X射線輻照儀是(shi)壹種(zhong)利(li)用X射線對物(wu)體(ti)進行掃(sao)描的(de)技術(shu)，可以(yi)在無需(xu)拆(chai)卸(xie)的(de)情況下對物(wu)體(ti)進行非(fei)侵(qin)入式(shi)分析(xi)。由於(yu)其高(gao)精(jing)度(du)、高(gao)分辨(bian)率(lv)等(deng)優(you)點，被廣泛應(ying)用(yong)於(yu)醫(yi)學(xue)、生物(wu)、材料(liao)科學(xue)、環境(jing)保護、安(an)防(fang)等(deng)領(ling)域(yu)。本文(wen)將從原(yuan)理、技術(shu)、應(ying)用(yong)等(deng)方(fang)面對相關(guan)知(zhi)識進行探(tan)究。壹(yi)、原理X射(she)線輻照儀是(shi)由X射(she)線源(yuan)、樣(yang)品支架、探測器(qi)和數據采(cai)集等(deng)部(bu)分組(zu)成(cheng)。其中(zhong)，X射(she)線源(yuan)是(shi)最(zui)關(guan)鍵(jian)的(de)部(bu)分。X射(she)線源(yuan)是(shi)由高(gao)壓電(dian)子源(yuan)產生高(gao)速(su)電(dian)子流(liu)，電(dian)子在與(yu)材料(liao)相撞時生成(cheng)X射線，X射線能量大(da)小取(qu)決於(yu)電(dian)子束(shu)的(de)能(neng)量。X射(she)線源(yuan)發射(she)的(de)X射(she)線被樣品(pin)吸收，部(bu)分被散射，...

焊接(jie)是壹(yi)種(zhong)將(jiang)金屬材料(liao)連(lian)接(jie)起來(lai)的(de)常(chang)見方(fang)法，它(ta)能夠使兩個(ge)或多(duo)個(ge)零(ling)部(bu)件(jian)組(zu)成(cheng)壹個(ge)整體(ti)。但是(shi)，在焊接(jie)過程(cheng)中(zhong)會(hui)產生各(ge)種(zhong)缺(que)陷，如(ru)裂(lie)紋(wen)、氣(qi)孔和夾(jia)渣等(deng)。若(ruo)這(zhe)些(xie)缺陷沒(mei)有及時檢(jian)測和(he)處理，將(jiang)會(hui)降低(di)焊接(jie)質量和(he)安(an)全(quan)性，甚至導(dao)致事(shi)故(gu)的(de)發生。因(yin)此，焊(han)接(jie)質量檢(jian)測是(shi)非常必要的(de)。壹(yi)、歷史的(de)焊(han)接(jie)質量檢(jian)測從(cong)過去到現(xian)在，焊接(jie)質量檢(jian)測已(yi)經(jing)有著悠(you)久(jiu)的(de)歷(li)史。在早(zao)期，人(ren)們(men)運(yun)用(yong)簡(jian)單(dan)的(de)方(fang)法來(lai)檢(jian)測焊(han)接(jie)缺陷，如(ru)肉(rou)眼、錘子敲(qiao)擊(ji)和聽(ting)聲(sheng)音(yin)。這(zhe)種(zhong)方(fang)法有時有效，但是(shi)很(hen)不(bu)可靠，容(rong)易(yi)產生誤(wu)判。20世(shi)紀初(chu)，隨(sui)著科(ke)學(xue)技術(shu)的(de)不(bu)斷(duan)發展(zhan)，逐漸(jian)普及。這個(ge)時期，...

作(zuo)為(wei)壹(yi)種(zhong)現(xian)代工(gong)業領(ling)域(yu)中(zhong)常(chang)用(yong)的(de)非(fei)破壞性(xing)檢(jian)測手(shou)段(duan)，X射(she)線無損(sun)探傷(shang)技術(shu)已(yi)經(jing)廣泛應(ying)用(yong)於(yu)各(ge)個(ge)領(ling)域(yu)。它采(cai)用(yong)了(le)壹種(zhong)特殊的(de)X射(she)線裝(zhuang)置(zhi)，在不破壞物(wu)體(ti)的(de)情況下，通(tong)過掃描目標(biao)物(wu)體(ti)並記錄(lu)X射線的(de)穿(chuan)透圖像(xiang)，從(cong)而(er)檢(jian)測出(chu)物(wu)體(ti)內部(bu)的(de)缺(que)陷和(he)瑕疵(ci)。這(zhe)種(zhong)技術(shu)具(ju)有高(gao)效、精(jing)準、可靠的(de)優(you)點，對於(yu)提高(gao)工(gong)業品(pin)質、保障生命(ming)財(cai)產安(an)全(quan)、降低環(huan)境汙染(ran)和(he)提(ti)高(gao)經(jing)濟效益，都(dou)發揮了(le)重(zhong)要的(de)作(zuo)用。壹、無損(sun)探傷(shang)技術(shu)的(de)應(ying)用(yong)X射線無損(sun)探傷(shang)技術(shu)是用(yong)於(yu)識別(bie)金屬、非金屬以(yi)及合金結構中(zhong)內(nei)部(bu)缺陷和(he)瑕疵(ci)的(de)壹(yi)種(zhong)技術(shu)。它可用於(yu)探測(ce)材料(liao)內部(bu)的(de)裂(lie)紋(wen)、氣(qi)孔、夾雜、異物(wu)等(deng)...

