無損檢(jian)測是指在不(bu)損害(hai)或不(bu)影(ying)響(xiang)被(bei)檢(jian)測對象使(shi)用性能,不(bu)傷害被(bei)檢(jian)測對象內(nei)部(bu)組織的(de)前(qian)提下(xia)，利用材料(liao)內(nei)部(bu)結(jie)構異常或(huo)缺(que)陷(xian)存在引起的(de)熱(re)、聲、光、電、磁等反應的(de)變化(hua)，以(yi)物理或(huo)化(hua)學(xue)方(fang)法為手段(duan)，借助(zhu)現代化(hua)的(de)技(ji)術(shu)和設(she)備器材，對試(shi)件內(nei)部(bu)及表(biao)面(mian)的結(jie)構、性質、狀態(tai)及缺(que)陷(xian)的類(lei)型、性(xing)質、數(shu)量(liang)、形(xing)狀、位(wei)置、尺(chi)寸、分(fen)布及其(qi)變化(hua)進(jin)行(xing)檢查和測試(shi)的方(fang)法[1]。無損檢(jian)測是工業發展(zhan)*的(de)有效工具，在壹(yi)定(ding)程(cheng)度上(shang)反(fan)映了(le)壹(yi)個(ge)國家(jia)的(de)工業發展(zhan)水(shui)平，無(wu)損檢(jian)測的重要性(xing)已得(de)到*，主要有(you)射線(xian)檢驗（RT）、超(chao)聲檢(jian)測（UT）、磁粉檢測（MT）和...

丹東(dong)奧(ao)龍射線(xian)儀器集(ji)團有限公(gong)司在這裏(li)簡(jian)單(dan)的介紹壹(yi)些無(wu)損檢(jian)測知識(shi)，希(xi)望對大(da)家(jia)有(you)所(suo)幫助。無(wu)損檢(jian)測是指在不(bu)損害(hai)或不(bu)影(ying)響(xiang)被(bei)檢(jian)測對象使(shi)用性能,不(bu)傷害被(bei)檢(jian)測對象內(nei)部(bu)組織的(de)前(qian)提下(xia)，利用材料(liao)內(nei)部(bu)結(jie)構異常或(huo)缺(que)陷(xian)存在引起的(de)熱(re)、聲、光、電、磁等反應的(de)變化(hua)，以(yi)物理或(huo)化(hua)學(xue)方(fang)法為手段(duan)，借助(zhu)現代化(hua)的(de)技(ji)術(shu)和設(she)備器材，對試(shi)件內(nei)部(bu)及表(biao)面(mian)的結(jie)構、性質、狀態(tai)及缺(que)陷(xian)的類(lei)型、性(xing)質、數(shu)量(liang)、形(xing)狀、位(wei)置、尺(chi)寸、分(fen)布及其(qi)變化(hua)進(jin)行(xing)檢查和測試(shi)的方(fang)法[1]。無損檢(jian)測是工業發展(zhan)*的(de)有效工具，在壹(yi)定(ding)程(cheng)度上(shang)反(fan)映了(le)壹(yi)個(ge)國家(jia)的(de)工業發展(zhan)水(shui)平，無(wu)損...

晶(jing)體定(ding)向儀：X射線(xian)晶體定(ding)向儀利(li)用X射線(xian)衍射原理，精(jing)密(mi)快(kuai)速地測定天(tian)然和人造(zao)單(dan)晶（壓電晶體，光學晶(jing)體，激(ji)光晶體，半導體晶(jing)體）的(de)切割角(jiao)度，與切割機配套可(ke)用於(yu)上(shang)述(shu)晶體的(de)定向切割，是精密加(jia)工制(zhi)造(zao)晶(jing)體器件*的儀(yi)器。該儀(yi)器廣(guang)泛應用於(yu)晶體材(cai)料(liao)的研(yan)究(jiu)，加工，制(zhi)造(zao)行(xing)業。各(ge)向異性是(shi)晶體的(de)本(ben)征(zheng)特性(xing)，即晶體在不(bu)同(tong)方向上(shang)具有(you)不(bu)同(tong)的光學、電學、力(li)學(xue)等(deng)物理性(xing)能，在應用時(shi)，根據(ju)使(shi)用目的不(bu)同(tong)，必須(xu)對晶(jing)體進(jin)行(xing)不(bu)同(tong)的定(ding)向切割。例如(ru)，要制(zhi)作性能優(you)異的Si壓力(li)傳(chuan)感(gan)器，必須利用Si單晶在(001)面(mian)上(shang)的(de)110方(fang)向壓阻效應...

