X射線檢測原理(li)X射線檢測是利(li)用X射線技術觀(guan)察(cha)、研(yan)究(jiu)和(he)檢驗(yan)材(cai)料微(wei)觀(guan)結(jie)構、化學(xue)組成(cheng)、表(biao)面(mian)或(huo)內(nei)部結(jie)構缺陷的實(shi)驗(yan)技術。如(ru)X射線粉(fen)末衍(yan)射術、X射線熒(ying)光譜法(fa)、X射線照(zhao)相(xiang)術、X射線形(xing)貌(mao)術等(deng)。(1)x射線的特(te)性(xing)X射線是壹(yi)種(zhong)波長(chang)很(hen)短(duan)的電磁(ci)波，是壹(yi)種(zhong)光子，波長(chang)為(wei)10~10cmx射線有(you)下(xia)列特(te)點：①穿(chuan)透(tou)性(xing)x射線能(neng)穿(chuan)透(tou)壹般(ban)可見光所不能(neng)透(tou)過的物(wu)質(zhi)。其穿(chuan)透(tou)能(neng)力的強弱，與(yu)x射線的波長(chang)以(yi)及被穿(chuan)透(tou)物質(zhi)的密(mi)度(du)和厚(hou)度(du)有(you)關(guan)。x射線波長(chang)愈短(duan)，穿(chuan)透(tou)力就(jiu)愈大;密(mi)度(du)愈低，厚(hou)度(du)愈薄，則(ze)x射線愈易穿(chuan)透(tou)。在(zai)實際(ji)工作中，通過球(qiu)管的電...

硬(ying)度(du)計是壹(yi)種(zhong)手持(chi)式(shi)硬(ying)度(du)測試儀器，它(ta)通過回(hui)跳(tiao)法來測(ce)定(ding)金(jin)屬(shu)硬(ying)度(du)，由(you)於測(ce)量收獲的信(xin)號(hao)是電壓(ya)值(zhi)，電腦處(chu)理特別(bie)方便(bian)，測量(liang)後(hou)可立即(ji)讀(du)出(chu)測(ce)量值(zhi)，並能(neng)即(ji)時(shi)換(huan)算為(wei)布(bu)氏、洛氏(shi)、維氏(shi)等硬(ying)度(du)值(zhi)。因其具備(bei)體積小、分量輕(qing)、便(bian)於攜(xie)帶(dai)、測(ce)試精(jing)度(du)高(gao)、測量(liang)範圍(wei)寬(kuan)、測(ce)試(shi)方向(xiang)任(ren)意(yi)、對(dui)測(ce)試(shi)表(biao)面(mian)損(sun)傷小(xiao)等(deng)優點(dian)，被廣(guang)泛(fan)使用於(yu)鍋(guo)爐、壓(ya)力(li)容器(qi)制(zhi)造(zao)檢測。怎樣(yang)鑒別(bie)硬(ying)度(du)計的好(hao)壞(huai)?屬(shu)於(yu)計量檢測儀器，在(zai)保證產(chan)品質(zhi)量、停(ting)止失(shi)效分析方面(mian)起(qi)著(zhe)重要(yao)作用，因(yin)此選(xuan)擇好(hao)硬(ying)度(du)計對於(yu)使用者(zhe)來說(shuo)是個(ge)關(guan)鍵(jian)問(wen)題(ti)。真(zhen)正(zheng)的硬(ying)度(du)計是契(qi)合(he)國家(jia)標(biao)準和標(biao)準且具(ju)備(bei)互(hu)換(huan)壹致(zhi)性(xing)...

X射線照(zhao)相(xiang)法探(tan)傷是利(li)用X射線在(zai)物資中的衰(shuai)減規(gui)律(lv)和射線能(neng)使某些(xie)物(wu)質(zhi)產(chan)生熒(ying)光、光化作用的特(te)點，將射線穿(chuan)過被(bei)探(tan)工件照(zhao)射到X射線膠(jiao)片(pian)上使膠(jiao)片(pian)感光，再經過暗(an)室(shi)處(chu)理(li)，反(fan)映工件內(nei)部情況的照(zhao)相(xiang)底片，利用這(zhe)種(zhong)底片在(zai)強光燈上(shang)分析，從(cong)而(er)判(pan)斷(duan)被(bei)探(tan)工件內(nei)部質(zhi)量。評片(pian)尺(chi)、像(xiang)質(zhi)計、X射線膠(jiao)片(pian)、暗(an)袋(dai)、增(zeng)感屏、鉛(qian)字標記(ji)、顯(xian)影藥(yao)水、定(ding)影藥(yao)水、洗(xi)片夾(jia)等(deng)便(bian)攜(xie)式(shi)X射線探(tan)傷機配制(zhi)顯(xian)影、定影藥(yao)水（壹(yi)般應(ying)提前24小(xiao)時(shi)配制(zhi)），做(zuo)好(hao)暗(an)室(shi)準備(bei)。將X射線膠(jiao)片(pian)，增感屏按(an)確(que)定的增(zeng)感方式(shi)在(zai)暗(an)室(shi)中(zhong)裝(zhuang)入暗(an)袋(dai)。選(xuan)取壹對(dui)接平(ping)板焊(han)縫(feng)或(huo)對接鋼管(guan)焊(han)縫(feng)...

