微(wei)焦(jiao)點(dian)工(gong)業CT是(shi)利用(yong)微(wei)小(xiao)焦點(dian)的X射線(xian)源(yuan)對(dui)工(gong)業品(pin)實(shi)施(shi)斷(duan)層(ceng)掃(sao)描(miao)成像的檢(jian)測裝(zhuang)置，選購時可從下面(mian)幾(ji)個(ge)方面(mian)著(zhe)手考(kao)慮(lv)：明確(que)檢(jian)測目標(biao)：清(qing)晰(xi)界(jie)定要(yao)檢(jian)測的(de)工(gong)業品(pin)類型(xing)，如(ru)電子(zi)芯片、精(jing)密機械件(jian)等(deng)；掌(zhang)握被(bei)檢(jian)品(pin)的外形(xing)尺(chi)寸(cun)、材質密度，小(xiao)尺(chi)寸(cun)物(wu)件可選微(wei)焦(jiao)點(dian)射線(xian)源(yuan)，大(da)尺(chi)寸(cun)、高(gao)密度材質的(de)則(ze)需(xu)要(yao)高(gao)能(neng)量(liang)射線(xian)源(yuan)保(bao)障(zhang)穿(chuan)透(tou)性。同(tong)時，確(que)定(ding)檢(jian)測用(yong)途，是(shi)檢(jian)測裂(lie)縫(feng)、氣泡等(deng)內(nei)部缺(que)陷，還是(shi)做尺(chi)寸(cun)精(jing)度測(ce)量(liang)，前(qian)者(zhe)對(dui)分辨率有基(ji)本要(yao)求，後者(zhe)則(ze)需(xu)要(yao)更高(gao)端精(jing)準的(de)設備。關註(zhu)成(cheng)像性能(neng)：空間分(fen)辨率是(shi)核心(xin)指標(biao)，代表識(shi)別細微(wei)結(jie)構(gou)的能(neng)力(li)，主要由焦點(dian)尺(chi)寸(cun)、...

在(zai)現(xian)代工(gong)業與(yu)科技(ji)蓬(peng)勃(bo)發(fa)展的(de)浪潮中，有(you)壹(yi)種(zhong)默(mo)默(mo)發揮(hui)著關(guan)鍵(jian)作用(yong)卻(que)常(chang)被(bei)忽(hu)視(shi)的技(ji)術力量(liang)——無(wu)損檢(jian)測設(she)備(bei)。它(ta)宛如(ru)壹位(wei)精(jing)準嚴(yan)謹且(qie)技(ji)藝高(gao)超的“工(gong)業醫(yi)生”，無(wu)需(xu)對(dui)被(bei)檢(jian)測對(dui)象造成任何(he)破(po)壞(huai)，便能(neng)洞(dong)察(cha)其內(nei)部隱(yin)藏的秘(mi)密，為產(chan)品(pin)質量(liang)、生(sheng)產(chan)安全(quan)以(yi)及基(ji)礎設施(shi)的(de)穩(wen)定(ding)性(xing)保駕護(hu)航(hang)。無(wu)損檢(jian)測設(she)備(bei)的(de)種類繁(fan)多，每(mei)壹(yi)種都有其工(gong)作原理(li)和(he)適(shi)用(yong)場景。超(chao)聲波檢(jian)測便(bian)是(shi)其中壹(yi)員(yuan)大(da)將(jiang)。它(ta)利用(yong)高(gao)頻聲波在(zai)材料中的(de)傳播(bo)特(te)性來(lai)探測缺(que)陷。當超聲波遇到(dao)不同(tong)介質或(huo)缺陷時，會(hui)發(fa)生(sheng)反(fan)射、折射等(deng)現(xian)象，就像回(hui)聲定位(wei)壹樣(yang)，檢(jian)測儀(yi)接(jie)收這(zhe)些(xie)返回(hui)的信(xin)號(hao)並進行分析(xi)...

微(wei)焦(jiao)點(dian)工(gong)業CT憑借(jie)其微(wei)米(mi)級(ji)分(fen)辨(bian)率和(he)三維成(cheng)像能(neng)力(li)，在(zai)工(gong)業、科研(yan)及文(wen)物(wu)保(bao)護(hu)等(deng)領域有諸(zhu)多(duo)常(chang)見用途，具體如(ru)下：壹、工(gong)業制(zhi)造領域缺陷檢(jian)測：在(zai)汽車制(zhi)造中，可檢(jian)測鑄(zhu)件(jian)、鍛(duan)件(jian)、塑(su)料(liao)件(jian)等(deng)內(nei)部的(de)氣孔、裂紋(wen)、夾雜等(deng)缺(que)陷，精(jing)度可達(da)微(wei)米(mi)級(ji)；在(zai)航(hang)空航(hang)天領域，能(neng)定(ding)量(liang)分(fen)析(xi)渦(wo)輪(lun)葉(ye)片、發(fa)動(dong)機單(dan)晶(jing)葉(ye)片等(deng)關(guan)鍵零(ling)部(bu)件(jian)內(nei)部缺(que)陷的大(da)小(xiao)、位(wei)向，並檢(jian)測微(wei)裂(lie)隙(xi)的(de)動(dong)態(tai)演變(bian)過(guo)程(cheng)，為優(you)化(hua)生產(chan)工(gong)藝提供數(shu)據(ju)支持。尺(chi)寸(cun)測(ce)量(liang)與(yu)逆(ni)向工(gong)程：可對(dui)內(nei)部結(jie)構(gou)復(fu)雜(za)的樣(yang)品(pin)進行高(gao)精(jing)度三(san)維尺(chi)寸(cun)測(ce)量(liang)，誤(wu)差(cha)小(xiao)於5μm；同時，通(tong)過(guo)CT圖(tu)像生成CAD模型(xing)，輔助(zhu)產(chan)品(pin)仿...