X射線晶體(ti)定向(xiang)儀是壹種(zhong)典(dian)型(xing)的(de)實驗(yan)儀器(qi)，用於(yu)研究(jiu)晶體(ti)的(de)結構和性(xing)質(zhi)。它可以(yi)為(wei)科(ke)學(xue)家(jia)和研(yan)究(jiu)人(ren)員提供(gong)精(jing)確(que)的(de)信息，並且可以(yi)用於(yu)識別(bie)和分析(xi)各(ge)種(zhong)物(wu)種(zhong)。X射(she)線晶體(ti)定向(xiang)儀是通(tong)過將X射線通(tong)過晶體(ti)來研(yan)究晶體(ti)的(de)結構。X射線是高(gao)能(neng)量的(de)電(dian)磁輻(fu)射，當這些(xie)射線通(tong)過物(wu)質時，它們(men)會(hui)被物(wu)質吸收或散射。晶體(ti)是壹(yi)種(zhong)高(gao)度(du)有序的(de)結構，每個(ge)晶體(ti)都(dou)由(you)壹組(zu)原(yuan)子或(huo)分子按確(que)定的(de)規(gui)律(lv)排(pai)列(lie)成(cheng)整齊的(de)、有序的(de)、周(zhou)期性(xing)的(de)結構。X射線晶體(ti)定向(xiang)儀的(de)原(yuan)理是(shi)通(tong)過將X射線通(tong)過樣品(通(tong)常是(shi)晶體(ti))並將它們(men)收集到檢(jian)測器(qi)中(zhong)來(lai)測(ce)定樣(yang)品(pin)內(nei)的(de)原(yuan)子排(pai)列(lie)。X射線晶體(ti)定...

近年來(lai)，隨(sui)著汽(qi)車(che)技術(shu)的(de)不(bu)斷(duan)升(sheng)級，輪轂(gu)作(zuo)為(wei)汽(qi)車(che)的(de)重(zhong)要組(zu)成(cheng)部(bu)分，也(ye)在不斷(duan)叠代更(geng)新。為(wei)了(le)保證汽車(che)行駛(shi)過程(cheng)中(zhong)的(de)安(an)全(quan)性和穩(wen)定性(xing)，輪轂(gu)的(de)質(zhi)量也(ye)愈加(jia)受(shou)到(dao)重(zhong)視。其(qi)中(zhong)，輪轂(gu)X射(she)線檢(jian)測技術(shu)成(cheng)為(wei)壹(yi)個(ge)非常(chang)重(zhong)要的(de)方(fang)法。壹(yi)般來(lai)說，輪轂(gu)X射(she)線檢(jian)測主(zhu)要是通(tong)過放射性元(yuan)素降低(di)級(ji)聯到輪轂(gu)上的(de)X射(she)線，使輪轂(gu)表面(mian)的(de)缺(que)陷顯(xian)現(xian)出來(lai)，檢(jian)測員(yuan)可以(yi)觀(guan)察(cha)這些(xie)缺陷並及時處理。通(tong)過這種(zhong)方(fang)法，內(nei)部(bu)缺陷的(de)檢(jian)測率(lv)被大大(da)提高(gao)。說到X射(she)線檢(jian)測，大(da)多數人的(de)第(di)壹(yi)反(fan)應(ying)就(jiu)是(shi)安(an)全(quan)問(wen)題(ti)。確(que)實，X射(she)線等(deng)電(dian)離輻射(she)在高(gao)劑(ji)量情況下有明(ming)顯(xian)的(de)危(wei)害性。但是(shi)，在輪轂(gu)X射(she)...

