擇(ze)*參(can)數。3、工作前(qian)對(dui)膠片(pian)進(jin)行(xing)參數(shu)測定。4、工作時應用(yong)國(guo)家(jia)防(fang)護標準采(cai)用距離(li)、時間(jian)、屏(ping)蔽(bi)...

X射線晶(jing)體定向(xiang)儀(yi)利用X射線衍(yan)射原理,精(jing)密快(kuai)速地(di)測定天(tian)然(ran)和(he)人(ren)造單晶(jing)(壓電(dian)晶(jing)體、光(guang)學晶(jing)體、激(ji)光(guang)晶(jing)體、半導體晶(jing)體)的切(qie)割(ge)角度，與(yu)切(qie)割(ge)機(ji)配(pei)備可(ke)用(yong)於上述(shu)晶(jing)體的定向(xiang)切(qie)割(ge)，是(shi)精(jing)密加工(gong)制(zhi)造晶(jing)體器(qi)件(jian)*的儀(yi)器(qi)。該(gai)儀(yi)器(qi)廣(guang)泛應用(yong)於晶(jing)體材料的(de)研究、加工(gong)、制(zhi)造行(xing)業。X射線晶(jing)體定向(xiang)儀(yi)測量(liang)精(jing)度±30″，顯(xian)示(shi)方(fang)式為數(shu)字(zi)式，zui小讀(du)數為(wei)10″。特點(dian)：X射線晶(jing)體定向(xiang)儀(yi)操作簡便(bian),不(bu)需(xu)要(yao)專業知(zhi)識(shi)和(he)熟(shu)練的技(ji)術(shu)；數(shu)字(zi)顯(xian)示(shi)測量(liang)角度,容(rong)易觀(guan)察(cha),減(jian)少視(shi)覺帶(dai)來(lai)的(de)讀(du)數誤(wu)差；顯(xian)示(shi)器(qi)可(ke)在(zai)任意(yi)角度置(zhi)零(ling),便(bian)於直(zhi)讀(du)角度偏(pian)差值(zhi)...