工(gong)業CT采(cai)用(yong)優良(liang)的(de)高(gao)頻恒(heng)壓X射線(xian)源(yuan)、數(shu)字(zi)成像探測器(qi)以(yi)及高(gao)精(jing)度機(ji)械檢(jian)測平臺(tai)。不僅(jin)精(jing)準再(zai)現了被(bei)檢(jian)測工(gong)件的(de)CT斷(duan)層(ceng)及三(san)維圖(tu)像，同時擁(yong)有(you)二(er)維實(shi)時成(cheng)像功能(neng)。產(chan)品(pin)具有(you)體積小(xiao)、檢(jian)測速(su)度快(kuai)、圖像清(qing)晰(xi)、檢(jian)測精(jing)準、性(xing)價比(bi)高(gao)等(deng)諸(zhu)多*性(xing)。產(chan)品(pin)廣(guang)泛(fan)應用於航(hang)天、機(ji)械、鑄(zhu)造、IT、汽車等(deng)行業的(de)無(wu)損檢(jian)測和(he)無(wu)損測量(liang)。高(gao)能(neng)工(gong)業CT主要功能(neng)●采(cai)用(yong)錐(zhui)束(shu)CT掃描(miao)和(he)DR實(shi)時成(cheng)像多種檢(jian)測方式(shi)，根據檢(jian)測工(gong)件大(da)小(xiao)，壹次掃描(miao)得到從幾(ji)十層(ceng)到(dao)幾(ji)千(qian)層(ceng)的(de)斷(duan)層(ceng)圖(tu)像。●多種能(neng)量(liang)X射線(xian)源(yuan)，適(shi)用(yong)不同(tong)的(de)檢(jian)測工(gong)件。●成(cheng)像方式(shi)可選擇多種探測器(qi)。●具...

在(zai)現(xian)代科學的(de)眾(zhong)多(duo)精(jing)密儀(yi)器(qi)中，X射線(xian)衍(yan)射儀(yi)猶如(ru)壹位(wei)無(wu)聲的微(wei)觀世界(jie)設備(bei)，悄(qiao)然(ran)揭(jie)開(kai)物(wu)質結(jie)構(gou)深處(chu)的(de)奧秘。它(ta)以(yi)特(te)別的(de)方式(shi)，為我們洞察晶體材料的(de)內(nei)在秩(zhi)序提(ti)供了(le)關(guan)鍵(jian)線(xian)索(suo)。X射線(xian)衍(yan)射儀(yi)的工(gong)作原理(li)，恰(qia)似壹場精(jing)妙的(de)光學與(yu)物理(li)學的(de)協同表演(yan)。X射線(xian)，這(zhe)種具有(you)高(gao)能(neng)量(liang)且(qie)波(bo)長(chang)與(yu)原子(zi)間(jian)距(ju)相當的神(shen)奇(qi)光線(xian)，當(dang)它(ta)穿(chuan)透(tou)晶體樣(yang)品(pin)時，會(hui)與(yu)晶(jing)體中的(de)原子(zi)發(fa)生(sheng)相互作用。由於晶體內(nei)部原子(zi)呈周期(qi)性規(gui)則(ze)排(pai)列(lie)，宛如(ru)壹座精(jing)心(xin)搭建(jian)的(de)微(wei)觀晶格(ge)大(da)廈，X射線(xian)在(zai)這(zhe)座大(da)廈中穿(chuan)梭時，會(hui)在(zai)特(te)定的(de)角度上發生衍射現(xian)象(xiang)。就如(ru)同光線(xian)經過(guo)整(zheng)齊(qi)排(pai)列(lie)的(de)鏡(jing)子(zi)陣列(lie)，會...