工業CT工作原理電子計算(suan)機體層(ceng)攝影(Computedtomography，簡(jian)稱CT)是近(jin)十年(nian)來(lai)發展(zhan)迅速的電子計算(suan)機和X線(xian)相結(jie)合的壹(yi)項新(xin)穎(ying)的診斷(duan)新(xin)技(ji)術。其原理是(shi)基於(yu)從(cong)多(duo)個(ge)投(tou)影數(shu)據(ju)應用計算(suan)機重(zhong)建(jian)圖(tu)像的壹(yi)種(zhong)方法，現代斷(duan)層(ceng)成(cheng)像過(guo)程(cheng)中(zhong)僅僅采(cai)集(ji)通(tong)過(guo)特定(ding)剖面(mian)(被(bei)檢(jian)測對象的(de)薄(bo)層，或(huo)稱為切片(pian))的(de)投(tou)影數(shu)據(ju)，用來重建(jian)該剖面(mian)的圖(tu)像，因(yin)此也(ye)就從(cong)根(gen)本(ben)上(shang)消(xiao)除了(le)傳(chuan)統斷(duan)層(ceng)成(cheng)像的“焦(jiao)平面(mian)”以外其他(ta)結(jie)構對感(gan)興(xing)趣(qu)剖面(mian)的幹(gan)擾，“焦(jiao)平面(mian)”內(nei)結(jie)構的對比(bi)度得(de)到了(le)明顯(xian)的(de)增強(qiang);同(tong)時(shi)斷(duan)層(ceng)圖(tu)像中(zhong)圖(tu)像強(qiang)度(灰度)數(shu)值(zhi)能真(zhen)正(zheng)與被(bei)檢(jian)對象...

便攜(xie)試(shi)射線(xian)探傷機範(fan)圍(wei)1、便(bian)攜(xie)試(shi)射線(xian)探傷機拆(chai)箱後應根(gen)據(ju)說(shuo)明書(shu)和裝箱單進行(xing)檢查，查(zha)看各(ge)個(ge)部件是否完(wan)整(zheng)，外觀有無機械(xie)缺(que)陷(xian)，射線(xian)管是否損壞(huai)，若(ruo)x射線(xian)管損壞(huai)應及時(shi)調(tiao)換。2、先(xian)把便(bian)攜(xie)試(shi)射線(xian)探傷機水(shui)平放(fang)置，輪流擡(tai)高(gao)兩頭，再從(cong)射線(xian)窗口檢(jian)查x射線(xian)發生(sheng)器內(nei)有(you)無氣泡(pao)，若(ruo)發現氣泡(pao)，應找出(chu)漏氣(qi)處(chu)，並(bing)檢(jian)查密封(feng)連(lian)接處(chu)設(she)法消(xiao)除漏氣(qi)原因(yin)，然後將(jiang)漏氣(qi)排(pai)除。3、價(jia)差操(cao)作箱內(nei)有(you)無螺絲(si)松(song)動(dong)等異常響(xiang)動，各(ge)指標儀表(biao)是否破損，若(ruo)發現問(wen)題(ti)應及時(shi)排除。4、便(bian)攜(xie)試(shi)射線(xian)探傷機應安裝或(huo)放置(zhi)在通(tong)風、幹(gan)燥、清潔的(de)具有(you)安全(quan)防(fang)護(hu)措施的(de)曝光室...