工業(ye)CT是什麽(me)？1.準確(que)定位，圖(tu)像(xiang)更(geng)易識(shi)別(bie)常規(gui)射線檢測技術主要是把(ba)三(san)維物(wu)體投(tou)影到二維平(ping)面上(shang)，容易造(zao)成(cheng)圖(tu)像(xiang)信(xin)息的疊加(jia)，如(ru)果(guo)想(xiang)要(yao)獲得(de)圖(tu)像(xiang)上(shang)的信(xin)息，沒(mei)有(you)經驗(yan)的話(hua)，對目(mu)標(biao)進(jin)行(xing)準確(que)定位和定(ding)量(liang)測(ce)量(liang)非(fei)常困難(nan)。工業(ye)CT在(zai)對工件進(jin)行(xing)檢測的時(shi)候(hou)，能(neng)夠給出(chu)二(er)維或(huo)者(zhe)三維的圖(tu)像(xiang)，需要測(ce)量(liang)的目(mu)標(biao)不(bu)會受到周圍(wei)細(xi)節特(te)征的遮(zhe)擋(dang)，所得(de)到(dao)的圖(tu)像(xiang)非(fei)常容易進(jin)行(xing)識別(bie)。從圖(tu)像(xiang)上(shang)能(neng)直接獲得(de)目(mu)標(biao)特(te)征的具(ju)體空間(jian)位置，形(xing)狀(zhuang)以(yi)及尺(chi)寸(cun)信(xin)息(xi)。2.密(mi)度(du)分辨能(neng)力更(geng)高(gao)工業(ye)CT具(ju)有(you)突出的密(mi)度(du)分辨能(neng)力，高(gao)質(zhi)量的CT圖(tu)像(xiang)密(mi)度(du)分辨率(lv)甚(shen)至可達(da)到(dao)0.3...

焊(han)縫(feng)的無損(sun)檢測要(yao)求1.在(zai)需要進(jin)行(xing)疲勞(lao)計算的構(gou)件中，凡對接焊縫(feng)均(jun)應(ying)焊透(tou)，其質(zhi)量等(deng)級(ji)為(wei)1)作用力(li)垂(chui)直於焊縫(feng)長度(du)方向(xiang)的橫(heng)向對接焊縫(feng)或(huo)T形(xing)對接與(yu)角(jiao)接組合(he)焊縫(feng)，受拉(la)時(shi)應(ying)為(wei)壹(yi)級(ji)，受壓(ya)時(shi)應(ying)為(wei)二(er)級(ji)；2）作用力(li)平(ping)行(xing)於焊(han)縫(feng)長度(du)方向(xiang)的縱(zong)向(xiang)對(dui)接焊縫(feng)應(ying)為(wei)二(er)級(ji)。2.不需要計算疲(pi)勞(lao)的構(gou)件中，凡要求與(yu)母(mu)材(cai)等(deng)強的對(dui)接焊縫(feng)應(ying)予焊(han)透(tou)，其質(zhi)量等(deng)級(ji)當受拉(la)時(shi)應(ying)不低(di)於(yu)二(er)級(ji)，受壓(ya)時(shi)宜為(wei)二(er)級(ji)3.重級(ji)工作制和(he)起重量(liang)Q≥50t吊(diao)車(che)梁的腹(fu)板與(yu)L冀(ji)緣之間(jian)以(yi)及吊(diao)車(che)析(xi)架(jia)上(shang)弦(xian)桿與(yu)節點(dian)板(ban)之(zhi)間(jian)的T形(xing)接頭焊縫(feng)均(jun)要(yao)求焊透(tou)．焊縫(feng)形(xing)式(shi)壹(yi)般為(wei)對(dui)接與(yu)角(jiao)接...