X射線衍(yan)射(she)儀是利用(yong)衍(yan)射(she)原理，精(jing)確(que)測定物(wu)質的(de)晶體(ti)結構，織構及應(ying)力，精(jing)確(que)的(de)進行物(wu)相分析(xi)，定性(xing)分析(xi)，定量分析(xi)。廣泛應(ying)用(yong)於(yu)冶金，石油(you)，化工(gong)，科(ke)研(yan)，航空航天，教學(xue)，材料(liao)生產等(deng)領(ling)域(yu)。x射線衍(yan)射(she)儀是壹種(zhong)用(yong)於(yu)分析(xi)化合物(wu)和晶體(ti)結構的(de)分析(xi)工具(ju)，它能(neng)夠通(tong)過測量材料(liao)對x射線的(de)散射來(lai)確(que)定其(qi)晶體(ti)結構和成(cheng)分。x射(she)線衍(yan)射(she)儀的(de)精(jing)度(du)和(he)可靠性(xing)受(shou)多(duo)種(zhong)因(yin)素的(de)影響，包(bao)括(kuo)以(yi)下幾(ji)個(ge)方(fang)面：1.x射(she)線源(yuan)的(de)類型(xing)和質量：x射(she)線源(yuan)通(tong)常可以(yi)是吊繩式(shi)x射(she)線發射(she)管(guan)或旋(xuan)轉陰極(ji)x射(she)線發生器(qi)。各(ge)種(zhong)x射(she)線源(yuan)有不同的(de)特點，包(bao)括(kuo)功率(lv)、能(neng)量和(he)輻射(she)模式(shi)等(deng)...

無損(sun)檢(jian)測設備是壹種(zhong)各(ge)行各(ge)業都(dou)需(xu)要使(shi)用(yong)的(de)非(fei)破壞性(xing)檢(jian)測技術(shu)。它能(neng)夠對物(wu)體(ti)進行檢(jian)測，不(bu)影響它們(men)的(de)完(wan)整(zheng)性和功能(neng)，也(ye)不需(xu)要對它們(men)進行開放或(huo)破(po)壞性(xing)測(ce)試。這(zhe)種(zhong)技術(shu)已(yi)獲(huo)得(de)廣泛應(ying)用(yong)，包(bao)括(kuo)航(hang)空、航天、能源(yuan)、建(jian)築(zhu)和(he)制(zhi)造(zao)業等(deng)領(ling)域(yu)。本文(wen)將介紹(shao)什(shen)麽(me)是無損(sun)檢(jian)測設備，不同種(zhong)類的(de)無(wu)損(sun)檢(jian)測設備以(yi)及廣泛使用這(zhe)種(zhong)技術(shu)的(de)領(ling)域(yu)。無損(sun)檢(jian)測設備是壹種(zhong)采(cai)用(yong)光(guang)學(xue)、聲學(xue)、電(dian)磁學(xue)等(deng)原(yuan)理，利(li)用(yong)信號的(de)反(fan)射、傳播、吸收等(deng)來(lai)檢(jian)測材料(liao)內部(bu)外部(bu)的(de)缺(que)陷和(he)不均(jun)勻性。根據檢(jian)測方(fang)法的(de)不(bu)同，無損(sun)檢(jian)測設備可以(yi)分為(wei)許(xu)多不同種(zhong)類。例如，超(chao)聲(sheng)波(bo)檢(jian)測質(zhi)量損(sun)失可以(yi)...

隨著科(ke)技的(de)不(bu)斷(duan)發展(zhan)，電(dian)子元(yuan)器(qi)件(jian)已(yi)經(jing)成(cheng)為(wei)了(le)現(xian)代電(dian)子技術(shu)的(de)基(ji)礎。為(wei)了(le)確(que)保電(dian)子設備的(de)可靠性(xing)和(he)穩(wen)定性(xing)，需(xu)要對電(dian)子元(yuan)器(qi)件(jian)進行各(ge)種(zhong)檢(jian)測。本文(wen)將介紹(shao)電(dian)子元(yuan)器(qi)件(jian)檢(jian)測的(de)方(fang)法和(he)技術(shu)。壹、外(wai)觀(guan)檢(jian)查外(wai)觀(guan)檢(jian)查是(shi)電(dian)子元(yuan)器(qi)件(jian)檢(jian)測的(de)壹(yi)步。通(tong)過觀(guan)察(cha)元器(qi)件(jian)的(de)外(wai)觀(guan)，可以(yi)初步(bu)判斷(duan)其(qi)品質和與(yu)規(gui)格是否(fou)符合。外(wai)觀(guan)檢(jian)查包(bao)括(kuo)對象的(de)封(feng)裝(zhuang)形(xing)式(shi)、腳(jiao)位(wei)形式(shi)和(he)排(pai)列(lie)方(fang)式(shi)等(deng)方(fang)面。例如檢(jian)查電(dian)容的(de)封(feng)裝(zhuang)是(shi)否完(wan)整(zheng)、引腳是(shi)否(fou)損(sun)壞，晶體(ti)管(guan)外殼(ke)表面(mian)是否(fou)有損(sun)傷等(deng)等(deng)。二(er)、電(dian)參數測試電(dian)參數測試是電(dian)子元(yuan)器(qi)件(jian)檢(jian)測的(de)重(zhong)要環(huan)節。電(dian)子元(yuan)器(qi)件(jian)的(de)性(xing)能主要表現(xian)在其電(dian)參數上，...