鋼(gang)結(jie)構件的焊(han)縫主要是(shi)檢(jian)驗焊(han)縫的(de)外觀成型質(zhi)量(liang),檢(jian)驗內(nei)容壹(yi)般(ban)為焊(han)腳(jiao)高(gao)度,咬邊,焊(han)接(jie)變形(xing),焊(han)瘤(liu),弧坑,焊(han)縫直(zhi)度等當然(ran)還(hai)有焊(han)縫的(de)內(nei)在質量(liang),如(ru)夾(jia)渣(zha),氣(qi)孔(kong),未焊(han)透(tou),裂(lie)紋,未熔合(he)等.外觀檢驗的(de)器具有(you)直(zhi)尺,焊(han)接(jie)檢(jian)驗尺(chi),放大(da)鏡(jing)等(deng),內(nei)在質量(liang)檢(jian)驗主要是(shi)著(zhe)色(se)探傷,和磁粉探傷.焊(han)縫檢(jian)查(zha)分(fen)為：外觀質量(liang)和內(nei)部(bu)質量(liang)檢(jian)查(zha)；外觀檢查：焊(han)接(jie)尺(chi)寸、有無(wu)焊(han)接(jie)缺(que)陷(xian)等；內(nei)部(bu)質量(liang)：主要采(cai)用無損檢(jian)測的方法。焊(han)接(jie)質(zhi)量(liang)的(de)保(bao)證，主要是(shi)嚴格落實(shi)焊(han)接(jie)評定試(shi)驗條(tiao)件的過(guo)程(cheng)控制。壹(yi)、可(ke)以(yi)用眼(yan)觀察(cha)，看是否有(you)氣(qi)孔(kong)、殘(can)留的焊(han)渣(zha)；二(er)、做焊(han)縫探(tan)傷不(bu)僅...

丹東(dong)奧(ao)龍射線(xian)集(ji)團參加“丹東(dong)市科(ke)技創(chuang)新(xin)大(da)會”榮(rong)獲(huo)兩項榮譽(yu)實(shi)施創(chuang)新(xin)驅(qu)動(dong)戰略，優(you)化(hua)科(ke)技資源(yuan)配(pei)置(zhi)，推動經濟(ji)增長(chang)方(fang)式向創(chuang)新(xin)驅(qu)動(dong)轉(zhuan)變，2026年(nian)01月(yue)03日(ri)上(shang)午，丹東(dong)市“全(quan)市科(ke)技創(chuang)新(xin)大(da)會”在丹東(dong)市人民政府(fu)會議(yi)廳(ting)隆(long)重(zhong)召(zhao)開(kai)，中(zhong)共(gong)丹東(dong)市委書(shu)記葛海鷹、丹東(dong)市市長(chang)孫(sun)誌浩(hao)、省科(ke)技廳(ting)廳(ting)長(chang)於(yu)言良(liang)、鴨(ya)綠(lv)江(jiang)之友(you)院士(shi)專(zhuan)家(jia)聯(lian)誼(yi)會名譽會長(chang)、中(zhong)國(guo)科(ke)協原副主席(xi)徐(xu)善衍院士(shi)等相關領導出席(xi)本(ben)次(ci)會議(yi)。會上(shang)，丹東(dong)市常(chang)務(wu)副市長(chang)何(he)誌勇宣讀(du)科(ke)技獎勵(li)決定(ding)，丹東(dong)奧(ao)龍射線(xian)儀器集(ji)團有限公(gong)司榮獲(huo)“丹東(dong)市高(gao)新(xin)技(ji)術企業”榮譽(yu)稱號，公(gong)司新(xin)產(chan)品“ALL...

ALL-5800B立(li)式多(duo)角(jiao)度X射線(xian)晶體定(ding)向儀項目成果(guo)是(shi)針(zhen)對大(da)體積(ji)、大(da)重量(liang)的(de)晶(jing)體進(jin)行(xing)定向分(fen)析而(er)研(yan)發的(de)科(ke)學儀(yi)器，能夠直(zhi)觀測量(liang)出(chu)晶(jing)體峰(feng)值(zhi)、峰(feng)位(wei)、晶面(mian)偏差(cha)的(de)新(xin)型定(ding)向儀產(chan)品。攻克(ke)了(le)國(guo)外技術只能定(ding)向兩個(ge)角(jiao)度、國內(nei)技(ji)術只能手動定向0°、90°、270°、360°的難題(ti)；修(xiu)改(gai)了(le)以(yi)往機(ji)械(xie)頂針(zhen)式無法確定X光檢測位(wei)置是(shi)否正(zheng)確(que)的(de)問(wen)題(ti)，使(shi)晶體不(bu)受(shou)損傷，提高(gao)了(le)檢(jian)測精度和效率。ALL-5800B立(li)式多(duo)角(jiao)度X射線(xian)定向儀在國內(nei)外晶體定(ding)向領域(yu)中(zhong)應用非常廣(guang)泛，可(ke)普遍(bian)應用於(yu)院校(xiao)、科(ke)研(yan)院所(suo)、及對藍(lan)寶石等諸(zhu)多(duo)晶體進(jin)行(xing)粘...