攜(xie)帶(dai)式(shi)X射線機的特(te)點①穿(chuan)透(tou)性(xing)x射線探(tan)傷儀能(neng)穿(chuan)透(tou)壹般(ban)可見光所不能(neng)透(tou)過的物(wu)質(zhi)。其穿(chuan)透(tou)能(neng)力的強弱，與(yu)x射線的波長(chang)以(yi)及被穿(chuan)透(tou)物質(zhi)的密(mi)度(du)和厚(hou)度(du)有(you)關(guan)。x射線波長(chang)愈短(duan)，穿(chuan)透(tou)力就(jiu)愈大;密(mi)度(du)愈低，厚(hou)度(du)愈薄，則(ze)x射線愈易穿(chuan)透(tou)。在(zai)實際(ji)工作中，通過球(qiu)管的電壓(ya)伏(fu)值(zhi)(kV)的大(da)小來確(que)定x射線的穿(chuan)透(tou)性(xing)(即(ji)x射線的質(zhi))，而(er)以(yi)單位時(shi)間(jian)內(nei)通過x射線的電流(mA)與(yu)時(shi)間(jian)的乘積代表(biao)x射線的量(liang)。②電離作用x射線或(huo)其它(ta)射線(例(li)如(ru)γ射線)通過物(wu)質(zhi)被吸收時(shi)，可使組成(cheng)物(wu)質(zhi)的分子分解成(cheng)為(wei)正(zheng)負(fu)離(li)子(zi)，稱為(wei)電離作用，離(li)子(zi)的多(duo)少和物質(zhi)...

X射線晶(jing)體(ti)定(ding)向(xiang)儀涉(she)及的是半導體(ti)加(jia)工技術設備(bei)，特別是用於(yu)對(dui)晶體晶向測定的裝(zhuang)置背景(jing)技術X射線晶(jing)體(ti)定(ding)向(xiang)儀是壹(yi)種(zhong)利用X射線衍(yan)射原理(li)來測定(ding)晶體的晶(jing)面取向。現(xian)有(you)X射線晶(jing)體(ti)定(ding)向(xiang)儀包(bao)括(kuo)有(you)機臺(tai)、在(zai)機臺(tai)內(nei)裝有(you)高(gao)壓(ya)變(bian)壓(ya)器(qi)裝(zhuang)置(zhi)和(he)控制器裝(zhuang)置、在(zai)機臺(tai)上端(duan)設置(zhi)安裝(zhuang)有(you)X射線出(chu)射裝置(zhi)、測(ce)角(jiao)裝(zhuang)置(zhi)、射線接受裝(zhuang)置(zhi)構成(cheng)。X射線晶(jing)體(ti)定(ding)向(xiang)儀壹般(ban)在(zai)機臺(tai)上采(cai)用雙(shuang)向(xiang)X射線出(chu)射裝置(zhi)，對(dui)稱設置(zhi)測角(jiao)裝(zhuang)置(zhi)和(he)射線接受裝(zhuang)置(zhi)，形(xing)成(cheng)雙(shuang)工位的X射線晶(jing)體(ti)定(ding)向(xiang)儀。X射線晶(jing)體(ti)定(ding)向(xiang)儀其測角(jiao)裝(zhuang)置(zhi)上(shang)的工作臺是壹(yi)普通平(ping)臺，將(jiang)晶(jing)體(ti)棒放在(zai)上面進(jin)行(xing)測量(liang)，測量調整並...

射線的種(zhong)類(lei)中易於(yu)穿(chuan)透(tou)物質(zhi)的有(you)X射線、γ射線、中(zhong)子(zi)射線三(san)種(zhong)。這(zhe)三種(zhong)射線都被(bei)用於(yu)無損(sun)檢測，其中X射線和(he)γ射線廣(guang)泛(fan)用於(yu)鍋(guo)爐壓(ya)力(li)容器(qi)焊(han)縫(feng)和其他工業(ye)產(chan)品、結(jie)構材(cai)料的缺陷檢測，而(er)中子(zi)射線僅(jin)用於(yu)壹(yi)些特殊場合(he)。射線檢測主要的應(ying)用是探(tan)側(ce)試(shi)件(jian)內(nei)部的宏(hong)觀(guan)幾(ji)何(he)缺陷(探(tan)傷)。按(an)照(zhao)不(bu)同特(te)征(例如使用的射線種(zhong)類(lei)、記錄(lu)的器(qi)材、工藝和(he)技術特(te)點(dian)等)可將射線檢測分為(wei)許(xu)多(duo)種(zhong)不同(tong)的方法(fa)。射線照(zhao)相(xiang)法是指(zhi)用X射線或(huo)γ射線穿(chuan)透(tou)試件(jian)，以(yi)膠(jiao)片(pian)作為(wei)記(ji)錄(lu)信(xin)息(xi)的器(qi)材的無損(sun)的檢測方法(fa)。該方法(fa)是基(ji)本(ben)的，應(ying)用廣(guang)泛(fan)的壹(yi)種(zhong)射線檢測方法(fa)。X射線...