工(gong)業CT（ComputedTomography）是(shi)利用(yong)X射線(xian)或(huo)γ射線(xian)對(dui)工(gong)件進行斷(duan)層(ceng)掃(sao)描(miao)的無(wu)損檢(jian)測設(she)備(bei)，廣(guang)泛(fan)應用於航(hang)空航(hang)天、汽車制(zhi)造等(deng)領域。其復(fu)雜(za)的硬件和(he)軟(ruan)件(jian)系統可能(neng)因(yin)長(chang)期(qi)運行、環境(jing)因素(su)或(huo)操(cao)作不當(dang)出(chu)現(xian)故(gu)障，以(yi)下是(shi)常(chang)見故(gu)障及處(chu)理(li)措(cuo)施(shi)：壹(yi)、硬(ying)件系統故(gu)障X射線(xian)源(yuan)故(gu)障表現(xian)：射線(xian)輸出(chu)不穩(wen)定(ding)、劑(ji)量(liang)不足(zu)或無(wu)法(fa)出(chu)束(shu)，導致(zhi)圖像模糊(hu)或(huo)無(wu)數(shu)據(ju)。原因(yin)：高(gao)壓發生(sheng)器(qi)故(gu)障、燈絲老化(hua)、冷(leng)卻(que)系統異(yi)常(chang)（如(ru)散熱(re)油溫(wen)度過(guo)高(gao)）。處理(li)：檢(jian)查高(gao)壓電纜(lan)連接(jie)是(shi)否松動(dong)，更換(huan)老化(hua)燈絲；檢(jian)測冷(leng)卻(que)系統循環流(liu)量(liang)，補(bu)充散熱(re)油或(huo)清(qing)理(li)堵塞(sai)管道...

在現(xian)代制造業中，鑄(zhu)件(jian)作(zuo)為重(zhong)要的(de)部件，其質量(liang)直(zhi)接(jie)關系到(dao)產(chan)品(pin)的性(xing)能(neng)、安全(quan)性(xing)和(he)使(shi)用(yong)壽命(ming)。無(wu)論(lun)是(shi)汽車發(fa)動(dong)機缸體、機床床身，還是(shi)建築用(yong)的管(guan)道(dao)接(jie)頭(tou)，都(dou)離(li)不開(kai)鑄(zhu)件的(de)身影。而(er)要(yao)確(que)保(bao)這(zhe)些(xie)鑄件(jian)的質量(liang)達(da)標(biao)，就不得不提(ti)到(dao)壹個(ge)關鍵(jian)的(de)環節——鑄件(jian)檢(jian)測系統。今天，我們就來(lai)深(shen)入了(le)解壹(yi)下(xia)這(zhe)個在(zai)工(gong)業生(sheng)產(chan)中扮(ban)演(yan)著(zhe)“質檢(jian)衛士(shi)”角色(se)的(de)神(shen)秘系統。鑄件檢(jian)測系統的核心(xin)任務(wu)在(zai)於識(shi)別並篩選出(chu)存(cun)在缺陷或不符合(he)標(biao)準的(de)鑄件產(chan)品(pin)。這(zhe)壹過(guo)程(cheng)看似簡單(dan)，實(shi)則(ze)蘊含(han)了豐(feng)富(fu)的技術細節和(he)復(fu)雜(za)的科學原理(li)。傳統的鑄件檢(jian)測方法(fa)主要依賴人(ren)工(gong)目視(shi)檢(jian)查，工(gong)人(ren)通(tong)...

在(zai)現(xian)代工(gong)業生(sheng)產(chan)和(he)日常(chang)生(sheng)活中，輪(lun)胎作(zuo)為各類(lei)車(che)輛(liang)的關(guan)鍵部件，其質量(liang)至關重(zhong)要。而(er)輪(lun)胎X射線(xian)檢(jian)測技(ji)術，宛如(ru)壹雙洞察(cha)細微(wei)的(de)“慧眼”，在(zai)保障輪(lun)胎品(pin)質方面(mian)發(fa)揮(hui)著(zhe)作(zuo)用。輪(lun)胎X射線(xian)檢(jian)測的(de)原理(li)，是(shi)基於不同(tong)物(wu)質對(dui)X射線(xian)吸(xi)收程度的(de)差(cha)異(yi)。當(dang)X射線(xian)穿(chuan)透(tou)輪(lun)胎時，由於輪(lun)胎內(nei)部各種(zhong)材料的(de)結(jie)構(gou)、密度不同(tong)，對(dui)X射線(xian)的(de)衰(shuai)減(jian)程(cheng)度也(ye)各有(you)區別。通過(guo)精(jing)密的探測器(qi)接(jie)收穿(chuan)透(tou)輪(lun)胎後(hou)的X射線(xian)信(xin)號(hao)，並將(jiang)其轉化(hua)為電(dian)信(xin)號(hao)，再(zai)經過(guo)計(ji)算機處(chu)理(li)與(yu)分(fen)析(xi)，就能(neng)夠清(qing)晰(xi)地(di)呈現出(chu)輪(lun)胎內(nei)部的(de)結(jie)構(gou)圖像，讓那(na)些(xie)隱(yin)藏在內(nei)部的(de)缺(que)陷無(wu)所(suo)遁形(xing)。這(zhe)種檢(jian)測方式(shi)能(neng)夠精(jing)準探...